[發(fā)明專利]一種針對(duì)繼電保護(hù)消缺步驟的優(yōu)化方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310629678.1
• 申請(qǐng)日: 2013-11-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103679547B
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-02-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 琚軍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 國(guó)家電網(wǎng)公司;國(guó)網(wǎng)浙江省電力公司衢州供電公司
• 主分類號(hào): G06Q50/06
• 分類號(hào): G06Q50/06
• 代理公司: 杭州九洲專利事務(wù)所有限公司33101
• 代理人: 翁霽明

1.一種針對(duì)繼電保護(hù)消缺步驟的優(yōu)化方法，其特征在于該優(yōu)化方法包括：

1）首先確定缺陷所對(duì)應(yīng)的待檢修部位，若k個(gè)部位的單一或并發(fā)故障都可能導(dǎo)致某缺陷，將這k個(gè)部位表示為B₁、B₂…B_k；

2）為確定這k個(gè)部位檢修的先后順序，將影響檢修優(yōu)先次序的因素分為以下三個(gè)方面：該部位發(fā)生故障的頻率、即“故障頻度”（A₁），該部位正常運(yùn)行受外界環(huán)境影響的程度、即“環(huán)境影響”（A₂），對(duì)該部位進(jìn)行檢修所需要的時(shí)間、即“檢修時(shí)間”（A₃），其中，在該缺陷中發(fā)生故障頻率高的部位、受外界環(huán)境影響程度大的部位以及所需檢修時(shí)間短的部位應(yīng)該獲得較高的檢修優(yōu)先級(jí)權(quán)重排序。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的針對(duì)繼電保護(hù)消缺步驟的優(yōu)化方法，其特征在于所述的檢修優(yōu)先級(jí)權(quán)重排序，主要是運(yùn)用層次分析法，通過(guò)計(jì)算得到各待檢修部位的優(yōu)先級(jí)權(quán)重排序，具體包括以下步驟：

a對(duì)所有k個(gè)部位在“故障頻度”（A₁）方面進(jìn)行兩兩對(duì)比，得到該因素下B_i相對(duì)于B_j的對(duì)比數(shù)據(jù)x_ij（i,j=1,2,…,k且i≠j）：若在A₁方面部位B_i比部位B_j檢修優(yōu)先級(jí)更高，則x_ij>1，且x_ij的值越大表示部位B_i與部位B_j的優(yōu)先級(jí)程度相差越大；若在A₁方面部位B_i與部位B_j優(yōu)先級(jí)相同，則x_ij=1；若在A₁方面部位B_j比部位B_i檢修優(yōu)先級(jí)更高，則x_ji>1，對(duì)所有的i,j，有x_ij=1x_ji；用同樣方法得到k個(gè)部位在A₂、A₃方面的兩兩對(duì)比數(shù)據(jù)y_ij，z_ij；

b將x_ij，y_ij，z_ij組成A₁、A₂、A₃對(duì)各部位的判斷矩陣：

分別計(jì)算得到X、Y、Z的最大特征根并計(jì)算其所對(duì)應(yīng)的特征向量ξ⁽¹⁾，ξ⁽²⁾，ξ⁽³⁾：

ξ(1)=(ξ1(1),ξ2(1),···,ξk(1)),]]>

ξ(2)=(ξ1(2),ξ2(2),···,ξk(2)),]]>

ξ(3)=(ξ1(3),ξ2(2),···,ξk(3)),]]>

作歸一化處理，得到A₁、A₂、A₃所分別對(duì)應(yīng)的B₁、B₂…B_k等各部位的權(quán)重向量

WA1=(wB1(1),wB2(1)···wBk(1))T]]>

WA2=(wB1(2),wB2(2)···wBk(2))T]]>

WA3=(wB1(3),wB2(3)···wBk(3))T]]>

其中wBi(j)=ξi(i)/Σm=1kξm(j),i=1,2,···,k,j=1,2,3;]]>

c由于具體地區(qū)以及實(shí)際使用情況的差異，需確定各部位檢修排序的決策過(guò)程中A₁，A₂，A₃三因素的相對(duì)重要程度；再次使用步驟(b)所示方法，得到A₁，A₂，A₃重要程度的兩兩對(duì)比數(shù)據(jù)p_ij（i,j=1,2,3且i≠j）并建立相應(yīng)的判斷矩陣P：

P=1p12p13p211p23p31p321]]>

并使用上一步同樣的方法得到A₁、A₂、A₃對(duì)應(yīng)的權(quán)重向量W_A：

WA=(wA1,wA2,wA3)T]]>

d根據(jù)以下公式計(jì)算出B₁、B₂…B_k各部位的最終權(quán)重向量W：

W=WA1WA2WA#WA=w1w2···wkT]]>

其中w_i（i=1,2,L,k）代表部位B_i的最終權(quán)重，權(quán)重越大則表示該部位的檢修優(yōu)先級(jí)越高，各部位最終權(quán)重由大到小的順序即為本方法得到的消缺最終優(yōu)化排序。