[發(fā)明專利]通過帶為7600-9300nm的紅外測(cè)溫濾光片有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310631464.8 | 申請(qǐng)日: | 2013-11-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103713345A | 公開(公告)日: | 2014-04-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 呂晶;王繼平;胡偉琴 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 杭州麥樂克電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G02B5/20 | 分類號(hào): | G02B5/20;G01J5/08 |
| 代理公司: | 杭州斯可睿專利事務(wù)所有限公司 33241 | 代理人: | 周豪靖 |
| 地址: | 311188 浙江省杭州市*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 通過 7600 9300 nm 紅外 測(cè)溫 濾光 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及紅外濾光片領(lǐng)域,尤其是一種通過帶為7600-9300nm的紅外測(cè)溫濾光片。?
背景技術(shù)
紅外測(cè)溫儀由光學(xué)系統(tǒng)、探測(cè)器、信號(hào)放大器及信號(hào)處理、顯示輸出等部分組成。光學(xué)系統(tǒng)匯聚其視場(chǎng)內(nèi)的目標(biāo)紅外能量(熱量),視場(chǎng)的大小由測(cè)溫儀的光學(xué)零件及其位置確定。紅外能量聚焦在探測(cè)器上并轉(zhuǎn)變?yōu)橄鄳?yīng)的電信號(hào)。該信號(hào)經(jīng)過放大器和信號(hào)處理電路,并按照儀器內(nèi)的算法和目標(biāo)發(fā)射率校正后轉(zhuǎn)變?yōu)楸粶y(cè)目標(biāo)的溫度值。?
紅外測(cè)溫儀的探測(cè)器是實(shí)現(xiàn)紅外能量(熱能)轉(zhuǎn)換電信號(hào)的關(guān)鍵,由于各種生物所發(fā)出來的紅外能量(熱量)是不同的,所以在日常使用中為了觀察某種特定生物的溫度值,人們往往會(huì)在探測(cè)器中添加紅外濾光片,通過紅外濾光片可以使探測(cè)器只接受特定波段的紅外能量,保證紅外測(cè)溫儀的測(cè)溫結(jié)果,用于測(cè)溫和成像。?
但是,目前的通過帶為7600-9300nm的紅外測(cè)溫濾光片,其信噪比低,精度差,不能滿足市場(chǎng)發(fā)展的需要。?
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是為了解決上述技術(shù)的不足而提供一種測(cè)試精度高、能極大提高信噪比的通過帶為7600-9300nm的紅外測(cè)溫濾光片。?
為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明所設(shè)計(jì)的通過帶為7600-9300nm的紅外測(cè)溫濾光片,包括以Ge為原材料的基板,以Ge、ZnS為第一鍍膜層和以Ge、ZnS為第二鍍膜層,且所述基板位于第一鍍膜層和第二鍍膜層之間,所述第一鍍膜層由內(nèi)向外依次排列包含有:192nm厚度的Ge層、272nm厚度的ZnS層、144nm厚度的Ge層、270nm厚度的ZnS層、137nm厚度的Ge層、202nm厚度的ZnS層、101nm厚度的Ge層、241nm厚度的ZnS層、137nm厚度的Ge層、294nm厚度的ZnS層、173nm厚度的Ge層、450nm厚度的ZnS層、173nm厚度的Ge層、323nm厚度的ZnS層、165nm厚度的Ge層、318nm厚度的ZnS層、180nm厚度的Ge層、420nm厚度的ZnS層、229nm厚度的Ge層、452nm厚度的ZnS層、336nm厚度的Ge層、309nm厚度的ZnS層、249nm厚度的Ge層、365nm厚度的ZnS層、?322nm厚度的Ge層、353nm厚度的ZnS層、357nm厚度的Ge層、354nm厚度的ZnS層、162nm厚度的Ge層、690nm厚度的ZnS層、239nm厚度的Ge層、627nm厚度的ZnS層、346nm厚度的Ge層、679nm厚度的ZnS層、356nm厚度的Ge層、631nm厚度的ZnS層、359nm厚度的Ge層、549nm厚度的ZnS層、415nm厚度的Ge層、877nm厚度的ZnS層、165nm厚度的Ge層、740nm厚度的ZnS層、461nm厚度的Ge層和1132nm厚度的ZnS層;所述第二鍍膜層由內(nèi)向外依次排列包含有:699nm厚度的Ge層、440nm厚度的ZnS層、125nm厚度的Ge層、1079nm厚度的ZnS層、495nm厚度的Ge層、777nm厚度的ZnS層、235nm厚度的Ge層、573nm厚度的ZnS層、370nm厚度的Ge層、842nm厚度的ZnS層、499nm厚度的Ge層、1798nm厚度的ZnS層、675nm厚度的Ge層、1104nm厚度的ZnS層、605nm厚度的Ge層、1653nm厚度的ZnS層、624nm厚度的Ge層、1140nm厚度的ZnS層、653nm厚度的Ge層、1663nm厚度的ZnS層、582nm厚度的Ge層、1079nm厚度的ZnS層、839nm厚度的Ge層和530nm厚度的ZnS層。?
