[發明專利]一種預測儲層裂縫發育參數的方法有效
| 申請號: | 201310631520.8 | 申請日: | 2013-12-02 |
| 公開(公告)號: | CN104678434A | 公開(公告)日: | 2015-06-03 |
| 發明(設計)人: | 胡偉光;謝紅斌;印峰;何鑫;楊鴻飛;趙卓男;肖偉 | 申請(專利權)人: | 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司勘探南方分公司 |
| 主分類號: | G01V1/28 | 分類號: | G01V1/28 |
| 代理公司: | 北京思創畢升專利事務所 11218 | 代理人: | 郭韞 |
| 地址: | 100728 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 預測 裂縫 發育 參數 方法 | ||
技術領域
本發明屬于石油地球物理勘探領域,具體涉及一種預測儲層裂縫發育參數的方法,屬于地震資料解釋范疇,是一種利用各個方位角地震數據的目的層的雙程走時值來計算儲層的裂縫發育參數的方法。
背景技術
中國南方探區的碳酸鹽巖裂縫型儲層相對發育,具體表現為在四川盆地內,鉆遇了大量的裂縫型氣藏,并獲得工業氣流。這些裂縫型碳酸鹽巖儲層基本上是受到構造應力的作用下形成,具有非常強的非均質性,平面上呈不均勻分布,勘探開發難度很大,如何識別出裂縫型儲層是地球物理工作的重點之一。所以,對該類型儲層的預測及技術探索具有很重要的意義。
根據研究發現地下目的層在發育裂縫的狀態下,地震P波振幅、雙程走時值通過該裂縫體時具有隨方位角變化的特點。例如,Xiangyang?Li在1999年《Geophysics》上發表的《Fracture?detection?using?azimuthal?variation?of?P-wave?moveout?from?orthogonal?seismic?survey?lines》。研究資料表明:①裂縫體頂層的反射P波雙程走時不隨方位角變化,振幅隨方位角有微弱的變化,對各向異性反映不明顯。②裂縫體底層的反射P波表現出很強的方位各向異性,P波反射振幅及雙程走時與測線和裂縫方位有關,測線與裂縫平行時振幅最強、雙程走時最短;隨著測線與裂縫夾角的增大,振幅逐漸減弱、雙程走時逐漸變長;至測線與裂縫方向垂直時,振幅最弱,雙程走時最長。由此可見,P波在通過裂縫體時表現出很強的方位各向異性特征,裂縫對P波響應的影響程度取決于裂縫方位與測線之間的夾角及地下一定開啟裂縫系統的規模,該現象尤其是對底層的走時影響較大。
現有的常規裂縫型儲層預測的技術方法,主要是與疊后及疊前有關的相關技術。如相干技術、曲率、P波各向異性分析技術、道集時差計算等來實現預測。一些專利如發明《裂縫預測方法和裝置》(申請號:201010205983.4)的專利公開了一種裂縫預測方法和裝置,主要是以目的層為拾取中心,利用拾取時窗獲取每個地震道的反射振幅;利用獲取的方位角和反射振幅進行橢圓擬合,以確定裂縫方向和裂縫密度;發明《一種儲層裂縫的確定方法》(申請號:201210242061.X)的專利公開了一種儲層裂縫的確定方法,包括:根據實際地震資料類型對實際地震資料進行多種方法裂縫預測分析,獲取儲層的裂縫屬性及分布;利用實際地質參數進行正演及FMI資料,比對儲層裂縫分布,獲取匹配度及吻合度;根據匹配度及吻合度從多種裂縫預測分析方法中優選選取一種最佳裂縫分析方法。根據優選出的裂縫分析方法,解釋實際地震資料,確定儲層裂縫。但是,這些常規的技術方法實現起來難度相當大,操作起來易受各種不利因素影響,主要存在如下幾個問題:
(1)利用井資料進行裂縫預測的約束,在遠離井的區域預測效果往往不好。
(2)利用振幅、頻率等屬性進行橢圓擬合計算裂縫發育方向及強度,預測結果往往差異很大,難于對這些技術方法進行取舍及影響成果的判斷。
(3)對微型裂縫發育參數的評價,常規技術方法往往難于準確描述。
發明內容
本發明的目的在于解決上述現有技術中存在的難題,提供一種預測儲層裂縫發育參數的方法,采用相對簡單的技術流程來解決對裂縫型儲層的識別,更為有效地對該類型儲層進行預測。
本發明是通過以下技術方案實現的:
一種預測儲層裂縫發育參數的方法,包括:
(1)輸入地震數據;
(2)利用不同方位角的地震數據提取目的層雙程走時值,并進行歸一化處理,得到經歸一化處理后的各個目的層的雙程走時值;
(3)對設定網格上各點分別生成地震玫瑰圖和綜合裂縫發育強度平面圖,(一方面是經橢圓擬合計算形成每個網格點上的地震玫瑰圖,另一方面是利用網格點上所計算的離散系數值,再經插值計算后得到綜合裂縫發育強度平面圖)將此兩圖疊合后進行顯示,獲得裂縫參數平面圖。
所述步驟(1)中輸入的地震數據為經動校正后形成的CDP道集數據。
所述步驟(2)包括以下步驟:
(21)、根據地震資料及實際情況,對處理后的CDP道集數據進行分方位角、入射角范圍限定的疊加及偏移處理,得到各個分方位角偏移數據體;
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