[發明專利]使用獨立控制模塊進行測試的測試裝置及其方法

在審

• 申請號: 201310625515.6
• 申請日: 2013-11-28
• 公開（公告）號: CN104678982A
• 公開（公告）日: 2015-06-03
• 發明（設計）人: 元哲璋;員輝
• 申請（專利權）人: 英業達科技有限公司;英業達股份有限公司
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02
• 代理公司: 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 11315
• 代理人: 許志勇

技術領域

本發明涉及一種測試裝置及其方法，特別是指一種使用獨立控制模塊進行測試的測試裝置及其方法。

背景技術

在電子產品的生產過程中，通常都需要對電子產品的輸出入引腳（pin）進行連通性的測試。

目前進行測試的一種方法是使用專用的測試裝置，在每次測試時，先由主控端在測試裝置上設定一項測試的預定結果，接著由主控端控制測試裝置對電子產品（測試目標）的輸出入引腳的連通性進行該項測試，直到所有的測試項目都完成為止。

然而，上述的方法會完全占用主控端，導致主控端無法進行其他的測試工作。因此，上述的方法僅適合對少量的輸出入引腳的裝置進行引腳連通性的測試，一旦電子產品的輸出入引腳數量多，主控端被占用的時間也會跟著增加，如此便增加了測試的時間。

另外，上述的方法中，每一項測試都需要在測試裝置上設定預定結果，但事實上，設定預定結果的速度非常慢，一旦電子產品的輸出入引腳數量增加，則表示需要進行測試的項目也會跟著增加，因此，也會增加測試的時間。

綜上所述，可知現有技術中長期以來一直存在輸出入引腳多的電子產品的測試時間過長的問題，因此有必要提出改進的技術手段，來解決此一問題。

發明內容

有鑒于現有技術存在輸出入引腳多的電子產品的測試時間過長的問題，本發明遂揭露一種使用獨立控制模塊進行測試的測試裝置及其方法，其中：

本發明所揭露的使用獨立控制模塊進行測試的測試裝置，至少包含：控制模塊，用以接收主控端所傳送的測試命令，及依據測試命令產生相對應的控制命令，并依序傳送控制命令；可編程邏輯元件（Programmable?Logic?Device,PLD），每一可編程邏輯元件包含多個通用輸入輸出（General?Purpose?I/O,GPIO）接口，用以依據控制模塊所傳送的控制命令控制通用輸入輸出接口，藉以對測試目標進行測試。

本發明所揭露的使用獨立控制模塊進行測試的方法，其步驟至少包括：主控端傳送測試命令至測試裝置，測試裝置包含控制模塊及可編程邏輯元件；控制模塊依據測試命令產生相對應的控制命令，并依序傳送控制命令至相對應的可編程邏輯元件；可編程邏輯元件依據所接收到的控制命令控制所包含的通用輸入輸出接口，藉以對測試目標進行測試。

本發明所揭露的系統與方法如上，與現有技術之間的差異在于本發明通過在測試裝置上設置取代主控端的控制模塊，控制模塊在接收到主控端所傳送的測試命令后，可以產生相對應的控制命令，并傳送到相對應的可編程邏輯元件，接收到控制命令的可編程邏輯元件可以依據控制命令控制所包含的通用輸入輸出接口來對測試目標進行測試，藉以解決現有技術所存在的問題，并可以達成讓主控端可以在對測試目標進行測試的同時進行其他工作的技術功效。

附圖說明

圖1為本發明所提的使用獨立控制模塊進行測試的元件示意圖。

圖2為本發明所提的可編程邏輯元件的示意圖。

圖3為本發明所提的使用獨立控制模塊進行測試的方法流程圖。

【符號說明】

具體實施方式

以下將配合圖式及實施例來詳細說明本發明的特征與實施方式，內容足以使任何本領域技術人員能夠輕易地充分理解本發明解決技術問題所應用的技術手段并據以實施，藉此實現本發明可達成的功效。

本發明提供包含可獨立運作的控制模塊的測試裝置，當該測試裝置接收到主控端所傳送的測試命令時，控制模塊可以執行與所接收到的測試命令對應的測試流程，并依據測試流程控制測試裝置所包含的通用輸入輸出（General?Purpose?I/O,GPIO）接口（port），藉以對測試目標進行測試。

以下先以「圖1」本發明所提的使用獨立控制模塊進行測試的測試裝置的元件示意圖來說明本發明的運作過程。如「圖1」所示，本發明的測試裝置100含有可編程邏輯元件（Programmable?Logic?Device,PLD）110以及控制模塊130。

可編程邏輯元件110包含多個通用輸入輸出接口?？删幊踢壿嬙?10負責接收控制模塊130所傳送的控制命令，并依據所接收到的控制命令控制一個或多個通用輸入輸出接口。一般而言，可編程邏輯元件110會依據所接收到的控制命令，控制一個或多個通用輸入輸出接口輸出測試信號到測試目標400上的相對應的輸入引腳（pin），及/或控制一個或多個通用輸入輸出接口接收測試目標400上的相對應的輸出入引腳上的回應信號。