[發明專利]一種氮化硼-硒化鎘量子點混合場效應光晶體管及其制造方法無效
| 申請號: | 201310580655.6 | 申請日: | 2013-11-19 |
| 公開(公告)號: | CN103681939A | 公開(公告)日: | 2014-03-26 |
| 發明(設計)人: | 林時勝;李文淵;張金石 | 申請(專利權)人: | 浙江大學 |
| 主分類號: | H01L31/112 | 分類號: | H01L31/112;H01L31/0352;H01L31/18 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務所有限公司 33200 | 代理人: | 韓介梅 |
| 地址: | 310027 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 氮化 硒化鎘 量子 混合 場效應 晶體管 及其 制造 方法 | ||
1.一種氮化硼-硒化鎘量子點混合場效應光晶體管,其特征在于自下而上依次有Si層(1)和SiO2層(2)的Si/SiO2復合晶片、n層氮化硼層(3),n=1-8、兩塊在同一水平面上彼此相隔的金電極(4)、在兩塊金電極(4)之間有CdSe量子點層(5),CdSe量子點層(5)中的CdSe量子點的直徑為3-8nm。
2.根據權利要求1所述的氮化硼-硒化鎘量子點混合場效應光晶體管,其特征在于Si/SiO2復合晶片的SiO2層(2)的厚度為30-300nm,Si層(1)厚度為200μm。
3.根據權利要求1所述的氮化硼-硒化鎘量子點混合場效應光晶體管,其特征在于CdSe量子點層(5)的厚度為10-600nm。
4.制造權利要求1所述的氮化硼-硒化鎘量子點混合場效應光晶體管的方法,其特征在于包括如下步驟:
1)使用微機械力方法,用膠帶從六方氮化硼晶體上剝離n層氮化硼,n=1-8,再將氮化硼黏貼到清洗干凈的Si/SiO2復合晶片的SiO2層上;
2)在氮化硼層上旋涂質量濃度1%-10%的聚甲基丙烯酸甲酯,采用電子束曝光法在聚甲基丙烯酸甲酯涂層上刻蝕出金電極圖形;
3)采用電子束蒸發方法,在刻蝕的金電極圖形上依次沉積5nmNi和20-100nmAu,作為場效應光晶體管的源極和漏極;
4)將丙烯酸羥丙酯充分溶解于氧化三辛基膦中,得到氧化三辛基膦丙烯酸羥丙酯混合溶液,混合溶液中丙烯酸羥丙酯的質量濃度為8%;將Se、Cd(CH3)2和三丁基膦按質量比1:2:38混合,得到儲備液,將0.5-2ml儲備液倒入加熱至360℃的2-4g上述氧化三辛基膦丙烯酸羥丙酯混合溶液中,保持360℃溫度不變,反應0.1-1小時,自然冷卻至室溫,得到CdSe量子點溶液;
5)采用旋涂的方法將步驟4)制得的CdSe量子點溶液涂覆到二塊金電極之間的氮化硼層上,得到氮化硼-硒化鎘量子點混合場效應光晶體管。
5.根據權利要求4所述的氮化硼-硒化鎘量子點混合場效應光晶體管的制造方法,其特征在于所述的清洗Si/SiO2復合晶片是先依次用去離子水、丙酮和異丙醇清洗,然后再用O2:Ar=1:1的混合等離子氣體清洗。
6.根據權利要求1所述的氮化硼-硒化鎘量子點混合場效應光晶體管的制造方法,其特征在于步驟2)的電子束曝光刻蝕的曝光時間為1-2s、顯影時間40s-1min。
7.根據權利要求1所述的氮化硼-硒化鎘量子點混合場效應光晶體管的制造方法,其特征在于步驟3)的電子束蒸發過程中,氣壓控制在5×10-3Pa以下。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





