[發明專利]絕緣子檢測方法和裝置

有效

• 申請號: 201310577356.7
• 申請日: 2013-11-18
• 公開（公告）號: CN103558149A
• 公開（公告）日: 2014-02-05
• 發明（設計）人: 屠幼萍;周益揚;王璁;王景春;龔博;徐康泰;許卓
• 申請（專利權）人: 華北電力大學
• 主分類號: G01N19/04
• 分類號: G01N19/04
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 江舟;吳貴明

1.一種絕緣子檢測方法，其特征在于，包括：

在第一樣品中的第一芯棒與第一護套的交界面的兩側加載一對大小相等、相互平行且方向相反的第一作用力，用于使所述第一芯棒與所述第一護套發生第一相對位移，其中，所述第一樣品截取自待測復合絕緣子；

記錄所述第一相對位移達到的多個不同的第一位移值以及每一所述第一位移值對應的所述第一作用力的大小；

根據記錄的每一所述第一位移值以及每一所述第一位移值對應的所述第一作用力的大小形成的第一相對位移-作用力曲線與第二相對位移-作用力曲線之間的比較判斷所述待測復合絕緣子的粘接性能是否達到預設標準，其中，所述第二相對位移-作用力曲線獲取自粘接性能與所述預設標準對應的參照復合絕緣子。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根據記錄的每一所述第一位移值以及每一所述第一位移值對應的所述第一作用力的大小形成的第一相對位移-作用力曲線與第二相對位移-作用力曲線之間的比較判斷所述待測復合絕緣子的粘接性能是否達到預設標準之前，還包括：

在第二樣品中的第二芯棒與第二護套的交界面的兩側加載一對大小相等、相互平行且方向相反的第二作用力，用于使所述第二芯棒與所述第二護套發生第二相對位移，其中，所述第二樣品截取自所述參照復合絕緣子，且所述第二樣品的形狀與所述第一樣品的形狀相互對應；

記錄所述第二相對位移達到的多個不同的第二位移值以及每一所述第二位移值對應的所述第二作用力的大小，并根據記錄的每一所述第二位移值以及每一所述第二位移值對應的所述第二作用力的大小獲取所述第二相對位移-作用力曲線。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據記錄的每一所述第一位移值以及每一所述第一位移值對應的所述第一作用力的大小形成的第一相對位移-作用力曲線與第二相對位移-作用力曲線之間的比較判斷所述待測復合絕緣子的粘接性能是否達到預設標準包括：

若滿足以下條件至少之一：F₁(δ)/F₂(δ)>r₁、F₁(δ)-F₂(δ)>△₁、max[F₁]/max[F₂]>r₃、max[F₁]-max[F₂]>△₃、則判斷出所述待測復合絕緣子的粘接性能達到所述預設標準；或者，

若滿足以下條件至少之一：F₁(δ)/F₂(δ)<r₁、F₁(δ)-F₂(δ)<△₁、max[F₁]/max[F₂]<r₃、max[F₁]-max[F₂]<△₃、則判斷出所述待測復合絕緣子的粘接性能未達到所述預設標準；其中，

r₁表示第一比例閾值，△₁表示第一差值閾值，r₂表示第二比例閾值，△₂表示第二差值閾值，r₃表示第三比例閾值，△₃表示第三差值閾值，r₄表示第四比例閾值，△₄表示第四差值閾值，δ表示一個位移值，F₁(δ)表示在所述第一相對位移‐作用力曲線上與位移值δ對應的作用力，F₂(δ)表示在所述第二相對位移‐作用力曲線上與位移值δ對應的作用力，表示分布在所述第一相對位移‐作用力曲線上的作用力的大小的平均值，表示分布在所述第二相對位移‐作用力曲線上的作用力的大小的平均值，其中，F‾1=F1(δ1)+F1(δ2)...+F1(δn)n,]]>F‾2=F2(δ1)+F2(δ2)...+F2(δn)n,]]>δ₁至δ_n表示多個不同的位移值，其中，n≥2，max[F₁]表示分布在所述第一相對位移-作用力曲線上的作用力的大小的最大值，max[F₂]表示分布在所述第二相對位移-作用力曲線上的作用力的大小的最大值，表示分布在所述第一相對位移-作用力曲線上的max[F₁]附近的多個作用力的大小的平均值，表示分布在所述第二相對位移-作用力曲線上的max[F₂]附近的多個作用力的大小的平均值。