[發明專利]一種電子裝備屏蔽效能測試系統及方法在審

申請號：	201310590824.4	申請日：	2013-11-19
公開（公告）號：	CN103630777A	公開（公告）日：	2014-03-12
發明（設計）人：	郭恩全;陳晨;杜浩;趙乾	申請（專利權）人：	陜西海泰電子有限責任公司
主分類號：	G01R31/00	分類號：	G01R31/00
代理公司：	西安智邦專利商標代理有限公司 61211	代理人：	張倩
地址：	710075 陜西***	國省代碼：	陜西;61
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種電子裝備屏蔽效能測試系統方法
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【說明書】：

技術領域

本發明涉及電磁兼容性測試技術領域，指的是一種電子裝備屏蔽效能測試系統。

背景技術

隨著電子顯示、控制系統和復合材料的廣泛應用，飛機、艦船等電子系統的電磁敏感度越來越高。另一方面，人類活動造成的電磁環境問題越來越嚴重。由于雷達、無線電、電視、衛星上行數據等高功率發射機的輻射，高強輻射場(High?Intensity?Radiation?Fields,HIRF)已經成為影響飛機、艦船等電子系統安全的重要因素。為了保證電子系統在HIRF下安全運行，需要對電子系統進行HIRF下的輻射敏感度試驗。

在100MHz～18GHz頻率范圍，外部電磁場對帶有屏蔽界面（如飛機機身、屏蔽方艙、船舶艙室、火箭外殼等）電子裝備的干擾主要是通過屏蔽體的屏蔽耦合以及屏蔽體內部的傳輸耦合，因此該頻段HIRF輻射敏感度試驗需要采用屏蔽效能測試的方法。首先對電子裝備各屏蔽艙室的屏蔽效能進行測試，當已知裝備外部輻射場電平后，減去該屏蔽衰減量后就是裝備內部設備所在處的場強；然后可以在暗室或在混響室中產生該等級的場強，采用設備輻射敏感度測試的方法對受試系統的HIRF敏感度進行考評。

標準GJB5240-2004《軍用電子裝備通用機箱機柜屏蔽效能要求和測試方法》中規定了機箱機柜類設備屏蔽效能測試方法，標準GB12190-2006《電磁屏蔽室屏蔽效能測量方法》中規定了電磁兼容測試屏蔽室的屏蔽效能測試方法，均采用了在屏蔽體中心位置處配置發射天線，屏蔽體外配置接收天線，屏蔽體存在與不存在兩種情況下同一位置處場強測量結果對比的方法來測量屏蔽效能。但上述測試方法無法適用于電子裝備屏蔽艙室的屏蔽效能測試：首先，電子裝備屏蔽艙室內有眾多電磁敏感設備，在艙室內配置發射天線可能對敏感設備正常工作造成影響乃至損毀；其次，由于艙室狹小的空間內分布了大量電子設備，由于反射及駐波現象的存在造成艙室內部電場分布非常復雜，設備位置的細微改變都可能造成設備處電場的劇烈變化。因此，探索工程上切實可行的電子裝備屏蔽效能測試系統具有重要的應用價值。

發明內容

為了解決現有的屏蔽效能測試方法存在損壞敏感設備、不穩定的技術問題，本發明提供一種電子裝備屏蔽效能測試系統及方法，可用于電子裝備在HIRF環境下的輻射敏感度測試。

本發明通過以下技術方案來實現上述目的：

一種電子裝備屏蔽效能測試系統，其特征在于：包括射頻信號源1、功率放大器3、發射天線4、接收天線5、頻譜分析儀或接收機7以及控制計算機9，分為校準和測量兩種情形，所述射頻信號源1與功率放大器3的一端連接，功率放大器3的另一端與發射天線連接，所述發射天線安裝在高度可調的發射天線支架上，校準時接收天線安裝在接收天線支架上，測量時接收天線固定在被測對象的屏蔽艙室內，所述頻譜分析儀或接收機的輸入端用于接收由接收天線測得的射頻信號，所述頻譜分析儀或接收機7的輸出端與控制計算機9連接，所述控制計算機9控制射頻信號源1、功率放大器3、頻譜分析儀或接收機7的工作，所述發射天線與接收天線正對。

上述射頻信號源1與功率放大器3之間以及功率放大器3與發射天線4之間通過低損耗同軸電纜2連接。

上述接收天線5與頻譜分析儀或接收機7之間通過光纖或低損耗同軸電纜6連接；

所述頻譜分析儀或接收機7、射頻信號源1以及功率放大器3均通過GPIB或LAN控制線8與控制計算機9連接。

上述發射天線和接收天線之間的地面鋪設有吸波材料層。

上述發射天線與接收天線相距10m。

電子裝備屏蔽效能測試系統的測試方法，其特殊至之處在于，包括以下步驟：

1】校準：

1.1】選定布局，將接收天線固定在與被測對象的中心同樣高度的位置，同時固定發射天線，使得發射天線正對接收天線；

1.2】根據測試要求，控制計算機生成測試頻率列表；

1.3】測量通道衰減量：

測試接收天線到頻譜分析儀或接收機7之間的通道衰減量；

1.4】電場測量；