上述各材料對(duì)應(yīng)的厚度,其允許在公差范圍內(nèi)變化,其變化的范圍屬于本專利保護(hù)的范圍,為等同關(guān)系。通常厚度的公差在10nm左右。?
本發(fā)明所得到的通過帶為7600-9300nm的紅外測(cè)溫濾光片,其在溫度測(cè)量過程中,可大大的提高信噪比,提高測(cè)試精準(zhǔn)度。該濾光片50%Cut?on=7.6±0.05um,50%Cut?off=9.3±0.05um;1500~7100nm、9800~14000nm?T≤3%;8000~9000nm?T≥88%、7700~9200nm?Tavg≥90%。?
附圖說明
圖1是實(shí)施例整體結(jié)構(gòu)示意圖;?
圖2是實(shí)施例提供的紅外光譜透過率實(shí)測(cè)曲線圖。?
具體實(shí)施方式
下面通過實(shí)施例結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的描述。?
實(shí)施例1:?
如圖1、圖2所示,本實(shí)施例描述的通過帶為7600-9300nm的紅外測(cè)溫濾光片,包括以Ge為原材料的基板2,以Ge、ZnS為第一鍍膜層1和以Ge、ZnS為第二鍍膜層3,且所述基板2位于第一鍍膜層1和第二鍍膜層3之間,所述第一鍍膜層1由內(nèi)向外依次排列包含有:192nm厚度的Ge層、272nm厚度的ZnS層、144nm厚度的Ge層、270nm厚?度的ZnS層、137nm厚度的Ge層、202nm厚度的ZnS層、101nm厚度的Ge層、241nm厚度的ZnS層、137nm厚度的Ge層、294nm厚度的ZnS層、173nm厚度的Ge層、450nm厚度的ZnS層、173nm厚度的Ge層、323nm厚度的ZnS層、165nm厚度的Ge層、318nm厚度的ZnS層、180nm厚度的Ge層、420nm厚度的ZnS層、229nm厚度的Ge層、452nm厚度的ZnS層、336nm厚度的Ge層、309nm厚度的ZnS層、249nm厚度的Ge層、365nm厚度的ZnS層、322nm厚度的Ge層、353nm厚度的ZnS層、357nm厚度的Ge層、354nm厚度的ZnS層、162nm厚度的Ge層、690nm厚度的ZnS層、239nm厚度的Ge層、627nm厚度的ZnS層、346nm厚度的Ge層、679nm厚度的ZnS層、356nm厚度的Ge層、631nm厚度的ZnS層、359nm厚度的Ge層、549nm厚度的ZnS層、415nm厚度的Ge層、877nm厚度的ZnS層、165nm厚度的Ge層、740nm厚度的ZnS層、461nm厚度的Ge層和1132nm厚度的ZnS層;所述第二鍍膜層3由內(nèi)向外依次排列包含有:699nm厚度的Ge層、440nm厚度的ZnS層、125nm厚度的Ge層、1079nm厚度的ZnS層、495nm厚度的Ge層、777nm厚度的ZnS層、235nm厚度的Ge層、573nm厚度的ZnS層、370nm厚度的Ge層、842nm厚度的ZnS層、499nm厚度的Ge層、1798nm厚度的ZnS層、675nm厚度的Ge層、1104nm厚度的ZnS層、605nm厚度的Ge層、1653nm厚度的ZnS層、624nm厚度的Ge層、1140nm厚度的ZnS層、653nm厚度的Ge層、1663nm厚度的ZnS層、582nm厚度的Ge層、1079nm厚度的ZnS層、839nm厚度的Ge層和530nm厚度的ZnS層。?
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于杭州麥樂克電子科技有限公司,未經(jīng)杭州麥樂克電子科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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