[發(fā)明專(zhuān)利]連接接口的差分信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)及其方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310594987.X
• 申請(qǐng)日: 2013-11-21
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104655951A
• 公開(kāi)（公告）日: 2015-05-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張?zhí)斐?/a>
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 英業(yè)達(dá)科技有限公司;英業(yè)達(dá)股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/00
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/00;G01R31/12
• 代理公司: 北京國(guó)昊天誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11315
• 代理人: 許志勇

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)及其方法，特別是指根據(jù)差分信號(hào)測(cè)試連接接口的差分信號(hào)線(xiàn)路的連接接口的差分信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)及其方法。

背景技術(shù)

近年來(lái)，隨著硬盤(pán)的普及與蓬勃發(fā)展，傳統(tǒng)的匯流排在頻寬上已逐漸不敷使用，因此，擴(kuò)展匯流排的頻寬與相容性已成為共識(shí)，例如：國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)組織提出了“SFF-8639”的接口規(guī)范，以便同時(shí)支援“PCI?Express”、“SATA”及“SAS”等接口。然而，在提高頻寬及相容性的同時(shí)，如何快速、有效地測(cè)試連接接口便成為各家廠(chǎng)商亟欲解決的問(wèn)題之一。

一般而言，傳統(tǒng)的連接接口測(cè)試方式是使用一臺(tái)服務(wù)器及大量的硬盤(pán)來(lái)實(shí)現(xiàn)，藉由實(shí)際連接硬盤(pán)來(lái)測(cè)試連接接口是否符合要求。然而，此方式需要花費(fèi)大量的時(shí)間進(jìn)行測(cè)試以及使用大量的硬盤(pán)，故具有測(cè)試效率低落以及成本高昂的問(wèn)題。

有鑒于此，便有廠(chǎng)商提出一種測(cè)試端設(shè)備，以探針的方式對(duì)連接接口進(jìn)行信號(hào)測(cè)試，無(wú)需實(shí)際連接大量的硬盤(pán)，所以可節(jié)省大量的測(cè)試時(shí)間及成本。然而，此方式存在差分信號(hào)的測(cè)試覆蓋率不佳的問(wèn)題。

綜上所述，可知現(xiàn)有技術(shù)中長(zhǎng)期以來(lái)一直存在差分信號(hào)的測(cè)試覆蓋率不佳的問(wèn)題，因此實(shí)有必要提出改進(jìn)的技術(shù)手段，來(lái)解決此一問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明揭露一種連接接口的差分信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)及其方法。

首先，本發(fā)明揭露一種連接接口的差分信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)，用以測(cè)試具有差分信號(hào)線(xiàn)路的連接接口，此系統(tǒng)包含：回路裝置及測(cè)試端，所述回路裝置與連接接口電性連接，用以自連接接口接收差分信號(hào)，并且將差分信號(hào)同步反饋至連接接口。所述測(cè)試端用以與連接接口電性連接，此測(cè)試端包含：第一測(cè)試模塊及第二測(cè)試模塊。其中，第一測(cè)試模塊用以產(chǎn)生一組偽隨機(jī)二進(jìn)制序列（Pseudo?Random?Binary.Sequence,PRBS），并且將此組偽隨機(jī)二進(jìn)制序列傳送至連接接口作為差分信號(hào)，以及根據(jù)反饋的差分信號(hào)測(cè)試連接接口的串列通道傳輸?shù)谋忍卣`碼率（Bit?Error?Rate,BER）；第二測(cè)試模塊用以使用邊界掃描（Boundary?Scan）方式，測(cè)試連接接口上的每一對(duì)差分信號(hào)線(xiàn)路中的單一信號(hào)線(xiàn)路的短路及開(kāi)路狀態(tài)。

另外，本發(fā)明揭露一種連接接口的差分信號(hào)測(cè)試方法，用以測(cè)試具有差分信號(hào)線(xiàn)路的連接接口，其步驟包括：將回路裝置與連接接口電性連接，以及將測(cè)試端與連接接口電性連接；測(cè)試端產(chǎn)生一組偽隨機(jī)二進(jìn)制序列，并且將此組偽隨機(jī)二進(jìn)制序列傳送至連接接口作為差分信號(hào)；回路裝置自連接接口接收差分信號(hào)，并且將差分信號(hào)同步反饋至連接接口；測(cè)試端根據(jù)反饋的差分信號(hào)測(cè)試連接接口的串列通道傳輸?shù)谋忍卣`碼率；測(cè)試端使用邊界掃描方式，測(cè)試連接接口上的每一對(duì)差分信號(hào)線(xiàn)路中的單一信號(hào)線(xiàn)路的短路及開(kāi)路狀態(tài)。

本發(fā)明所揭露的系統(tǒng)與方法如上，與現(xiàn)有技術(shù)的差異在于本發(fā)明是通過(guò)在連接接口電性連接回路裝置及測(cè)試端，并且由測(cè)試端產(chǎn)生偽隨機(jī)二進(jìn)制序列及使用邊界掃描方式來(lái)測(cè)試連接接口，以便根據(jù)回路裝置反饋的差分信號(hào)獲得連接接口的比特誤碼率及差分信號(hào)線(xiàn)路的短路及開(kāi)路狀態(tài)。

通過(guò)上述的技術(shù)手段，本發(fā)明可以達(dá)成提高差分信號(hào)的測(cè)試覆蓋率的技術(shù)功效。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明連接接口的差分信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)的系統(tǒng)方塊圖。

圖2為本發(fā)明連接接口的差分信號(hào)測(cè)試方法的方法流程圖。

圖3為本發(fā)明連接接口的差分信號(hào)測(cè)試的電路示意圖。

【符號(hào)說(shuō)明】

110?連接接口

111?差分信號(hào)線(xiàn)路

120?回路裝置

130?測(cè)試端

131?第一測(cè)試模塊

132?第二測(cè)試模塊

133?信號(hào)多路器

300?信號(hào)調(diào)節(jié)重定時(shí)器

具體實(shí)施方式

以下將配合圖式及實(shí)施例來(lái)詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式，藉此對(duì)本發(fā)明如何應(yīng)用技術(shù)手段來(lái)解決技術(shù)問(wèn)題并達(dá)成技術(shù)功效的實(shí)現(xiàn)過(guò)程能充分理解并據(jù)以實(shí)施。

在說(shuō)明本發(fā)明所揭露的連接接口的差分信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)及其方法之前，先對(duì)本發(fā)明自行定義的名詞作說(shuō)明，本發(fā)明所述的連接接口也可稱(chēng)為連接背板、連接插槽、連接端口等等，其具有差分信號(hào)線(xiàn)路。以符合“SFF-8639”接口規(guī)范的連接接口為例，此連接接口可同時(shí)支援使用“PCI?Express”、“SATA”及“SAS”等接口的硬盤(pán)裝置。