[發(fā)明專利]一種基于中點(diǎn)追蹤的圖像定位控制雙探針自動(dòng)測(cè)試裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310610557.2 | 申請(qǐng)日: | 2013-11-26 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103616585A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-03-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王強(qiáng);花國(guó)然;章國(guó)安;徐影;鄧潔 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 南通大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01R1/04;G01R1/073 |
| 代理公司: | 南京同澤專利事務(wù)所(特殊普通合伙) 32245 | 代理人: | 石敏 |
| 地址: | 226019 江蘇省南*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 中點(diǎn) 追蹤 圖像 定位 控制 探針 自動(dòng) 測(cè)試 裝置 | ||
1.?一種基于中點(diǎn)追蹤的圖像定位控制雙探針自動(dòng)測(cè)試裝置,包括承載臺(tái)、第一探針支架、第二探針支架、主控計(jì)算機(jī),其特征在于:還包括驅(qū)動(dòng)所述裝載有第一探針支架和第二探針支架的測(cè)試頭組件在水平面內(nèi)旋轉(zhuǎn)的第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)、驅(qū)動(dòng)所述測(cè)試頭組件在三軸方向移動(dòng)的第二驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)、設(shè)置于承載臺(tái)上方且拍攝方向朝下的攝像頭,所述第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)安裝于第二驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的下方,所述測(cè)試頭組件具有使第一、第二探針支架水平鏡像移動(dòng)的第三驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu),所述第一至第三驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的控制信號(hào)輸入端與主控計(jì)算機(jī)的控制信號(hào)輸出端連接,驅(qū)動(dòng)所述測(cè)試頭組件在水平面內(nèi)旋轉(zhuǎn)的第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)為細(xì)分驅(qū)動(dòng)器,驅(qū)動(dòng)所述測(cè)試頭在三軸方向移動(dòng)的第二驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)為三軸步進(jìn)電機(jī),所述第三驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括設(shè)置有兩段對(duì)稱螺紋的絲桿、驅(qū)動(dòng)絲桿轉(zhuǎn)動(dòng)的電機(jī)、對(duì)稱地螺接在絲桿上的第一移動(dòng)塊、第二移動(dòng)塊,所述第一探針支架、第二探針支架分別安裝在第一移動(dòng)塊、第二移動(dòng)塊下方。
2.?根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于中點(diǎn)追蹤的圖像定位控制雙探針自動(dòng)測(cè)試裝置,其特征在于:所述第一探針支架、第二探針支架上分別安裝有第一探針、第二探針,所述第一、第二探針的信號(hào)輸出端連接測(cè)試儀。
3.?根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于中點(diǎn)追蹤的圖像定位控制雙探針自動(dòng)測(cè)試裝置,其特征在于:所述承載臺(tái)為具有真空抽氣口的金屬承載臺(tái),該金屬承載臺(tái)接地,真空抽氣口經(jīng)管路連接抽真空設(shè)備。
4.?根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于中點(diǎn)追蹤的圖像定位控制雙探針自動(dòng)測(cè)試裝置,其特征在于:還具有殼體,所述承載臺(tái)、第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)、第二驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)、第三驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)、第一探針支架、第二探針支架、及攝像頭均設(shè)置于殼體內(nèi)。
5.?基于中點(diǎn)追蹤的圖像定位控制雙探針自動(dòng)測(cè)試裝置的樣品測(cè)試方法,具體包括如下步驟:
第一步、將樣品放置于承載臺(tái);
第二步、樣品在真空設(shè)備抽氣后形成的負(fù)壓環(huán)境下被吸附固定在承載臺(tái)上;
第三步、攝像頭采集樣品圖像,傳送至主控計(jì)算機(jī)予以顯示,并將計(jì)算機(jī)顯示區(qū)域的像素點(diǎn)坐標(biāo)與承載臺(tái)坐標(biāo)建立對(duì)應(yīng)關(guān)系;
第四步、測(cè)試人員利用鼠標(biāo)在圖像上點(diǎn)選待測(cè)樣品上任意兩測(cè)試點(diǎn);
第五步、獲取兩測(cè)試點(diǎn)連線的中點(diǎn)坐標(biāo)位置,通過(guò)三軸步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)測(cè)試頭組件移動(dòng)至兩測(cè)試點(diǎn)連線的中點(diǎn)的上方,使兩探針支架的對(duì)稱中心與兩測(cè)試點(diǎn)連線中點(diǎn)位于同一垂線上,
第六步、計(jì)算兩測(cè)試點(diǎn)之間連線與承載臺(tái)坐標(biāo)系X軸的夾角,通過(guò)細(xì)分驅(qū)動(dòng)器旋轉(zhuǎn)測(cè)試頭組件相應(yīng)的角度,使與兩探針的連線與兩測(cè)試點(diǎn)連線共面;
第七步、計(jì)算兩測(cè)試點(diǎn)之間相隔像素?cái)?shù)量,并將其轉(zhuǎn)化為承載臺(tái)坐標(biāo)系下的距離值,通過(guò)電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)絲桿張開(kāi)第一、第二探針支架,使探針支架上安裝的探針之間的張開(kāi)距離與兩測(cè)試點(diǎn)距離相等,從而確保兩探針?lè)謩e位于兩測(cè)試點(diǎn)正上方;
第八步、通過(guò)三軸步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)測(cè)試頭組件下壓,使探針到達(dá)測(cè)試點(diǎn)位置,完成自動(dòng)定位測(cè)試。
6.?根據(jù)權(quán)利要求5所述基于中點(diǎn)追蹤的圖像定位控制雙探針自動(dòng)測(cè)試裝置的樣品測(cè)試方法,其特征在于:所述第五步、第六步、第七步同時(shí)進(jìn)行。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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