[發(fā)明專利]一種FCoE虛鏈路故障檢測方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310576186.0
• 申請(qǐng)日: 2013-11-18
• 公開（公告）號(hào): CN103607321A
• 公開（公告）日: 2014-02-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳進(jìn)才;余樂;周功業(yè);周可;張英男;劉玉虎;盧萍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 華中科技大學(xué)
• 主分類號(hào): H04L12/26
• 分類號(hào): H04L12/26;H04L1/00
• 代理公司: 華中科技大學(xué)專利中心 42201
• 代理人: 朱仁玲

1.一種FCoE虛鏈路故障檢測方法，包括以下步驟：

步驟301、ENode或FCF在虛鏈路上傳輸完一個(gè)FCoE報(bào)文后，設(shè)置各自相應(yīng)的一個(gè)虛鏈路空閑定時(shí)器，超時(shí)時(shí)間為AVG_TRAN_TIME；

步驟302、如果在ENode虛鏈路空閑定時(shí)器或FCF虛鏈路空閑定時(shí)器超時(shí)前FCoE設(shè)備上有數(shù)據(jù)到達(dá)，則刪除該虛鏈路空閑定時(shí)器，待數(shù)據(jù)傳輸完成后重新設(shè)置該虛鏈路空閑定時(shí)器；

步驟303、如果ENode虛鏈路空閑定時(shí)器超時(shí)，ENode設(shè)置ENode虛鏈路失效定時(shí)器，超時(shí)時(shí)間設(shè)置為2.5×REP_FKA_ADV_PERIOD_0,并向?qū)Χ税l(fā)送FIP保活報(bào)文；

步驟304、FCF接收到ENode發(fā)送的FIP保活報(bào)文，向ENode反饋非請(qǐng)求發(fā)現(xiàn)通告報(bào)文；

步驟305、ENode在上述ENode虛鏈路失效定時(shí)器超時(shí)前收到FCF反饋的非請(qǐng)求發(fā)現(xiàn)通告報(bào)文，因此，ENode檢測出與FCF之間的FCoE虛鏈路沒有出現(xiàn)故障，ENode刪除ENode虛鏈路失效定時(shí)器，繼續(xù)維持FCoE虛鏈路，并重新設(shè)置ENode虛鏈路空閑定時(shí)器；

步驟306、如果FCF虛鏈路空閑定時(shí)器超時(shí)，F(xiàn)CF設(shè)置FCF虛鏈路失效定時(shí)器，超時(shí)時(shí)間設(shè)置為2.5×REP_FKA_ADV_PERIOD_1,并向?qū)Χ税l(fā)送FIP非請(qǐng)求發(fā)現(xiàn)通告報(bào)文；

步驟307、ENode接收到FCF發(fā)送的FIP非請(qǐng)求發(fā)現(xiàn)通告報(bào)文，向FCF反饋FIP保活報(bào)文；

步驟308、FCF在上述FCF虛鏈路失效定時(shí)器超時(shí)前收到ENode反饋的FIP保活報(bào)文，因此，F(xiàn)CF檢測出與ENode之間的FCoE虛鏈路沒有出現(xiàn)故障，F(xiàn)CF刪除FCF虛鏈路失效定時(shí)器，繼續(xù)維持FCoE虛鏈路，并重新設(shè)置FCF虛鏈路空閑定時(shí)器。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法，步驟301中，AVG_TRAN_TIME按如下步驟設(shè)置并動(dòng)態(tài)更新：

令A(yù)VG_TRAN_TIME=t₁×0.4+1.2×t₂×0.6，設(shè)定t₁,t₂的初始值，每當(dāng)虛鏈路上有報(bào)文到達(dá)時(shí)，計(jì)算當(dāng)前時(shí)間與上一報(bào)文到達(dá)時(shí)間的差值，并更新t₂的值為該差值，然后更新t₁為當(dāng)前AVG_TRAN_TIME的值，并根據(jù)更新后的t₁,t₂重新計(jì)算AVG_TRAN_TIME；如果在空閑定時(shí)器超時(shí)時(shí)仍沒有數(shù)據(jù)到達(dá)，則令t₂恢復(fù)為初始值,更新t₁為當(dāng)前AVG_TRAN_TIME的值，并重新計(jì)算AVG_TRAN_TIME，如果AVG_TRAN_TIME大于（t_1初始值×0.4+1.2×t_2初始值×0.6），則令A(yù)VG_TRAN_TIME=（t_1初始值×0.4+1.2×t_2初始值×0.6）。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測方法，其中，設(shè)定初始值為t₁=1000ms,t₂=1000ms。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法，步驟303中，參數(shù)REP_FKA_ADV_PERIOD_0設(shè)置為100ms，ENode虛鏈路失效定時(shí)器的超時(shí)時(shí)間為250ms。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法，步驟306中，參數(shù)REP_FKA_ADV_PERIOD_1設(shè)置為100ms，F(xiàn)CF虛鏈路失效定時(shí)器的超時(shí)時(shí)間為250ms。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法，其中，步驟303至305與步驟306至308同時(shí)進(jìn)行。