[發(fā)明專利]一種適用于FPGA的可靠性評估方法和裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310594897.0 | 申請日: | 2013-11-22 |
| 公開(公告)號: | CN103646129B | 公開(公告)日: | 2017-04-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃柯衡;葉靖;胡瑜;李曉維 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院計(jì)算技術(shù)研究所 |
| 主分類號: | G06F17/50 | 分類號: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 北京泛華偉業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11280 | 代理人: | 王勇 |
| 地址: | 100190 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 適用于 fpga 可靠性 評估 方法 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電路可靠性評估技術(shù)領(lǐng)域,具體地說,本發(fā)明涉及一種適用于FPGA的可靠性評估方法和裝置。?
背景技術(shù)
SRAM型FPGA是目前市場上主流的FPGA電路結(jié)構(gòu),它在航天、醫(yī)療、汽車等領(lǐng)域均得到廣泛的應(yīng)用。但是,SRAM型FPGA在高能粒子的轟擊下,容易發(fā)生軟錯(cuò)誤,既可能改變FPGA電路配置比特,造成電路拓?fù)溥壿嬪e(cuò)誤,也可能改變FPGA觸發(fā)器存儲(chǔ)的邏輯值,導(dǎo)致電路運(yùn)行狀態(tài)錯(cuò)誤。隨著芯片制造工藝的不斷進(jìn)步,芯片特征尺寸越來越小,軟錯(cuò)誤發(fā)生所需的高能粒子轟擊能量隨之降低,導(dǎo)致FPGA的軟錯(cuò)誤發(fā)生率也越來越大。因此,在設(shè)計(jì)過程中,通常要對FPGA(例如SRAM型FPGA)進(jìn)行可靠性評估,進(jìn)而指導(dǎo)可靠性優(yōu)化。?
FPGA可靠性評估方法主要分為兩類:基于硬件模擬的可靠性評估和基于軟件模擬的可靠性評估。基于硬件模擬的可靠性評估需要使用輻照等硬件設(shè)備,將FPGA芯片放置于輻照環(huán)境中,模擬FPGA芯片的實(shí)際工作環(huán)境,然后觀察并分析FPGA芯片受到高能粒子轟擊后的故障發(fā)生情況,從而評估出FPGA芯片的可靠性。這種方法需要價(jià)格高昂的設(shè)備,而且一般用于在電路設(shè)計(jì)后期評估可靠性。在電路設(shè)計(jì)前期,則難以通過硬件模擬的方式來指導(dǎo)電路可靠性優(yōu)化。?
基于軟件模擬的可靠性評估僅通過軟件程序模擬FPGA電路發(fā)生故障的情況,無需搭建硬件輻照平臺(tái),且在電路網(wǎng)表生成后即可進(jìn)行可靠性評估,所以能在電路設(shè)計(jì)初期為可靠性優(yōu)化提供有效的指導(dǎo)。因此,F(xiàn)PGA可靠性評估主要使用基于軟件模擬的方法。?
目前,基于軟件模擬的可靠性評估主要采用的指標(biāo)是軟錯(cuò)誤率SER(Soft?Error?Rate)。SER的計(jì)算公式如下:?
其中,NFault表示電路中待評估的故障總數(shù)。一般而言,F(xiàn)PGA電路中的每一條連線、每一個(gè)查找表(LUT,Look?Up?Table)都可能發(fā)生故障。如果查找表中發(fā)生了故障,那么這個(gè)查找表的輸出線上就會(huì)出現(xiàn)故障值,因此可以直接看做連線上發(fā)生的故障,因此,可以通過分析連線的故障來分析FPGA整體的可靠性。NERi(Node?Error?Rate)表示第i個(gè)故障的發(fā)生概率,它主要由輻照強(qiáng)度和故障位置對應(yīng)的配置比特?cái)?shù)目決定。輻照強(qiáng)度越大,高能粒子越多、能量越大,則FPGA受高能粒子轟擊后發(fā)生故障的可能性越大。另一方面,故障位置對應(yīng)的配置比特?cái)?shù)目越多,故障發(fā)生的可能性也越大。例如,F(xiàn)PGA電路中的連線由多個(gè)配置比特決定,任意一個(gè)配置比特受高能粒子轟擊而翻轉(zhuǎn),都會(huì)使該連線發(fā)生故障,因此,連線的配置比特?cái)?shù)目越多,發(fā)生故障的可能性越大。EPPi(Error?Propagation?Probability)表示第i個(gè)故障使電路失效的概率,它主要由電路拓?fù)溥壿嫑Q定。?
EPP計(jì)算方法可分為兩類,分別是:基于蒙特卡諾的EPP計(jì)算法(下文中簡稱為蒙特卡諾法)和基于概率分析的EPP計(jì)算法(下文中簡稱為概率分析法)。?
基于蒙特卡諾法需要遍歷所有待評估故障和輸入向量,其流程如圖1所示。具體地,蒙特卡諾法首先選取一個(gè)待評估故障F,然后遍歷所有可能的輸入向量,對于每個(gè)輸入向量P,分析該輸入向量P下故障F是否使電路失效,具體的分析方法是計(jì)算輸入向量P下電路正常的輸出結(jié)果,以及故障F下向量P輸入電路后所得的輸出結(jié)果,如結(jié)果不同則電路失效。這樣遍歷所有輸入向量后,即可得出當(dāng)前待評估故障的EPP。將第i個(gè)待評估故障的EPP記為EPPi,則EPPi的計(jì)算公式如下:?
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