[發(fā)明專利]欠壓鎖定電路及開關(guān)控制電路、電源裝置無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310595260.3 | 申請(qǐng)日: | 2013-11-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103840808A | 公開(公告)日: | 2014-06-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李圣播;秦宇康 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 快捷韓國半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號(hào): | H03K17/56 | 分類號(hào): | H03K17/56;H02M1/088 |
| 代理公司: | 北京派特恩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11270 | 代理人: | 武晨燕;徐川 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 鎖定 電路 開關(guān) 控制電路 電源 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明的實(shí)施例涉及欠壓鎖定電路。具體地,這些實(shí)施例涉及可應(yīng)用于集成電路中的欠壓鎖定電路,該集成電路控制電源中的高電壓輸出。
背景技術(shù)
欠壓鎖定電路被用于控制電源的切換操作的集成電路(在下文中,稱這種集成電路為開關(guān)控制電路)。該欠壓鎖定電路對(duì)如下的保護(hù)操作加以控制:當(dāng)提供給開關(guān)控制電路的驅(qū)動(dòng)電壓為欠電壓時(shí),停止該開關(guān)控制電路的運(yùn)行。例如,開關(guān)控制電路的柵極信號(hào)的使能電平可根據(jù)驅(qū)動(dòng)電壓來確定。
常規(guī)的欠壓鎖定電路被連接到驅(qū)動(dòng)電壓,并且通過將該驅(qū)動(dòng)電壓與預(yù)定的參考范圍相比較來確定電壓是否為欠電壓。在這種情況下,當(dāng)驅(qū)動(dòng)電壓處于異常范圍時(shí),也就是說,當(dāng)驅(qū)動(dòng)電壓為欠電壓時(shí),在欠壓鎖定電路中產(chǎn)生靜態(tài)電流。也就是說,雖然執(zhí)行用于欠壓鎖定的保護(hù)操作,但是由于該靜態(tài)電流,在欠壓鎖定電路中產(chǎn)生功耗。因此,功耗增加。
為了阻止功耗的增加,根據(jù)常規(guī)的技術(shù),關(guān)閉信號(hào)被從外部提供給開關(guān)控制電路以停止欠壓鎖定電路的運(yùn)行。然而,該關(guān)閉信號(hào)應(yīng)轉(zhuǎn)換成適于開關(guān)控制電路的電壓范圍,而該開關(guān)控制電路被施加到提供高電壓的電源上。這就導(dǎo)致開關(guān)控制電路在尺寸上的增加,并且在該轉(zhuǎn)換期間又額外地產(chǎn)生功耗。
在該背景技術(shù)部分公開的上述信息僅用于增強(qiáng)對(duì)本發(fā)明的背景技術(shù)的理解,因此可包含不構(gòu)成該國內(nèi)本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員已知的現(xiàn)有技術(shù)的信息。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實(shí)施例提供一種欠壓鎖定電路,所述欠壓鎖定電路可減少欠壓鎖定電路的功耗,同時(shí)使開關(guān)控制電路在尺寸上的增加最小,并且提供一種包括所述欠壓鎖定電路的開關(guān)控制電路及電源。
根據(jù)實(shí)施例的欠壓鎖定電路包括:第一欠壓鎖定電路,所述第一欠壓鎖定電路被配置為將驅(qū)動(dòng)電壓與第一參考電壓進(jìn)行比較;以及,第二欠壓鎖定電路,所述第二欠壓鎖定電路被配置為基于所述驅(qū)動(dòng)電壓與所述第二參考電壓之間的比較結(jié)果生成欠壓鎖定信號(hào)。所述第一欠壓鎖定電路被配置為:當(dāng)所述驅(qū)動(dòng)電壓低于所述第一參考電壓時(shí),停止所述第二欠壓鎖定電路的運(yùn)行;并且,當(dāng)所述驅(qū)動(dòng)電壓高于所述第一參考電壓時(shí),使所述第二欠壓鎖定電路運(yùn)行。所述第一欠壓鎖定電路的功耗受限于生成所述第一參考電壓的第一電流。
所述第一欠壓鎖定電路包括:第一參考電壓源,所述第一參考電壓源被配置為利用所述第一電流來生成第一參考電壓;以及,比較裝置,所述比較裝置被配置為輸出所述第一參考電壓與所述驅(qū)動(dòng)電壓之間的比較結(jié)果。所述第二欠壓鎖定電路的運(yùn)行是基于所述比較裝置的輸出進(jìn)行控制的。
所述比較裝置包括:第一晶體管,所述第一晶體管包括柵極、第一端子和第二端子,所述第一參考電壓被輸入至所述第一晶體管的柵極,所述第一晶體管的第一端子與所述驅(qū)動(dòng)電壓耦合,所述第一晶體管的第二端子與所述比較裝置的輸出端耦合;以及,第二晶體管,所述第二晶體管被配置為通過鏡像所述第一電流來控制流向所述第一晶體管的電流。
所述第一參考電壓源包括:第一電流源和第二電流源,所述第一電流源和第二電流源被配置為提供所述第一電流;第三晶體管,所述第三晶體管包括漏極和柵極,所述第三晶體管的漏極耦合到所述第一電流源,所述第三晶體管的柵極耦合到所述第三晶體管的漏極;以及,第四晶體管,所述第四晶體管包括漏極和柵極,所述第四晶體管的漏極耦合到所述第二電流源和所述第一晶體管的源極,所述第四晶體管的柵極耦合到所述第四晶體管的漏極。所述第二晶體管的柵極和所述第四晶體管的柵極相耦合,從而形成電流鏡。
所述第一參考電壓為所述第三晶體管的柵-源電壓與所述第四晶體管的柵-源電壓之和。
所述第二欠壓鎖定電路包括:開關(guān),所述開關(guān)耦合到所述驅(qū)動(dòng)電壓,并且所述開關(guān)被配置為基于一控制信號(hào)進(jìn)行切換,該控制信號(hào)是基于在所述第一欠壓鎖定電路中所述驅(qū)動(dòng)電壓與所述第一參考電壓之間的比較結(jié)果而生成的;多個(gè)電阻器,所述多個(gè)電阻器與所述開關(guān)串聯(lián)連接;參考電壓源,所述參考電壓源被配置為提供所述第二參考電壓;欠壓比較器,所述欠壓比較器包括第一輸入端子和第二輸入端子,所述第一輸入端子與所述參考電壓源耦合,所述第二輸入端子耦合到所述多個(gè)電阻器中的第一電阻器與第二電阻器相耦合處的節(jié)點(diǎn)的檢測電壓,并且所述欠壓比較器被配置為基于所述第一輸入端子的輸入與所述檢測電壓之間的比較結(jié)果來生成欠壓鎖定信號(hào);以及,第五晶體管,所述第五晶體管并聯(lián)耦合到所述多個(gè)電阻器中的第三電阻器。所述第五晶體管受控于所述欠壓鎖定信號(hào)。
所述第二欠壓鎖定電路進(jìn)一步包括:第三電流源,所述第三電流源提供電流以對(duì)所述參考電壓源進(jìn)行偏置。
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