[發(fā)明專利]一種用于正負離子反應研究的質(zhì)譜儀系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310581619.1
• 申請日: 2013-11-19
• 公開（公告）號: CN104658848A
• 公開（公告）日: 2015-05-27
• 發(fā)明（設計）人: 丁航宇
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州美實特質(zhì)譜儀器有限公司
• 主分類號: H01J49/00
• 分類號: H01J49/00;H01J49/42;H01J49/02
• 代理公司: 常州佰業(yè)騰飛專利代理事務所(普通合伙) 32231
• 代理人: 金輝

1.一種用于正負離子反應研究的質(zhì)譜儀系統(tǒng)；其特征在于：包括產(chǎn)生正離子的第一離子源（1）、第一離子光學系統(tǒng)（10）、產(chǎn)生負離子的第二離子源（2）、第二離子光學系統(tǒng)（20）、同時存儲正離子和負離子的離子阱（3）、與所述離子阱（3）連接的第一工作電源（30）、可用于檢測反應產(chǎn)物的飛行時間質(zhì)譜儀（4）；從所述第一離子源（1）產(chǎn)生的正離子經(jīng)所述第一離子光學系統(tǒng)（10）進入所述離子阱（3），同時從所述第二離子源（2）產(chǎn)生的負離子經(jīng)所述第二離子光學系統(tǒng)（20）進入所述離子阱（3）中，在所述離子阱（3）中正離子和負離子碰撞化學反應后被第一工作電源（30）產(chǎn)生的脈沖電壓逐出所述離子阱（3）進入飛行時間質(zhì)譜儀（4）作質(zhì)量分析。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于正負離子反應研究的質(zhì)譜儀系統(tǒng)，其特征在于：所述飛行時間質(zhì)譜儀（4）中有離子加速區(qū)（40）、離子探測器（5）、與所述離子探測器（5）連接的第二工作電源（50）；反應產(chǎn)物被逐出所述離子阱（3）后經(jīng)所述離子加速區(qū)（40）到達所述離子探測器（5）。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于正負離子反應研究的質(zhì)譜儀系統(tǒng)，其特征在于：在所述第一離子源（1）和所述第一離子光學系統(tǒng)（10）之間連接有第一四極桿質(zhì)量分析器（11）；在所述第二離子源（2）和所述第二離子光學系統(tǒng)（20）之間連接有第二四極桿質(zhì)量分析器（21）。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于正負離子反應研究的質(zhì)譜儀系統(tǒng)，其特征在于：在所述第一離子源（1）和所述第一離子光學系統(tǒng)（10）之間連接有第一四極桿質(zhì)量分析器（11）；所述第二離子源（2）是電子束源，所述第一離子源（1）是電子轟擊離子源或電噴霧電離離子源或基質(zhì)輔助的激光脫附電離離子源。

5.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項所述的用于正負離子反應研究的質(zhì)譜儀系統(tǒng)，其特征在于：所述第一離子源（1）是電子轟擊電離離子源或電噴霧電離離子源或光電離離子源；所述第二離子源（2）是化學電離離子源或電噴霧電離離子源。

6.根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項所述的用于正負離子反應研究的質(zhì)譜儀系統(tǒng)，其特征在于：所述飛行時間質(zhì)譜儀（4）是直線型或反射式。