[發(fā)明專利]低功耗數(shù)字多功能表

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310572609.1
• 申請日: 2013-11-18
• 公開（公告）號: CN104655898A
• 公開（公告）日: 2015-05-27
• 發(fā)明（設計）人: 徐麗萍;唐正彬
• 申請（專利權(quán)）人: 徐麗萍
• 主分類號: G01R15/12
• 分類號: G01R15/12
• 代理公司: 無
• 代理人: 無

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于核算裝置領(lǐng)域，尤其涉及一種低功耗數(shù)字多功能表的改進。

背景技術(shù)

電子測量儀器儀表是目前電子學較為成熟且不斷發(fā)展的研究領(lǐng)域，具有多年的研究積淀。但隨著電子技術(shù)的進步，電子測量儀器朝著智能化、多功能化、使用方便、節(jié)能環(huán)保的方向發(fā)展。這不但電測和儀器本身的變革，而且使它們增加了很多新的增長點。因此需要一種低功耗的具有智能量程選擇功能和頻率可調(diào)波形可選的信號發(fā)生功能的低功耗多功能表。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明就是針對上述問題，提供一種能測量多種信號、低功耗有記憶對比功能的低功耗數(shù)字多功能表。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案，本發(fā)明包括核心控制模塊，電流測量模塊、電阻測量模塊、電容測量模塊、電壓測量模塊、比較模塊、顯示模塊、放大模塊和記憶模塊，其結(jié)構(gòu)要點是：所述的電流測量模塊、電阻測量模塊、電容測量模塊和電壓測量模塊均與核心控制模塊的輸入端口相連，核心控制模塊的輸出端口與比較模塊、放大模塊的輸入端口相連，比較模塊的輸出端口與記憶模塊相連，放大模塊的輸出模塊與顯示模塊相連。

作為一種優(yōu)選方案，本發(fā)明所述核心控制模塊為MSP430F157單片機；MSP430F157是TI公司推出的一款超低功耗的16位單片機，其內(nèi)部集成了大量的實用外設。內(nèi)部8通道ADC大大簡化了系統(tǒng)設計、看門狗定時器方便設計定時自動休眠。另外，MSP430F157具有六組I/O口，引腳多，方便設計，且P1、P2口支持外部中斷，所有按鍵均可通過中斷來實現(xiàn)，既提高了系統(tǒng)的響應速度和精度，又避免了對按鍵反復查詢，降低了功耗。

本發(fā)明有益效果。

本發(fā)明所述的電流測量模塊、電阻測量模塊、電容測量模塊和電壓測量模塊均與核心控制模塊的輸入端口相連，核心控制模塊的輸出端口與比較模塊、放大模塊的輸入端口相連，比較模塊的輸出端口與記憶模塊相連，放大模塊的輸出模塊與顯示模塊相連。本發(fā)明可實現(xiàn)電壓、電流、電阻和電容的測量和記憶和比較，使用非常方便。并且本發(fā)明充分利用MSP430F157的多種低功耗模式,只要一分鐘內(nèi)無任何操作,系統(tǒng)將進入休眠模式,等待用戶按鍵喚醒。除此之外，為了最大限度的降低功耗延長電池的供電時間，在一個模塊處在測量狀態(tài)時，系統(tǒng)將對其他的測量模塊斷電。

附圖說明

為了使本發(fā)明所解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及具體實施方式，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施方式僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。

圖1是本發(fā)明電路原理框圖。

具體實施方式

如圖所示，本發(fā)明包括核心控制模塊，電流測量模塊、電阻測量模塊、電容測量模塊、電壓測量模塊、比較模塊、顯示模塊、放大模塊和記憶模塊，所述的電流測量模塊、電阻測量模塊、電容測量模塊和電壓測量模塊均與核心控制模塊的輸入端口相連，核心控制模塊的輸出端口與比較模塊、放大模塊的輸入端口相連，比較模塊的輸出端口與記憶模塊相連，放大模塊的輸出模塊與顯示模塊相連。

本發(fā)明所述核心控制模塊為MSP430F157單片機；MSP430F157是TI公司推出的一款超低功耗的16位單片機，其內(nèi)部集成了大量的實用外設。內(nèi)部8通道ADC大大簡化了系統(tǒng)設計、看門狗定時器方便設計定時自動休眠。另外，MSP430F157具有六組I/O口，引腳多，方便設計，且P1、P2口支持外部中斷，所有按鍵均可通過中斷來實現(xiàn)，既提高了系統(tǒng)的響應速度和精度，又避免了對按鍵反復查詢，降低了功耗。

電阻測量模塊電路使用了一個壓控電流源，控制量為MSP430F157內(nèi)部的DAC輸出電壓。量程選定后，DAC輸出電壓不再變化，受控的電流源恒流，Rx上的電壓就和待測電阻的大小成線性關(guān)系，將這個電壓采集到MSP430F157的ADC某一通道，經(jīng)過相應處理可得待測電阻值。