[發明專利]低溫貯箱穿艙測試密封法蘭有效
| 申請號: | 201310618386.8 | 申請日: | 2013-11-28 |
| 公開(公告)號: | CN103603953A | 公開(公告)日: | 2014-02-26 |
| 發明(設計)人: | 時亞州;徐愛杰;王金明;周改超;王海東;金立群 | 申請(專利權)人: | 上海航天精密機械研究所 |
| 主分類號: | F16J15/06 | 分類號: | F16J15/06;F17C1/00;G01M13/00 |
| 代理公司: | 上海漢聲知識產權代理有限公司 31236 | 代理人: | 郭國中 |
| 地址: | 201699*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 低溫 貯箱穿艙 測試 密封 法蘭 | ||
1.一種低溫貯箱穿艙測試密封法蘭,其特征在于,包括環形體、上蓋板、下蓋板以及傳輸線纜束,所述環形體的中心處設有軸向通孔,所述上蓋板設置于環形體上表面的軸向通孔處,所述下蓋板設置于環形體下表面的軸向通孔處,所述上蓋板、下蓋板以及環形體之間形成中間空心區域,所述中間空心區域填充有密封粘合劑;其中:
所述環形體整體為環形結構,環形體在接近其外徑位置設有多個沿圓周均布的環形體通孔,環形體的上表面和下表面上靠近軸向通孔處均設有多個沿圓周均布的螺孔;
所述上蓋板整體為圓形法蘭蓋,上蓋板的下表面具有凸起的圓形臺面I,所述圓形臺面I的直徑略小于所述環形體的內徑,上蓋板在接近其外徑位置設有多個沿圓周均布的安裝通孔I,所述安裝通孔I的直徑略大于環形體上表面螺孔的直徑,所述安裝通孔I的數量及分布位置與環形體上表面螺孔相適配,上蓋板的中間區域分布有多排穿艙通孔I;
所述下蓋板整體為圓形法蘭蓋,下蓋板的上表面具有凸起的圓形臺面II,所述圓形臺面II的直徑略小于所述環形體的內徑,下蓋板在接近其外徑位置設有多個沿圓周均布的安裝通孔II,所述安裝通孔II的直徑略大于環形體下表面螺孔的直徑,所述安裝通孔II的數量及分布位置與環形體下表面螺孔相適配,下蓋板的中間區域分布有多排穿艙通孔II,所述穿艙通孔II的數量及分布位置與穿艙通孔I相適配;
所述傳輸線纜束設置于上蓋板和下蓋板上一組對應的穿艙通孔內。
2.根據權利要求1所述的低溫貯箱穿艙測試密封法蘭,其特征在于,所述環形體的軸向通孔處設有一個環形凸臺,環形體上表面螺孔沿圓周均布在所述環形凸臺的端面上,環形體的上表面設有一圈環形凹槽,環形體的下表面最內圈設有一個環形凹臺,環形體的內壁上設有兩圈溝狀槽II。
3.根據權利要求2所述的低溫貯箱穿艙測試密封法蘭,其特征在于,所述環形凹槽的底面設有一圈溝狀槽I。
4.根據權利要求2或3所述的低溫貯箱穿艙測試密封法蘭,其特征在于,所述環形凹槽內設有上密封圈,所述環形凹臺內設有下密封圈;
上密封圈的內徑略大于環形凹槽的內徑,上密封圈的外徑略小于環形凹槽的外徑,上密封圈的厚度略大于環形凹槽的深度;和/或
下密封圈的內徑略大于環形體的內徑,下密封圈的外徑略小于環形凹臺的外徑,下密封圈的厚度略大于環形凹臺的深度。
5.權利要求1所述的低溫貯箱穿艙測試密封法蘭,其特征在于,每一個穿艙通孔I均設有一個圓錐形坡臺,和/或
每一個穿艙通孔II均設有一個倒圓錐形坡臺。
6.據權利要求1所述的低溫貯箱穿艙測試密封法蘭,其特征在于,上蓋板和下蓋板上每一組對應的穿艙通孔中均設有傳輸線纜束。
7.據權利要求1或6述的低溫貯箱穿艙測試密封法蘭,其特征在于,所述傳輸線纜束由多根具備絕緣層的低溫線纜并排組成。
8.據權利要求1所述的低溫貯箱穿艙測試密封法蘭,其特征在于,所述密封粘合劑包括密封粘合劑甲、密封粘合劑乙和密封粘合劑丙,三種類型的密封粘合劑甲、密封粘合劑乙和密封粘合劑丙呈上、中、下三層分布,并緊緊充滿所述中間空心區域。
9.據權利要求8所述的低溫貯箱穿艙測試密封法蘭,其特征在于,所述密封粘合劑甲、密封粘合劑乙和密封粘合劑丙均為具備低溫密封能力的粘性材料。
10.據權利要求1所述的低溫貯箱穿艙測試密封法蘭,其特征在于,所述環形體上表面螺孔內設有匹配的上擰緊螺栓,所述環形體下表面螺孔內設有匹配的下擰緊螺栓。
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