[發(fā)明專利]一種用于優(yōu)化半導(dǎo)體工藝條件的氣體注入管無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310613010.8 | 申請日: | 2013-11-26 |
| 公開(公告)號: | CN103646902A | 公開(公告)日: | 2014-03-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張召;王智;蘇俊銘;張旭昇 | 申請(專利權(quán))人: | 上海華力微電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 上海申新律師事務(wù)所 31272 | 代理人: | 竺路玲 |
| 地址: | 201210 上海市浦*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 優(yōu)化 半導(dǎo)體 工藝 條件 氣體 注入 | ||
1.一種用于優(yōu)化半導(dǎo)體工藝條件的氣體注入管,應(yīng)用于爐管中,其特征在于,所述氣體注入管為由下到上管路直徑逐漸增大的管道,且所述注入管的管壁設(shè)置有若干毛細(xì)孔;其中,所述毛細(xì)孔由下而上分布的密度逐漸增大,且位于上方的所述毛細(xì)孔的孔徑大于位于下方的所述毛細(xì)孔的孔徑。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述用于優(yōu)化半導(dǎo)體工藝條件的氣體注入管,其特征在于,所述注入管為從下往上氣體管開口逐漸變大的梯形構(gòu)造。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述用于優(yōu)化半導(dǎo)體工藝條件的氣體注入管,其特征在于,所述毛細(xì)孔由下到上逐漸變大且逐漸變多。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述用于優(yōu)化半導(dǎo)體工藝條件的氣體注入管,其特征在于,氣體通過所述注入管由下而上從所述毛細(xì)孔到達(dá)晶舟,所述毛細(xì)管隨著管徑增大而增多且所述毛細(xì)管的之間也隨之增大,到達(dá)所述晶舟的氣體也越多,從而使得晶舟周圍的濃度從上到下均一致。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述用于優(yōu)化半導(dǎo)體工藝條件的氣體注入管,其特征在于,所述注入管可以使到達(dá)晶舟周圍的氣體溫度一致。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述用于優(yōu)化半導(dǎo)體工藝條件的氣體注入管,其特征在于,所述注入管注入的氣體使得晶舟上晶圓形成的膜的性質(zhì)及其厚度均一致。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





