[發明專利]壓電懸臂梁傳感器及其制造方法在審
| 申請號: | 201310630291.8 | 申請日: | 2013-11-29 |
| 公開(公告)號: | CN103594617A | 公開(公告)日: | 2014-02-19 |
| 發明(設計)人: | 楊冰 | 申請(專利權)人: | 上海集成電路研發中心有限公司 |
| 主分類號: | H01L41/332 | 分類號: | H01L41/332;H01L41/113 |
| 代理公司: | 上海天辰知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 吳世華;林彥之 |
| 地址: | 201210 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 壓電 懸臂梁 傳感器 及其 制造 方法 | ||
1.一種壓電懸臂梁傳感器的制造方法,其特征在于,包括以下步驟:
提供一SOI襯底,其包括襯底硅層,埋氧化層以及頂層硅層;所述SOI襯底具有與懸臂梁結構相對應的懸臂梁區域;
在所述懸臂梁區域上依次形成下電極、壓電薄膜和上電極;
沿所述懸臂梁區域邊緣依次刻蝕所述頂層硅層、所述埋氧化層和所述襯底硅層,形成底部延伸至所述襯底硅層的溝槽;
在上述結構上沉積隔離層;
去除所述溝槽底部的隔離層并露出所述襯底硅層,以形成所述懸臂梁結構的釋放窗口;以及
通過所述釋放窗口進行釋放工藝,刻蝕所述懸臂梁區域下方的所述襯底硅層,以形成所述懸臂梁結構。
2.根據權利要求1所述的壓電懸臂梁傳感器的制造方法,其特征在于,在所述懸臂梁區域上依次形成上電極、壓電薄膜和上電極的步驟包括:
通過光刻膠剝離工藝在所述懸臂梁區域上形成Pt/Ti下電極;
制備PZT壓電薄膜,并對其圖形化;以及
通過光刻膠剝離工藝在所述圖形化的PZT壓電薄膜上形成Pt/Ti上電極。
3.根據權利要求2所述的壓電懸臂梁傳感器的制造方法,其特征在于,通過光刻膠剝離工藝在所述懸臂梁區域上形成Pt/Ti下電極的步驟包括:
在所述頂層硅層上涂覆光刻膠,經曝光顯影去除所述懸臂梁區域上方的所述光刻膠;
淀積Pt/Ti薄膜;以及
將上述結構浸泡于剝離液中進行光刻膠剝離,以在所述懸臂梁區域上形成所述Pt/Ti下電極。
4.根據權利要求2所述的壓電懸臂梁傳感器的制造方法,其特征在于,通過光刻膠剝離工藝在所述壓電薄膜上形成Pt/Ti上電極的步驟包括:
在上述結構上涂覆光刻膠,經曝光顯影去除所述圖形化的PZT壓電薄膜上方的所述光刻膠;
淀積Pt/Ti薄膜;以及
將上述結構浸泡于剝離液中進行光刻膠剝離,以在所述圖形化的PZT壓電薄膜上形成所述Pt/Ti上電極。
5.根據權利要求2所述的壓電懸臂梁傳感器的制造方法,其特征在于,所述PZT壓電薄膜通過濺射法,溶膠-凝膠法,金屬有機化合物熱分解法,金屬有機化學氣相沉積法或脈沖激光沉積法制備而成。
6.根據權利要求1所述的壓電懸臂梁傳感器的制造方法,其特征在于,
通過干法刻蝕工藝沿所述懸臂梁區域邊緣依次刻蝕所述頂層硅層、所述埋氧化層和所述襯底硅層;
通過干法刻蝕工藝去除所述溝槽底部的隔離層并露出所述襯底硅層。
7.根據權利要求1所述的壓電懸臂梁傳感器的制造方法,其特征在于,所述釋放工藝為各向同性濕法刻蝕工藝。
8.根據權利要求1所述的壓電懸臂梁傳感器的制造方法,其特征在于,所述隔離層為SiN層,其通過等離子體增強化學氣相沉積法沉積而成,厚度為0.05微米~0.1微米。
9.根據權利要求1所述的壓電懸臂梁傳感器的制造方法,其特征在于,所述Pt/Ti薄膜中Pt膜的厚度為0.05微米~0.1微米,Ti膜的厚度為0.01微米~0.02微米。
10.根據權利要求1~9任一項所述的制造方法所制造的壓電懸臂梁傳感器。
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