[發(fā)明專利]一種利用太赫茲光譜信號(hào)提取材料光學(xué)常數(shù)的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310616509.4
• 申請(qǐng)日: 2013-11-26
• 公開（公告）號(hào): CN103645154A
• 公開（公告）日: 2014-03-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 凌東雄;王紅成;黃曉園
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 東莞理工學(xué)院
• 主分類號(hào): G01N21/3586
• 分類號(hào): G01N21/3586
• 代理公司: 東莞市華南專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44215
• 代理人: 張明

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于光電子學(xué)與材料學(xué)應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種利用太赫茲光譜信號(hào)提取材料光學(xué)常數(shù)的方法。

背景技術(shù)

目前，各種光譜技術(shù)已經(jīng)廣泛的應(yīng)用于物質(zhì)分析，采用太赫茲光譜信號(hào)提取材料光學(xué)常數(shù)的方法已經(jīng)成為一種專業(yè)領(lǐng)域內(nèi)的常用方法。現(xiàn)有的太赫茲時(shí)域光譜系統(tǒng)的光路如圖1所示，該系統(tǒng)用于測(cè)量樣品透射信號(hào)和參考信號(hào)的太赫茲光譜。常用提取材料光學(xué)常數(shù)的步驟如下：

1.通過實(shí)驗(yàn)測(cè)得樣品信號(hào)和參考信號(hào)的太赫茲頻譜，將兩者相比表示為：

A_meas(ω)=E_sam(ω)/E_ref(ω)=T_meas(ω)exp[-jΔφ_meas(ω)]?????(1)

式中E_sam(ω)和E_ref(ω)為頻域中的復(fù)電場(chǎng)，分別表示樣品信號(hào)和參考信號(hào)。T_meas(ω)為透過樣品的太赫茲電場(chǎng)，Δφ_meas(ω)為相位變化。

2.根據(jù)實(shí)驗(yàn)測(cè)得的T_meas(ω)和Δφ_meas(ω)，可確定實(shí)折射率n(ω)、消光系數(shù)κ(ω)和吸收系數(shù)α(ω)分別為：

n(ω)=1+Δφmeas(ω)cωl---(2)]]>

κ(ω)=ln{4n(ω)Tmeas(ω)[1+n(ω)]2}cωl---(3)]]>