[發(fā)明專利]像素結(jié)構(gòu)及其制作方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310562065.0 | 申請日: | 2013-11-12 |
| 公開(公告)號: | CN103558719A | 公開(公告)日: | 2014-02-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 郝思坤 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/1362 | 分類號: | G02F1/1362;G02F1/1368 |
| 代理公司: | 深圳市德力知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 像素 結(jié)構(gòu) 及其 制作方法 | ||
1.一種像素結(jié)構(gòu),其特征在于,包括:一透明基板(60)、形成于透明基板(60)上的柵極線、形成于透明基板(60)上的薄膜晶體管、形成于透明基板(60)上的數(shù)據(jù)線(68)、形成于透明基板(60)及薄膜晶體管上的像素電極(62)、形成于像素電極(62)、透明基板(60)及數(shù)據(jù)線(68)上的鈍化層(64)、以及形成鈍化層(64)上的公共電極(66),所述鈍化層(64)包括:位于數(shù)據(jù)線(68)上的第一部分(72)、位于像素電極(62)上的第二部分(74)、以及位于透明基板(60)上且位于數(shù)據(jù)線(68)的兩側(cè)的第三部分(76),所述鈍化層(64)第一部分(72)的厚度大于第二部分(74)的厚度,所述像素電極(62)與所述公共電極(66)部分重疊以形成存儲(chǔ)電容。
2.如權(quán)利要求1所述的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,所述鈍化層(64)第一部分(72)的厚度大于第三部分(76)的厚度,所述鈍化層(64)第二部分(74)的頂端與第三部分(76)的頂端平齊;所述像素結(jié)構(gòu)還包括一形成于薄膜晶體管及像素電極(62)之間的保護(hù)層。
3.如權(quán)利要求1所述的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,所述薄膜晶體管具有一柵極、一漏極及一源極,所述柵極與柵極線電性連接,所述源極與數(shù)據(jù)線(68)電性連接,所述漏極與像素電極(62)電性連接,所述像素電極(62)為一透明導(dǎo)電層,所述公共電極(66)為一透明導(dǎo)電層。
4.一種像素結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟11、提供一透明基板(60);
步驟12、在所述透明基板(60)上沉積形成柵極線、薄膜晶體管、數(shù)據(jù)線(68)及像素電極(62);
步驟13、在所述透明基板(60)、數(shù)據(jù)線(68)及像素電極(62)上沉積形成鈍化層(64),所述鈍化層(64)包括:位于所述數(shù)據(jù)線(68)上的第一部分(72)、位于像素電極(62)上的第二部分(74)以及位于透明基板(60)上且位于數(shù)據(jù)線(68)兩側(cè)的第三部分(76);
步驟14、對外圍線路上的鈍化層(64)進(jìn)行蝕刻,以完成第一次蝕刻,之后對鈍化層(64)的第二部分(74)進(jìn)行蝕刻,以完成第二次蝕刻,以減小鈍化層(64)第二部分(74)的厚度,使得鈍化層(64)第一部分(72)的厚度大于第二部分(74)的厚度;
步驟15、在所述鈍化層(64)上沉積形成公共電極(66)。
5.如權(quán)利要求4所述的像素結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于,所述步驟12還包括在所述透明基板(60)上形成一保護(hù)層,所述保護(hù)層形成于所述薄膜晶體管與所述像素電極(62)之間。
6.如權(quán)利要求4所述的像素結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于,所述步驟14中的第二次蝕刻還包括對鈍化層(64)的第三部分(76)進(jìn)行蝕刻,第二次蝕刻完成后,所述鈍化層(64)第一部分(72)的厚度大于第三部分(76)的厚度,所述鈍化層(64)第二部分(74)的頂端與第三部分(76)的頂端平齊。
7.如權(quán)利要求4所述的像素結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于,所述像素電極(62)為一透明導(dǎo)電層,所述公共電極(66)為一透明導(dǎo)電層。
8.一種像素結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟21、提供一透明基板(60);
步驟22、在所述透明基板(60)上沉積形成柵極線、薄膜晶體管、數(shù)據(jù)線(68)及像素電極(62);
步驟23、在所述透明基板(60)、數(shù)據(jù)線(68)及像素電極(62)上沉積形成一第一鈍化層(92),對所述第一鈍化層(92)進(jìn)行蝕刻,僅保留數(shù)據(jù)線(68)上方的第一鈍化層(92),其它部分蝕刻掉;
步驟24、在所述透明基板(60)、像素電極(62)及第一鈍化層(92)上沉積形成一第二鈍化層(94),對所述第二鈍化層(94)進(jìn)行蝕刻,將外圍線路上的第二鈍化層(94)蝕刻掉,其它部分保留;
步驟25、在所述第二鈍化層(94)上沉積形成公共電極(66)。
9.如權(quán)利要求8所述的像素結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于,所述第一鈍化層(92)的厚度大于所述第二鈍化層(94)的厚度。
10.如權(quán)利要求8所述的像素結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于,所述步驟22還包括在透明基板(60)上形成一保護(hù)層,所述保護(hù)層形成于所述薄膜晶體管與所述像素電極(62)之間;所述像素電極(62)為一透明導(dǎo)電層,所述公共電極(66)為一透明導(dǎo)電層。
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