[發明專利]使用測試向量測試連接插槽的系統及其方法

在審

• 申請號: 201310628308.6
• 申請日: 2013-11-29
• 公開（公告）號: CN104678279A
• 公開（公告）日: 2015-06-03
• 發明（設計）人: 穆常青
• 申請（專利權）人: 英業達科技有限公司;英業達股份有限公司;英業達集團(天津)電子技術有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 11315
• 代理人: 許志勇

技術領域

本發明涉及一種連接插槽測試系統及其方法，特別系指一種使用測試向量測試連接插槽的系統及其方法。

背景技術

目前電路板的生產線上，對電路板的連接插槽（slot）的測試大多是進行功能性的測試。以主機板與存儲器的連接插槽為例，在主機板的主要元件組裝完畢后，在電路板的連接插槽上插入相對應的存儲器，并讓主機板開始運作，之后，在包含該主機板的裝置上所運行的操作系統中執行測試軟件，測試人員會在測試軟件檢測出存儲器不正常時，將主機板送交維修站維修。

當維修人員拿到存儲器不正常的主機板時，通常會先更換存儲器，然后在包含該主機板的裝置所運行的操作系統中執行存儲器測試軟件，藉以排除記憶條故障導致存儲器異常的情況。

當故障不是由存儲器引起時，往往表示主機板上的存儲器的連接插槽上存在物理連接故障，也就是主機板上的中央處理器（CPU）、存儲器緩沖區（Buffer）等核心邏輯元件與連接插槽之間的連接電路及/或焊接存在問題，或者是連接插槽上的電源及/或接地線開路。

在實務上，要檢測電路板上的邏輯元件與連接插槽之間的電路或焊接是非常繁瑣的，維修人員需要使用合適的測量儀器逐一測量連接插槽上的每一個腳位（pin）的焊接與連接電路，藉以判斷是哪個腳位的焊接或連接電路發生問題。由于目前連接插槽的常用規格的針腳大多非常多，例如168個腳位、184個腳位、200個腳位、240個腳位等，逐一對各個腳位進行檢測將會耗費大量時間。

綜上所述，可知現有技術中長期以來一直存在無法有效率的檢測出連接插槽發生問題的腳位的問題，因此有必要提出改進的技術手段，來解決此一問題。

發明內容

有鑒于現有技術存在無法有效率的檢測出連接插槽發生問題的腳位的問題，本發明遂揭露一種使用測試向量測試連接插槽的系統及其方法，其中：

本發明所揭露的使用測試向量測試連接插槽的系統，至少包含：至少一測試裝置，每一測試裝置分別與目標電路板的不同連接插槽連接；模型建立模塊，其中更包含用以分析連接插槽的連接電路信息的電路分析單元、及用以依據連接電路信息產生測試向量的向量產生單元；測試控制模塊，用以依據測試向量測試連接插槽，并通過測試裝置取得相對應的結果向量；結果分析模塊，用以依據結果向量判斷連接插槽的電路是否正常。

本發明所揭露的使用測試向量測試連接插槽的方法，其步驟至少包括：分析目標電路板的連接插槽的連接電路信息；依據連接電路信息產生測試向量；連接測試裝置與連接插槽；依據測試向量測試連接插槽，并通過測試裝置取得相對應的結果向量；依據結果向量判斷連接插槽的電路是否正常。

本發明所揭露的系統與方法如上，與現有技術之間的差異在于本發明通過分析目標電路板的連接插槽的連接電路信息，并依據連接電路信息產生測試向量后，使用測試向量對連接插槽進行測試，并依據測試結果判斷連接插槽是否正常，藉以解決現有技術所存在的問題，并可以達成縮短連接插槽的檢測時間的技術功效。

附圖說明

圖1為本發明所提的測試裝置的元件示意圖。

圖2為本發明所提的使用測試向量測試連接插槽的系統架構圖。

圖3A為本發明所提的使用測試向量測試連接插槽的方法流程圖。

圖3B為本發明所提的測試連接插槽的詳細方法流程圖。

【符號說明】

101???測試裝置

110???連接腳位

150???掃描邏輯元件

200???控制裝置

210???模型建立模塊

211???電路分析單元

215???向量產生單元

219???互動配置單元

230???測試控制模塊

250???結果分析模塊

400???目標電路板

420???核心邏輯元件

460???連接插槽

具體實施方式

以下將配合圖式及實施例來詳細說明本發明的特征與實施方式，內容足以使任何本領域的技術人員能夠輕易地充分理解本發明解決技術問題所應用的技術手段并據以實施，藉此實現本發明可達成的功效。

本發明可以測試與測試裝置連接的連接插槽（slot）的電路，并依據測試結果的結果判斷被測試的連接插槽是否正常。

其中，測試裝置101如「圖1」所示，至少包含連接腳位（pin）110以及掃描邏輯元件150。