[發明專利]獲取地層的地層壓力系數的方法

有效

• 申請號: 201310597853.3
• 申請日: 2013-11-22
• 公開（公告）號: CN103628866A
• 公開（公告）日: 2014-03-12
• 發明（設計）人: 鄧麗嫦;譚榮彪;鄧小江;王小蘭;李樂;董同武;黎楓佶
• 申請（專利權）人: 中國石油集團川慶鉆探工程有限公司地球物理勘探公司
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 張川緒;戴嵩瑋

技術領域

本發明涉及地層壓力技術領域，更具體地講，涉及一種獲取地層的地層壓力系數的方法。

背景技術

目前，我國頁巖氣勘探開發還處于起步階段，具有風險大、成本高的特點。頁巖氣通常具有低滲透率和低孔隙度的特征，除少數裂縫發育帶可能具有較高的自然產能外，其他地帶的頁巖氣產能需要進行采集數據進行估算。

目前頁巖氣地震預測識別尚處于摸索階段，常用的方法是利用常規的疊后速度反演和伽瑪反演對優質頁巖厚度進行預測，而優質頁巖厚度并不能反應頁巖地層氣儲量，對頁巖開發有利區的選取的準確性不高，因此，還需要獲取其他參數進行綜合分析預測。

發明內容

本發明的目的在于提供一種獲取地層的地層壓力系數的方法，以解決目前頁巖氣產能預測缺乏技術支持的問題。

本發明的一方面提供一種獲取地層的地層壓力系數的方法，包括以下步驟:(a)獲取作為檢測點的多個鉆井的測井數據，所述測井數據包括鉆井處的所述地層的地震數據及所述地層的實測地層壓力系數；(b)根據在步驟a中獲取的測井數據，通過兩種不同的計算方法計算得到各個鉆井的所述地層的第一地層壓力系數和所述地層的第二地層壓力系數；(c)根據所述第一地層壓力系數和所述第二地層壓力系數與實測地層壓力系數相關性大小，計算得出第一地層壓力系數和第二地層壓力系數與實測地層壓力系數的權重關系；(d)獲取工區平面內各檢測點的所述地層的地震數據，計算得到各檢測點的第一地層壓力系數和第二地層壓力系數，再根據步驟c中計算得到的第一地層壓力系數和第二地層壓力系數與實測地層壓力系數的權重關系計算得到各檢測點的地層壓力系數。

優選地，所述地震數據，包括孔隙度接近于零的地理位置的地層速度、剛性接近于零的地理位置的地層速度、檢測點的地層速度、平均地層壓力系數、檢測點的地層埋深。

優選地，第一地層壓力系數通過以下公式計算得到：

Pf=Ln(Vi/Vmax)Ln(Vmin/Vmax)Pov,]]>

其中，V_max為孔隙度接近于零的地理位置的地層速度，V_min為剛性接近于零的地理位置的地層速度，V_i為檢測點的地層速度，P_ov為平均地層壓力系數，P_f為第一地層壓力系數。

優選地，第二地層壓力系數通過已獲取的地層埋深以及地層壓力系數與地層埋深之間的函數關系計算獲得。

優選地，所述函數關系通過已獲取的多個鉆井的測井數據：實測地層壓力系數、檢測點的地層埋深求取。

優選地，還包括步驟e，根據步驟d中計算得到的工區平面內各檢測點的地層壓力系數，繪制工區平面內的所述地層的地層壓力系數分布圖。

本發明獲取地層的地層壓力系數的方法，適用于獲取地殼中的各個地層的地層壓力系數。當本發明應用于頁巖層時，能夠獲取工區內頁巖層中的各檢測點的地層壓力系數，由于頁巖地層壓力系數為判斷氣藏量的重要的參數之一，因此可以為頁巖氣勘探開發有利區選取和頁巖氣井井位部署提供技術支持。

附圖說明

通過下面結合附圖進行的詳細描述，本發明的上述和其它目的、特點和優點將會變得更加清楚，其中：

圖1為根據本發明的實施例的獲取地層的地層壓力系數的方法的流程圖。

圖2為根據本發明實施例的地層壓力系數分布圖。

具體實施方式

現在，將參照附圖更充分地描述不同的示例實施例，其中，一些示例性實施例在附圖中示出。