[發(fā)明專(zhuān)利]一種新型組合測(cè)試用例生成方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310578532.9 | 申請(qǐng)日: | 2013-11-15 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103544109A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-01-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 梁旭;郭書(shū)杰;黃明 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 大連交通大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G06F11/36 | 分類(lèi)號(hào): | G06F11/36 |
| 代理公司: | 大連東方專(zhuān)利代理有限責(zé)任公司 21212 | 代理人: | 曲永祚;李洪福 |
| 地址: | 116028 遼寧*** | 國(guó)省代碼: | 遼寧;21 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 新型 組合 測(cè)試 生成 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種組合測(cè)試用例生成方法,屬于軟件測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
組合測(cè)試是一種基于規(guī)約的軟件測(cè)試技術(shù),可以在保證缺陷檢測(cè)能力的基礎(chǔ)上,減少測(cè)試用例的規(guī)模。組合測(cè)試是提高軟件測(cè)試效率的有效方法,是保證軟件質(zhì)量的重要手段。伴隨著軟件高度可配置化的發(fā)展趨勢(shì),組合測(cè)試已經(jīng)成為一種應(yīng)用廣泛的有效測(cè)試手段。組合測(cè)試用例集的生成是組合測(cè)試的關(guān)鍵問(wèn)題,對(duì)于同一強(qiáng)度的組合測(cè)試來(lái)說(shuō),測(cè)試用例集的規(guī)模越小越好。為了減小所生成的組合測(cè)試用例集規(guī)模,提高組合測(cè)試的效率,提出了本發(fā)明。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)組合測(cè)試用例生成問(wèn)題的特點(diǎn),本發(fā)明提出了一種基于差分進(jìn)化算法的新型組合測(cè)試用例生成方法。
本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
定義:
組態(tài)——軟件t個(gè)輸入項(xiàng)的全部組合構(gòu)成的集合稱(chēng)為強(qiáng)度為t的組態(tài)。假設(shè)一個(gè)系統(tǒng)共有4個(gè)輸入項(xiàng),I1,I2,I3,I4;則它的強(qiáng)度為3的組態(tài)為{(I1,I2,I3),(I1,I2,I4),(I1,I3,I4),(I2,I3,I4)}。
組態(tài)表——對(duì)于組態(tài)中的各個(gè)元素,覆蓋全部可選值的組合構(gòu)成的集合稱(chēng)為組態(tài)表。假設(shè)輸入項(xiàng)I1、I2均有兩個(gè)可選值0和1,則組態(tài)元素(I1,I2)的覆蓋全部可選值的集合為{(0,0),(0,1),(1,0),(1,1)}。
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)結(jié)構(gòu):
可選值的存儲(chǔ)——用鏈表存儲(chǔ)各個(gè)輸入項(xiàng)的可選值。使用這種存儲(chǔ)方式,可以在可選值與其在鏈表中的位置之間建立一一對(duì)應(yīng)關(guān)系。在優(yōu)化過(guò)程中,設(shè)定各個(gè)輸入項(xiàng)先后順序的基礎(chǔ)上,可以使用可選值在鏈表中的位置值來(lái)替代可選值的具體值,來(lái)解決DE中解的實(shí)數(shù)編碼問(wèn)題。
假設(shè)系統(tǒng)S有3個(gè)輸入項(xiàng),人為規(guī)定其順序?yàn)镮1,I2,I3。其中I1有2個(gè)可選值V1={true,false};I2有3個(gè)可選值V2={0,10,20};I3有2個(gè)可選值V3={“PRC”,”USA”}。則測(cè)試用例{false,20,“PRC”}的編碼為{1,2,0},如附圖1所示。
組態(tài)的存儲(chǔ)——按照規(guī)定的順序?qū)⑾到y(tǒng)的各個(gè)輸入項(xiàng)存儲(chǔ)在鏈表中Li中;以鏈表的形式將組態(tài)中各個(gè)輸入項(xiàng)在Li中的位置存儲(chǔ)起來(lái),就構(gòu)成了組態(tài)的存儲(chǔ)方式。系統(tǒng)S的組態(tài)存儲(chǔ)結(jié)構(gòu)如附圖2所示。
組態(tài)表的存儲(chǔ)——使用字典結(jié)構(gòu)來(lái)存儲(chǔ)組態(tài)表,以便通過(guò)組態(tài)來(lái)查詢組態(tài)表。字典的Key值為組態(tài)中的元素,如(0,1)、(1,2)等;Value為組態(tài)表中該元素對(duì)應(yīng)的組合構(gòu)成的鏈表。系統(tǒng)S中,Key=(0,1)時(shí),Value={(0,0),(0,1),(0,2),(1,0),(1,1),(1,2)}
組合覆蓋評(píng)價(jià)方案:
通過(guò)測(cè)試用例覆蓋的有效組態(tài)元素的數(shù)量來(lái)評(píng)價(jià)該測(cè)試用例的優(yōu)劣。假設(shè)現(xiàn)有測(cè)試用例集TR(i)中包含的測(cè)試用例數(shù)量為m,組態(tài)表中被這m個(gè)測(cè)試用例覆蓋的部分為C,未被覆蓋的部分為UC,測(cè)試用例TCj能夠覆蓋UC中的n個(gè),則TCj的適應(yīng)度為n。
組合測(cè)試用例生成:
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
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