[發(fā)明專利]一種帶狀材料的相對(duì)位置檢測方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310608524.4 | 申請(qǐng)日: | 2013-11-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103604359A | 公開(公告)日: | 2014-02-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳小磊;王勇;劉松斌;高健;張屹;李峰凱;王敏;肖鐵妹;穆慧靈 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京金自能源科技發(fā)展有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B7/00 | 分類號(hào): | G01B7/00;G01B7/02 |
| 代理公司: | 北京永創(chuàng)新實(shí)專利事務(wù)所 11121 | 代理人: | 祗志潔 |
| 地址: | 100070 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 帶狀 材料 相對(duì) 位置 檢測 方法 | ||
1.一種帶狀材料的相對(duì)位置檢測方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟1:取四個(gè)大小和形狀都相同的電極板,兩個(gè)電極板組成一個(gè)電容,將組成的兩個(gè)電容布置在被測帶狀材料的生產(chǎn)線的左右兩側(cè),被測帶狀材料從兩個(gè)電容的上下兩個(gè)電極板之間穿過;
步驟2:針對(duì)左側(cè)或右側(cè)電容,檢測被測帶狀材料未插入電容時(shí)的初始電容值,然后在被測帶狀材料插入電容后,實(shí)時(shí)檢測電容值,將實(shí)時(shí)檢測的電容值減去初始電容值得到電容變化量,根據(jù)被測帶狀材料的性質(zhì)來確定被測帶狀材料插入左側(cè)或右側(cè)電容的距離;
步驟3:將被測帶狀材料插入左側(cè)電容的距離,加上左側(cè)電容的電極板邊緣距離生產(chǎn)線的中心線的垂直距離,獲得生產(chǎn)線的中心線到被測帶狀材料左邊緣的垂直距離Ll;將被測帶狀材料插入右側(cè)電容的距離,加上右側(cè)電容的電極板邊緣距離生產(chǎn)線的中心線的垂直距離,獲得生產(chǎn)線的中心線到被測帶狀材料右邊緣的垂直距離Lr;
步驟4:將同一時(shí)刻測得的距離Ll和Lr相加,得到被測帶狀材料的寬度;
步驟5:通過左側(cè)或右側(cè)電容實(shí)時(shí)測得生產(chǎn)線的中心線到被測帶狀材料左邊緣或右邊緣的垂直距離,與被測帶狀材料的寬度比較,獲取被測帶狀材料偏離生產(chǎn)線中心線的距離。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種帶狀材料的相對(duì)位置檢測方法,其特征在于,所述的步驟1中,所布置的兩個(gè)電容關(guān)于被測帶狀材料生產(chǎn)線的中心線所在的垂直面左右對(duì)稱。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種帶狀材料的相對(duì)位置檢測方法,其特征在于,所述的步驟2,確定被測帶狀材料插入電容的距離的方法是:設(shè)L為被測帶狀材料插入左側(cè)或右側(cè)電容的距離,ΔC為左側(cè)或右側(cè)電容的電容變化量,C0為左側(cè)或右側(cè)電容的初始電容值,L0為電極板的長度,d0為左側(cè)或右側(cè)電容的上下兩個(gè)電極板之間的垂直距離;
當(dāng)被測帶狀材料為非導(dǎo)體材料時(shí),距離L為:其中,εr2為被測帶狀材料介電常數(shù);
當(dāng)被測帶狀材料為導(dǎo)體材料時(shí),距離L為:其中,d1為被測帶狀材料的厚度。
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