[發(fā)明專利]一種基于MooN架構(gòu)獲取定期試驗(yàn)周期的計(jì)算方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310573294.2
• 申請(qǐng)日: 2013-11-13
• 公開（公告）號(hào): CN103559412A
• 公開（公告）日: 2014-02-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李明利;石桂連;齊敏;謝逸欽;程康;莫昌瑜;陳江華;李熊;唐慶;楊婷
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京廣利核系統(tǒng)工程有限公司;中國廣核集團(tuán)有限公司
• 主分類號(hào): G06F19/00
• 分類號(hào): G06F19/00
• 代理公司: 北京元中知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11223
• 代理人: 王明霞

1.一種基于MooN架構(gòu)獲取定期試驗(yàn)周期的計(jì)算方法，設(shè)待測(cè)試系統(tǒng)的通道數(shù)量為N，其特征在于，將N個(gè)通道的正常狀態(tài)與失效狀態(tài)進(jìn)行不同組合，以得到N個(gè)通道中N-M+1個(gè)通道失效的系統(tǒng)失效組合，其中，假設(shè)每個(gè)通道的失效率相同并以λ來表示，針對(duì)待測(cè)試系統(tǒng)的定期試驗(yàn)周期為T，定期試驗(yàn)帶來的風(fēng)險(xiǎn)降低為Q，則：待測(cè)試系統(tǒng)的每個(gè)通道獨(dú)立試驗(yàn)時(shí)的不可用性為：

Q=CNN-M+1×(λT2)N-M+1---(1)]]>

待測(cè)試系統(tǒng)的所有通道同時(shí)試驗(yàn)時(shí)的不可用性為：

Q=1T×CNN-M+1×∫0T((T-t)×λ×e-λt)N-M+1dt---(2)]]>

待測(cè)試系統(tǒng)的所有通道進(jìn)行完全交錯(cuò)試驗(yàn)時(shí)的不可用性計(jì)算為：

Q=NT×∫0TN(λ×e-λt)N-M+1×Didt---(3)]]>

其中Di=Σ0≤ti<t2<...<iN-M+1≤N(i1+1NT-t)(i2+1NT-t)...(iN-M+1+1NT-t),]]>

將上述各式的分析結(jié)果分別帶入相應(yīng)等式的左側(cè)，然后不斷調(diào)整T的值，用計(jì)算出的不可用性與預(yù)期的不可用進(jìn)行比較，當(dāng)二者接近時(shí)的T值即為此待測(cè)試系統(tǒng)的定期試驗(yàn)周期。