[發(fā)明專利]確定平板檢測器的幾何成像性質(zhì)的方法和x射線檢查系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310624529.6 | 申請日： | 2013-11-29 |
| 公開（公告）號： | CN103852477A | 公開（公告）日： | 2014-06-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | A.蘇佩斯;P.波庫特內(nèi)夫;E.諾伊澤爾;N.羅特 | 申請（專利權(quán)）人： | GE傳感與檢測技術(shù)有限公司 |
| 主分類號： | G01N23/04 | 分類號： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 易皎鶴;湯春龍 |
| 地址： | 德國*** | 國省代碼： | 德國;DE |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 確定 平板 檢測器 幾何 成像 性質(zhì) 方法 射線 檢查 系統(tǒng) | ||
1.一種用于確定x射線檢查系統(tǒng)中平板檢測器（12）的幾何成像性質(zhì)的方法，包括以下步驟：
－將校準(zhǔn)模型（13）布置在x射線源（11）與所述平板檢測器（12）之間，其中所述校準(zhǔn)模型（13）包括至少一個離散幾何對象（30）；
－利用所述平板檢測器（12）記錄所述校準(zhǔn)模型（13）的至少一個x射線圖像，其中至少一個離散幾何形狀（32）通過對所述校準(zhǔn)模型（13）的至少一個離散幾何對象（30）成像而在所述x射線圖像中生成；以及
－根據(jù)所述至少一個離散幾何形狀（32）的至少一個特性，從所述至少一個x射線圖像確定所述平板檢測器（12）的位點依賴的失真誤差；
其中，用于確定所述位點依賴的失真誤差的所述至少一個離散幾何形狀（32）的所有特性獨(dú)立于所述校準(zhǔn)模型（13）的尺寸。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，多個離散幾何形狀（32）通過對所述校準(zhǔn)模型（13）的至少一個離散幾何對象（30）成像而在檢測器表面的不同位置處記錄。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，形成所述幾何形狀（32）的基礎(chǔ)的所述幾何對象（30）是均勻的，并且特性是所述幾何形狀（32）偏離均勻性。
4.如權(quán)利要求2或3所述的方法，其中，形成所述幾何形狀（32）的基礎(chǔ)的所述幾何對象（30）具有相等的大小，并且特性是所述幾何形狀（32）之間的大小偏差。
5.如權(quán)利要求2至4中任一項所述的方法，其中，形成所述幾何形狀（32）的基礎(chǔ)的所述幾何對象（30）具有相等的形狀，并且特性是所述幾何形狀（32）之間的形狀偏差。
6.如權(quán)利要求2至5中任一項所述的方法，其中，形成所述幾何形狀（32）的基礎(chǔ)的所述幾何對象（30）以常規(guī)間隔和/或定期地布置，并且特性是偏離常規(guī)性和/或定期性的幾何形狀（32）的布置。
7.如權(quán)利要求2至6中任一項所述的方法，其中，形成所述幾何形狀（32）的基礎(chǔ)的所述幾何對象（30）布置成互相接觸。
8.如前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中，形成所述幾何形狀的基礎(chǔ)的所述幾何對象是至少一個直線或布置在至少一個直線中，并且特性是所述幾何形狀偏離直線性。
9.如前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中，形成所述幾何形狀的基礎(chǔ)的所述幾何對象是具有恒定直徑的至少一個圓柱形對象，并且特性是所述幾何形狀偏離所述恒定直徑。
10.如前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中，所述至少一個幾何形狀和/或所述位點依賴的失真誤差的至少一個特性從三維重建的x射線圖像確定。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于GE傳感與檢測技術(shù)有限公司，未經(jīng)GE傳感與檢測技術(shù)有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310624529.6/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
