[發(fā)明專利]一種用于細(xì)胞遷移和侵襲實驗的多功能微流控芯片有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310571126.X | 申請日: | 2013-11-18 |
| 公開(公告)號: | CN103627635A | 公開(公告)日: | 2014-03-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 孟憲生;馬立東;王乙同;包永睿;王帥 | 申請(專利權(quán))人: | 遼寧中醫(yī)藥大學(xué) |
| 主分類號: | C12M3/00 | 分類號: | C12M3/00 |
| 代理公司: | 沈陽利泰專利商標(biāo)代理有限公司 21209 | 代理人: | 劉忠達(dá) |
| 地址: | 110847 遼寧省沈陽市*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 細(xì)胞 遷移 侵襲 實驗 多功能 微流控 芯片 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及醫(yī)療設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種用于細(xì)胞遷移和侵襲實驗的多功能微流控芯片。
背景技術(shù)
腫瘤的轉(zhuǎn)移的關(guān)鍵是腫瘤細(xì)胞的遷移和侵襲能力,腫瘤轉(zhuǎn)移嚴(yán)重影響到患者的生存幾率,臨床治療對如何抑制腫瘤細(xì)胞的遷移和轉(zhuǎn)移一直都作為研究的重點?,F(xiàn)在體外有幾種常用的研究細(xì)胞遷移和侵襲的模型,例如劃痕實驗和transwell小室的跨膜檢測等被廣泛的用來研究細(xì)胞遷移和侵襲。細(xì)胞劃痕法是研究細(xì)胞遷移的常規(guī)方法,是當(dāng)細(xì)胞在培養(yǎng)介質(zhì)上匯合形成一單層時,用移液槍頭等在細(xì)胞上劃出一道傷痕,然后觀察細(xì)胞遷移情況。但是這種方法會造成細(xì)胞機(jī)械性的損傷而且精度不夠。Transwell小室的跨膜檢測方法用來研究細(xì)胞侵襲的常規(guī)方法,是將基質(zhì)膠等涂與上層小室,然后將細(xì)胞加入小室中然后計算侵襲的細(xì)胞數(shù)。這種方法在去除細(xì)胞的過程容易造成誤差,且Transwell小室價格普遍較高。
用于研究細(xì)胞遷移和侵襲的微流控芯片取得了一定的進(jìn)展,但也存在很多不足,它們中往往集成有與細(xì)胞尺度相當(dāng)?shù)奈谓Y(jié)構(gòu),利用微壩材料表面張力形成液膜隔離芯片中剛注入的細(xì)胞懸液或未固化的細(xì)胞外基質(zhì)(ECM),防止?jié)B入到相鄰?fù)ǖ纼?nèi)。但實驗操作過程中溫差的驟然變化,例如芯片從室溫轉(zhuǎn)到37℃培養(yǎng)過程中,細(xì)胞懸液或未固化的細(xì)胞外基質(zhì)(ECM)與微壩表面張力發(fā)生顯著變化,極易造成細(xì)胞或細(xì)胞外基質(zhì)(ECM)外泄影響實驗結(jié)果。同時對芯片進(jìn)行移液器或注射器手動進(jìn)樣時容易使芯片通道中產(chǎn)生壓力波動造成細(xì)胞或細(xì)胞外基質(zhì)(ECM)外泄而實驗失敗,這對操作者的技術(shù)熟練程度提出了很大的挑戰(zhàn)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種用于細(xì)胞遷移和侵襲實驗的多功能微流控芯片,此芯片可以通過控制微閥的開關(guān)來研究細(xì)胞的遷移和侵襲,本發(fā)明具有操作靈活簡單、運行可靠、制作成本低、實驗成功率高及多功能等優(yōu)點。
采用的技術(shù)方案是:
一種用于細(xì)胞遷移和侵襲實驗的多功能微流控芯片,包括第一PDMS薄膜層、第二PDMS薄膜層和玻璃底層,第一PDMS薄膜層、第二PDMS薄膜層和玻璃底層依次不可逆鍵合成一整體結(jié)構(gòu),其特征在于:
第一PDMS薄膜層上設(shè)有第一微閥和第二微閥;
第二PDMS薄膜層上開設(shè)有第一細(xì)胞培養(yǎng)通道、第二細(xì)胞培養(yǎng)通道和第三細(xì)胞培養(yǎng)通道;第二細(xì)胞培養(yǎng)通道高于第一細(xì)胞培養(yǎng)通道和第三細(xì)胞培養(yǎng)通道;第一微閥位于第一細(xì)胞培養(yǎng)通道與第二細(xì)胞培養(yǎng)通道連接處上部,第一微閥與第一細(xì)胞培養(yǎng)通道和第二細(xì)胞培養(yǎng)通道由第二PDMS薄膜層相隔,控制第一細(xì)胞培養(yǎng)通道與第二細(xì)胞培養(yǎng)通道之間的連通或關(guān)閉;第二微閥位于第二細(xì)胞培養(yǎng)通道與第三細(xì)胞培養(yǎng)通道連接處上部,第二微閥與第二細(xì)胞培養(yǎng)通道和第三細(xì)胞培養(yǎng)通道由第二PDMS薄膜層相隔,控制第二細(xì)胞培養(yǎng)通道與第三細(xì)胞培養(yǎng)通道之間的連通或關(guān)閉。
第一細(xì)胞培養(yǎng)通道和第三細(xì)胞培養(yǎng)通道的截面為方形,高度相同,高度為80-200μm。
第二細(xì)胞培養(yǎng)通道的截面為方形,高度為200-500μm。
第一微閥由多個第一支柱支撐,多個第一支柱分兩排設(shè)置,兩排間距為100-300μm,每二個第一支柱之間距離為50-300μm,每個支柱的截面為方形。
第二微閥由多個第二支柱支撐,多個第二支柱分兩排設(shè)置,兩排間距為100-300μm,二個第二支柱之間距離為50-300μm,每個第二支柱的截面為方形。
第一支柱和第二支柱與第一細(xì)胞培養(yǎng)通道高度相同。
所述第一微閥和第二微閥可獨立控制或通過管路連接,實現(xiàn)連動控制。閥系統(tǒng)環(huán)境適應(yīng)性強(qiáng)可以保持很好的關(guān)閉狀態(tài),無漏液現(xiàn)象,可實現(xiàn)對細(xì)胞無損隔離等操作,而且上述微流控芯片既能用于細(xì)胞的二維培養(yǎng)又能用于細(xì)胞的三維培養(yǎng)。
本發(fā)明具有操作靈活簡單、運行可靠、制作成本低、實驗成功率高及多功能等優(yōu)點。具有較高的生物學(xué)研究和經(jīng)濟(jì)價值,有望為以后開發(fā)抑制腫瘤細(xì)胞侵襲藥物提供一個新的研究平臺。
附圖說明
圖1本發(fā)明微流控芯片整體結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2是圖1的分解示意圖。
圖3為第一閥和第二閥關(guān)閉狀態(tài)下肝腫瘤細(xì)胞HepG2在微流控芯片中的遷移實驗圖。
圖4為第一閥和第二閥開啟狀態(tài)下肝腫瘤細(xì)胞HepG2在微流控芯片中的遷移實驗圖。
圖5是肝腫瘤細(xì)胞HepG2在侵襲實驗中的生長狀態(tài)圖。
具體實施方式
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于遼寧中醫(yī)藥大學(xué),未經(jīng)遼寧中醫(yī)藥大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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