[發(fā)明專利]一種光學(xué)試驗平臺

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310607106.3
• 申請日: 2013-11-26
• 公開（公告）號: CN103616159A
• 公開（公告）日: 2014-03-05
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 馬超;趙自強;劉令濤;王少紅
• 申請（專利權(quán)）人: 北京信息科技大學(xué)
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 北京遠大卓悅知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11369
• 代理人: 賀持緩

1.一種光學(xué)試驗平臺，其特征在于：它包括一試驗平臺支架、一擺動調(diào)整機構(gòu)和一旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)；在所述試驗平臺支架內(nèi)部安裝有所述擺動調(diào)整機構(gòu)，所述旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)安裝在所述擺動調(diào)整機構(gòu)上部，且所述旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)與所述擺動調(diào)整機構(gòu)之間為活動連接；

位于所述試驗平臺支架的左側(cè)壁、右側(cè)壁上分別固定連接有兩連接架；每個所述連接架下方均設(shè)置有一位置調(diào)節(jié)塊，通過所述連接架將所述試驗平臺支架與測試載體固定；

所述擺動調(diào)整機構(gòu)包括一擺動工作臺、一渦輪軸、一后軸、三滾動軸承、一后軸底座、兩軸承端蓋、一渦輪軸座、一鍵、一渦輪、一圓螺母、一渦桿、兩渦桿軸承底座和一擺動搖柄；在所述擺動工作臺的兩側(cè)分別連接有所述渦輪軸和后軸，所述后軸連接第一所述滾動軸承，且所述后軸通過所述后軸底座與所述試驗平臺支架左側(cè)壁連接，第一所述滾動軸承設(shè)置在所述后軸底座上，所述后軸底座外側(cè)通過一所述軸承端蓋密封保護；所述渦輪軸通過所述渦輪軸座與所述試驗平臺支架右側(cè)壁連接，所述渦輪軸連接第二、第三兩個所述滾動軸承，且所述渦輪軸通過所述渦輪軸座與所述試驗平臺支架右側(cè)壁連接，第二、第三兩個所述滾動軸承設(shè)置在所述渦輪軸座上，所述渦輪軸座外側(cè)通過另一所述軸承端蓋密封保護；所述渦輪軸伸出所述試驗平臺支架的一端通過所述鍵與所述渦輪連接，所述渦輪通過所述渦輪軸的軸肩和固定在所述渦輪上的圓螺母實現(xiàn)軸向定位；所述渦輪與所述渦桿連接，所述渦桿由兩所述渦桿軸承底座固定在所述試驗平臺支架上。

2.如權(quán)利要求1所述的一種光學(xué)試驗平臺，其特征在于：所述擺動調(diào)整機構(gòu)還包括一由渦桿鎖緊底座、渦桿鎖緊內(nèi)板和渦桿鎖緊外板構(gòu)成的鎖緊機構(gòu)，所述渦桿鎖緊底座固定在所述試驗平臺支架上，所述渦桿鎖緊內(nèi)板一端連接所述渦桿鎖緊底座一端，與所述渦桿內(nèi)側(cè)壓緊；所述渦桿鎖緊外板一端也連接所述渦桿鎖緊底座一端，與所述渦桿外側(cè)壓緊，所述渦桿鎖緊內(nèi)板另一端與所述渦桿鎖緊外板另一端通過螺栓連接在一起。

3.如權(quán)利要求1所述的一種光學(xué)試驗平臺，其特征在于：所述渦桿上安裝有擺動搖柄。

4.如權(quán)利要求1所述的一種光學(xué)試驗平臺，其特征在于：所述擺動工作臺采用圓筒形結(jié)構(gòu)，由鋼制材料制成，并在所述擺動工作臺的側(cè)壁上間隔開設(shè)有通孔。

5.如權(quán)利要求1或2或3或4所述的一種光學(xué)試驗平臺，其特征在于：所述旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)包括一圓形結(jié)構(gòu)的旋轉(zhuǎn)工作臺、兩壓板和三個以上的光學(xué)測試產(chǎn)品連接環(huán)；所述旋轉(zhuǎn)工作臺設(shè)置在所述擺動工作臺頂部，所述旋轉(zhuǎn)工作臺兩側(cè)分別通過一所述壓板將其壓緊在所述擺動工作臺上，且各所述壓板分別通過螺栓連接在所述擺動工作臺上；位于所述旋轉(zhuǎn)工作臺頂部間隔開設(shè)有若干個貫通的安裝孔，該安裝孔的數(shù)量及大小與所述光學(xué)測試產(chǎn)品連接環(huán)的數(shù)量及大小呈匹配設(shè)置；各所述光學(xué)測試產(chǎn)品連接環(huán)上均設(shè)置有與其一體成型的兩個突出并呈對稱設(shè)置的螺栓孔，位于各所述螺栓孔處還分別安裝有一把手；每個所述光學(xué)測試產(chǎn)品連接環(huán)分別通過各所述安裝孔安裝在所述旋轉(zhuǎn)工作臺上，并通過兩個所述螺栓孔用螺栓將所述光學(xué)測試產(chǎn)品連接環(huán)固定在所述旋轉(zhuǎn)工作臺上。

6.如權(quán)利要求5所述的一種光學(xué)試驗平臺，其特征在于：所述旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)還包括長軸、校正板支撐中心臺、非均勻校正板、校正帽、彈簧、平墊圈和銷；所述長軸通過所述校正板支撐中心臺穿設(shè)在所述旋轉(zhuǎn)工作臺上，所述校正板支撐中心臺固定在所述旋轉(zhuǎn)工作臺的中心位置處；位于所述長軸的底部固定焊接有所述非均勻校正板，位于所述長軸的頂部依次套設(shè)有所述校正帽、彈簧和平墊圈，所述校正帽位于所述校正板支撐中心臺上部，且位于所述平墊圈上方在所述長軸上還穿設(shè)有所述銷；所述彈簧一端頂設(shè)在所述校正帽上，所述彈簧另一端頂設(shè)在所述平墊圈上。

7.如權(quán)利要求6所述的一種光學(xué)試驗平臺，其特征在于：所述校正板支撐中心臺外緣處設(shè)置有花鍵結(jié)構(gòu)，且所述校正帽周向上還間隔設(shè)置有三個導(dǎo)向桿，通過所述三個導(dǎo)向桿將所述校正帽與所述校正板支撐中心臺花鍵結(jié)構(gòu)的花鍵槽進行定位連接。

8.如權(quán)利要求6或7所述的一種光學(xué)試驗平臺，其特征在于：所述校正帽與所述長軸之間滑動連接，所述長軸的頂部沿軸向開設(shè)有一導(dǎo)向槽，所述校正帽內(nèi)緣處也設(shè)置有一與所述長軸上導(dǎo)向槽匹配設(shè)置的凹槽，并在該凹槽上設(shè)置有一滑動鍵，所述滑動鍵通過所述長軸上的導(dǎo)向槽在所述長軸上滑動；在所述校正帽外緣處還設(shè)置有花鍵結(jié)構(gòu)。

9.如權(quán)利要求6或7所述的一種光學(xué)試驗平臺，其特征在于：所述非均勻校正板采用扇葉狀平板結(jié)構(gòu)。

10.如權(quán)利要求8所述的一種光學(xué)試驗平臺，其特征在于：所述非均勻校正板采用扇葉狀平板結(jié)構(gòu)。