[發(fā)明專利]一種光柵外差干涉自準直測量裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310595336.2 | 申請日: | 2013-11-21 |
| 公開(公告)號: | CN103673891A | 公開(公告)日: | 2014-03-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 朱煜;胡金春;陳龍敏;成榮;高陣雨;楊開明 | 申請(專利權(quán))人: | 清華大學;北京華卓精科科技有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/02 | 分類號: | G01B11/02 |
| 代理公司: | 北京鴻元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11327 | 代理人: | 邸更巖 |
| 地址: | 100084 北京市海淀區(qū)1*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光柵 外差 干涉 測量 裝置 | ||
1.一種光柵外差干涉自準直測量裝置,其特征在于:該自準直測量裝置包括雙頻激光器(1)、1/4波片(2)、分光系統(tǒng)(3)、參考臂光電轉(zhuǎn)換系統(tǒng)(4)、負m級測量臂偏振分光鏡(5)、負m級測量臂第一1/4波片(6)、負m級測量臂第一反射鏡(7)、負m級測量臂第二1/4波片(8)、負m級測量臂第二反射鏡(9)、正m級測量臂偏振分光鏡(10)、正m級測量臂第一1/4波片(11)、正m級測量臂第一反射鏡(12)、正m級測量臂第二1/4波片(13)、正m級測量臂第二反射鏡(14)、光柵(15)、負m級測量臂光電轉(zhuǎn)換系統(tǒng)(16)和正m級測量臂光電轉(zhuǎn)換系統(tǒng)(17),其中m為正整數(shù),且m的最大值由光柵的最大自準直角確定;
雙頻激光器(1)出射一束含有兩個不同頻率的左旋和右旋圓偏振光的光束,所述光束經(jīng)過1/4波片(2)之后成為包含兩個偏振態(tài)相互垂直線偏振光的光束,然后經(jīng)過分光系統(tǒng)(3)后分為參考光、負m級測量光和正m級測量光三路光;參考光進入?yún)⒖急酃怆娹D(zhuǎn)換系統(tǒng)(4),負m級測量光進入負m級測量臂偏振分光鏡(5),正m級測量光進入正m級測量臂偏振分光鏡(10);
負m級測量臂偏振分光鏡(5)將負m級測量光分成頻率不同的一束反射s光和一束透射p光;此反射s光先經(jīng)過負m級測量臂第一1/4波片(6),而后經(jīng)過負m級測量臂第一反射鏡(7)反射后又經(jīng)過負m級測量臂第一1/4波片(6)回到負m級測量臂偏振分光鏡(5);所述負m級測量臂偏振分光鏡(5)的透射p光經(jīng)由負m級測量臂第二1/4波片(8)和負m級測量臂第二反射鏡(9)后以負m級自準直角入射到光柵(15)上,由光柵(15)反射回負m級測量臂第二反射鏡(9),再由其反射后經(jīng)過負m級測量臂第二1/4波片(8)回到負m級測量臂偏振分光鏡(5);兩束光在偏振分光面處疊加合為一束光,進入負m級測量臂光電轉(zhuǎn)換系統(tǒng)(16);
正m級測量臂偏振分光鏡(10)將正m級測量光分成頻率不同的一束反射s光和一束透射p光;此反射s光先經(jīng)過正m級測量臂第一1/4波片(11),而后經(jīng)過正m級測量臂第一反射鏡(12)反射后又經(jīng)過正m級測量臂第一1/4波片(11)回到正m級測量臂偏振分光鏡(10);所述正m級測量臂偏振分光鏡(10)的透射p光經(jīng)由正m級測量臂第二1/4波片(13)和正m級測量臂第二反射鏡(14)后以正m級自準直角入射到光柵(15)上,由光柵(15)反射回正m級測量臂第二反射鏡(14),再由其反射后經(jīng)過正m級測量臂第二1/4波片(13)回到正m級測量臂偏振分光鏡(10);兩束光在偏振分光面處疊加合為一束光,進入正m級測量臂光電轉(zhuǎn)換系統(tǒng)(17);
當光柵(15)在x向和z向移動時,由負m級測量臂光電轉(zhuǎn)換系統(tǒng)(16)和正m級測量臂光電轉(zhuǎn)換系統(tǒng)(17)檢測到的兩路信號中分別包含不同的x向位移和z向位移信息,結(jié)合參考臂光電轉(zhuǎn)換系統(tǒng)(4)檢測到的參考光信息,即可解得光柵的x向和z向位移值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光柵外差干涉自準直測量裝置,其特征在于:所述的分光系統(tǒng)(3)由參考分光鏡(31)和測量分光鏡(32)組成;所述經(jīng)1/4波片(2)后包含兩個偏振態(tài)相互垂直線偏振光的光束經(jīng)過參考分光鏡(31)后分出一束反射光和一束透射光,該反射光進入?yún)⒖急酃怆娹D(zhuǎn)換系統(tǒng)(4);透射光進入測量分光鏡(32)后被分成一束反射光和一束透射光,此反射光進入負m級測量臂偏振分光鏡(5),透射光進入正m級測量臂偏振分光鏡(10)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光柵外差干涉自準直測量裝置,其特征在于:所述的分光系統(tǒng)(3)由參考臂輸出光纖(33)、負m級測量臂輸出光纖(34)和正m級測量臂輸出光纖(35)組成;所述參考臂輸出光纖(33)通過參考臂輸出光纖接口(33a)將參考光信號輸入到參考臂光電轉(zhuǎn)換系統(tǒng)(4),負m級測量臂輸出光纖(34)通過負m級測量臂輸出光纖接口(34a)將負m級測量光輸入到負m級測量臂偏振分光鏡(5),正m級測量臂輸出光纖(35)通過正m級測量臂輸出光纖接口(35a)將正m級測量光輸入到正m級測量臂偏振分光鏡(10)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于清華大學;北京華卓精科科技有限公司,未經(jīng)清華大學;北京華卓精科科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310595336.2/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





