[發明專利]具有耦合側面屏蔽的磁性元件有效
| 申請號: | 201310628907.8 | 申請日: | 2013-11-29 |
| 公開(公告)號: | CN103854666B | 公開(公告)日: | 2017-09-15 |
| 發明(設計)人: | S·E·麥肯雷;譚利文;E·W·辛格爾頓;M·S·U·帕特瓦瑞;V·B·薩波日尼科夫 | 申請(專利權)人: | 希捷科技有限公司 |
| 主分類號: | G11B5/11 | 分類號: | G11B5/11 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司31100 | 代理人: | 何焜 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 耦合 側面 屏蔽 磁性 元件 | ||
1.一種磁性元件,包括:
磁讀取器,所述磁讀取器接觸頂部屏蔽并與空氣承載表面(ABS)上的側面屏蔽分離,所述頂部屏蔽包括被形成第一合成反鐵磁體的第一耦合層分開的第一和第二鐵磁層,所述側面屏蔽經過所述頂部屏蔽的形成第二合成反鐵磁體的第二耦合層與所述第二鐵磁層反鐵磁性地耦合到所述頂部屏蔽,所述第一和第二鐵磁層具有不同的厚度以對所述第一和第二合成反鐵磁體提供不同的磁場強度。
2.如權利要求1所述的磁性元件,其特征在于,所述第一合成反鐵磁體包括釘扎層、所述第一耦合層、以及所述第一和第二鐵磁層。
3.如權利要求1所述的磁性元件,其特征在于,所述第一和第二耦合層包括共同材料。
4.如權利要求3所述的磁性元件,其特征在于,所述第二耦合層包含過渡金屬。
5.如權利要求3所述的磁性元件,其特征在于,所述第二耦合層連續地延伸以接觸側面屏蔽和磁讀取器。
6.如權利要求1所述的磁性元件,其特征在于,側面屏蔽包括單層鐵磁性材料。
7.如權利要求1所述的磁性元件,其特征在于,頂部屏蔽包括接觸第一鐵磁層的釘扎層。
8.如權利要求7所述的磁性元件,其特征在于,釘扎層包括反鐵磁體。
9.如權利要求1所述的磁性元件,其特征在于,側面屏蔽包括釘扎到預定的磁取向的軟磁材料。
10.如權利要求1所述的磁性元件,其特征在于,磁讀取器包括沒有固定基準結構的三層磁性自由層的層疊。
11.如權利要求1所述的磁性元件,其特征在于,磁讀取器包括具有固定和自由磁性層的磁阻層疊。
12.一種數據讀取器,包括:
磁讀取器,安置于空氣承載表面(ABS)上的第一和第二側面屏蔽之間、并且與第一和第二側面屏蔽分離;以及
頂部屏蔽,所述頂部屏蔽包括被形成第一合成反鐵磁體的第一耦合層分開的第一和第二鐵磁層,所述頂部屏蔽接觸所述第一和第二側面屏蔽和所述磁讀取器,每個側面屏蔽通過經所述頂部屏蔽的第二耦合層反鐵磁性地耦合到頂部屏蔽來形成第二合成反鐵磁性結構,所述第一和第二鐵磁層具有不同的厚度以對所述第一和第二合成反鐵磁體提供不同的磁場強度。
13.如權利要求12所述的數據讀取器,其特征在于,所述第二耦合層從第一側面屏蔽穿過磁讀取器連續地延伸到第二側面屏蔽,第二耦合層通過第二鐵磁層與第一耦合層分隔。
14.如權利要求12所述的數據讀取器,其特征在于,第一耦合層與磁讀取器分隔開且被定位成與磁讀取器相距預定的距離。
15.如權利要求12所述的數據讀取器,其特征在于,第二耦合層包括與第一耦合層不同的過渡金屬。
16.如權利要求12所述的數據讀取器,其特征在于,第一耦合層安置于第一和第二鐵磁層之間。
17.如權利要求12所述的數據讀取器,其特征在于,第一鐵磁層通過接觸被釘扎層而釘扎到預定的磁化狀態。
18.如權利要求12所述的數據讀取器,其特征在于,第一鐵磁層具有比第二鐵磁層更小的厚度。
19.一種用于促進側屏蔽磁化的裝置,包括:
磁讀取器,所述磁讀取器接觸頂部屏蔽并與空氣承載表面(ABS)上的側面屏蔽分離;
用于以第一磁場強度反鐵磁性地將側面屏蔽耦合到頂部屏蔽的裝置;以及
用于以不同于第一磁場強度的第二磁場強度反鐵磁性地耦合頂部屏蔽的第一和第二鐵磁層的裝置。
20.如權利要求19所述的裝置,其特征在于,用于反鐵磁性地將側面屏蔽耦合到頂部屏蔽的所述裝置包括所述側面屏蔽、第一耦合層和第一鐵磁層的層疊,而用于反鐵磁性地耦合頂部屏蔽的第一和第二鐵磁層的裝置包括第一耦合層、第一鐵磁層、第二耦合層、第二鐵磁層和釘扎層的層疊。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于希捷科技有限公司,未經希捷科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310628907.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:單級型LED驅動電源
- 下一篇:基于多域聯合估計的自適應語音檢測方法





