[發(fā)明專(zhuān)利]一種硬件調(diào)試方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310568076.X
• 申請(qǐng)日: 2013-11-14
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104636224A
• 公開(kāi)（公告）日: 2015-05-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張偉進(jìn);賈兵;石明;傅子奇;周庚申
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 中國(guó)長(zhǎng)城計(jì)算機(jī)深圳股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06F11/22
• 分類(lèi)號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 深圳中一專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所 44237
• 代理人: 張全文

1.一種硬件調(diào)試方法，其特征在于，所述方法包括：

系統(tǒng)開(kāi)機(jī)時(shí)，將非易失性隨機(jī)訪(fǎng)問(wèn)存儲(chǔ)器NVRAM中的硬件性能恢復(fù)至預(yù)設(shè)的默認(rèn)值，讀取所述默認(rèn)值以初始化控制寄存器；

初始化結(jié)束后進(jìn)入用戶(hù)管理界面，接收用戶(hù)通過(guò)用戶(hù)管理界面設(shè)置的硬件性能調(diào)試值，將所述調(diào)試值存儲(chǔ)至NVRAM；

讀取NVRAM中的調(diào)試值進(jìn)行調(diào)試。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述系統(tǒng)開(kāi)機(jī)，將非易失性隨機(jī)訪(fǎng)問(wèn)存儲(chǔ)器NVRAM中的硬件性能恢復(fù)至預(yù)設(shè)的默認(rèn)值，讀取所述默認(rèn)值以初始化控制寄存器的步驟具體為：

系統(tǒng)開(kāi)機(jī)，判斷硬件性能對(duì)應(yīng)的總線(xiàn)擴(kuò)展器GPIO引腳輸出電平是否為高電平；

若是，則將NVRAM中的硬件性能恢復(fù)至預(yù)設(shè)的默認(rèn)值；

讀取所述默認(rèn)值，初始化控制寄存器。

3.如權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述硬件性能包括CPU頻率、輸入/輸出頻率、CPU核數(shù)、微控制單元MCU頻率。

4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述接收用戶(hù)通過(guò)用戶(hù)管理界面設(shè)置的硬件性能調(diào)試值步驟具體為：

接收用戶(hù)通過(guò)選擇用戶(hù)管理界面上提供的預(yù)設(shè)值設(shè)置的硬件性能調(diào)試值；

和/或

接收用戶(hù)通過(guò)用戶(hù)管理界面手動(dòng)輸入的硬件性能調(diào)試值。

5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述讀取NVRAM中的調(diào)試值進(jìn)行調(diào)試的步驟具體為：

在硬件性能調(diào)試時(shí)，從非易失性隨機(jī)訪(fǎng)問(wèn)存儲(chǔ)器NVRAM中查找與所述硬件性能相對(duì)應(yīng)的變量名稱(chēng)；

根據(jù)所述變量名稱(chēng)獲取硬件的調(diào)試值，并將所述調(diào)試值寫(xiě)入控制寄存器進(jìn)行硬件調(diào)試。

6.一種硬件調(diào)試裝置，其特征在于，所述裝置包括：

初始化單元，用于系統(tǒng)開(kāi)機(jī)時(shí)，將非易失性隨機(jī)訪(fǎng)問(wèn)存儲(chǔ)器NVRAM中的硬件性能恢復(fù)至預(yù)設(shè)的默認(rèn)值，讀取所述默認(rèn)值以初始化控制寄存器；

設(shè)置單元，用于初始化結(jié)束后進(jìn)入用戶(hù)管理界面，接收用戶(hù)通過(guò)用戶(hù)管理界面設(shè)置的硬件性能調(diào)試值，將所述調(diào)試值存儲(chǔ)至NVRAM；

調(diào)試單元，用于讀取NVRAM中的調(diào)試值進(jìn)行調(diào)試。

7.如權(quán)利要求6所述的硬件調(diào)試裝置，其特征在于，所述初始化單元具體用于：

系統(tǒng)開(kāi)機(jī)，判斷硬件性能對(duì)應(yīng)的總線(xiàn)擴(kuò)展器GPIO引腳輸出電平是否為高電平；

若是，則將非易失性隨機(jī)訪(fǎng)問(wèn)存儲(chǔ)器NVRAM中的硬件性能恢復(fù)至預(yù)設(shè)的默認(rèn)值；

讀取所述默認(rèn)值，初始化控制寄存器。

8.如權(quán)利要求6或7所述的硬件調(diào)試裝置，其特征在于，所述硬件性能包括CPU頻率、輸入/輸出頻率、CPU核數(shù)、微控制單元MCU頻率。

9.如權(quán)利要求6所述的硬件調(diào)試裝置，其特征在于，所述設(shè)置單元具體用于：

接收用戶(hù)通過(guò)選擇用戶(hù)管理界面上提供的預(yù)設(shè)值設(shè)置的硬件性能調(diào)試值；

和/或

接收用戶(hù)通過(guò)用戶(hù)管理界面手動(dòng)輸入的硬件性能調(diào)試值。

10.如權(quán)利要求6所述的硬件調(diào)試裝置，其特征在于，所述調(diào)試單元具體用于：

在硬件性能調(diào)試時(shí)，從非易失性隨機(jī)訪(fǎng)問(wèn)存儲(chǔ)器NVRAM中查找與所述硬件性能相對(duì)應(yīng)的變量名稱(chēng)；

根據(jù)所述變量名稱(chēng)獲取硬件的調(diào)試值，并將所述調(diào)試值寫(xiě)入控制寄存器進(jìn)行硬件調(diào)試。