[發(fā)明專利]測試電路

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310571270.3
• 申請日: 2013-11-13
• 公開（公告）號: CN104635145A
• 公開（公告）日: 2015-05-20
• 發(fā)明（設計）人: 王鑫;陳元喜
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G01R31/30
• 分類號: G01R31/30
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發(fā)明涉及一種測試電路。

背景技術

在雙倍速率同步動態(tài)隨機存儲器（DDR）的電路功能完整性測試中，需要測試DDR在不同電壓下的工作狀況，其中不同電壓的切換是通過手動控制切換開關來完成，存在較大的不穩(wěn)定性。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于此，有必要提供一種通過智能切換輸入電壓的測試電路。

一種測試電路，包括：

一控制器，所述控制器于每一測試周期內(nèi)先后輸出高電平信號及低電平信號；

第一至第四電阻；

一測試端；

第一至第三電壓輸入端；及

第一至第六電子開關，第一電子開關的第一端連接于所述控制器，第一電子開關的第二端通過第一電阻連接于第一電壓輸入端，第一電子開關的第三端通過第二電阻接地；第二電子開關的第一端連接于所述控制器，第二電子開關的第二端通過第三電阻連接于所述第一電壓輸入端，第二電子開關的第三端通過第四電阻接地；第三電子開關的第一端連接于第二電子開關的第二端，第三電子開關的第二端連接于第二電壓輸入端，第三電子開關的第三端連接一負載；第四電子開關的第一端連接于第一電子開關的第三端，第四電子開關的第二端連接于第三電壓輸入端，第四電子開關的第三端連接于所述負載，第五電子開關的第一端連接于第三電子開關的第一端，第五電子開關的第二端連接于第二電壓輸入端，第五電子開關的第三端連接于所述測試端，第六電子開關的第一端連接于第四電子開關的第一端，第六電子開關的第二端連接于第三電壓輸入端，第六電子開關的第三端連接于所述測試端，控制器輸出高電平信號時，第一、第二、第四及第六電子開關的第二端及第三端導通，第三及第五電子開關的第二端及第三端斷開，控制器輸出低電平信號時，第一、第二、第四及第六電子開關的第二端及第三端斷開，第三及第五電子開關的第二端及第三端導通。

所述測試電路能夠根據(jù)控制器輸出的高低電平信號選擇連接第二電壓輸入端或第三電壓輸入端。

附圖說明

圖1為本發(fā)明測試電路的電路圖。

主要元件符號說明

測試電路10控制器20負載30電子開關Q1-Q6電阻R1-R4電壓輸入端P5V、VDD、VTT測試端VSENSE

如下具體實施方式將結合上述附圖進一步說明本發(fā)明。

具體實施方式

請參考圖1，本發(fā)明測試電路10的較佳實施方式包括一控制器20、電阻R1-R4、電子開關Q1-Q6、電壓輸入端P5V、電壓輸入端VDD、電壓輸入端VTT以及測試端VSENSE。

所述控制器20在每一測試周期內(nèi)先后輸出高電平信號及低電平信號。