[發明專利]探針補點系統及方法

在審

• 申請號: 201310559452.9
• 申請日: 2013-11-12
• 公開（公告）號: CN104634242A
• 公開（公告）日: 2015-05-20
• 發明（設計）人: 張旨光;吳新元;楊宗濤
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01C11/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及影像檢測領域，尤其涉及一種利用探針對產品的點云數據進行補點的系統及方法。

背景技術

利用三維掃描（光學點云掃描/激光線掃描)裝置掃描產品的點云數據時，由于電荷耦合器件（CCD，Charge?Coupled?Device）或鐳射掃描時會因為檢測角度或景深等問題，從而使得產品的一些被遮住的部位或深孔等地方，不容易被掃描到，并最終導致獲取的點云數據出現破面、破洞等情況，降低了整體點云的質量，并影響了測量效果。

發明內容

鑒于以上內容，有必要提供一種探針補點系統及方法，可利用接觸式探針對產品不容易被掃描的部位進行補點。

一種探針補點方法，應用于三維掃描裝置中，所述三維掃描裝置包括CCD鏡頭，所述探針補點方法利用接觸式探針對待測產品進行補點測量，所述接觸式探針上預設有多個標志點，該方法包括：根據所述標志點建立該接觸式探針的三維坐標系統，并在指定測量裝置對所述接觸式探針進行測量后，從所述指定測量裝置獲取所述標志點及所述接觸式探針的球心的原始三維坐標；計算所述標志點及所述接觸式探針的球心在該接觸式探針的三維坐標系統中的初始三維坐標；在利用所述接觸式探針接觸待測產品時，利用所述CCD鏡頭拍攝所述接觸式探針的影像；計算所述影像中的接觸式探針的多個標志點的二維坐標；利用所述三維掃描裝置中預存的轉換矩陣將所述標志點的二維坐標轉換為三維坐標；根據對所述標志點轉換后的三維坐標及所述標志點在所述接觸式探針的三維坐標系統中的初始三維坐標的比較，確定所述標志點的變化參數；根據所述球心在所述接觸式探針的三維坐標系統中的初始三維坐標及所述標志點的變化參數，確定所述球心當前的三維坐標；及輸出所述球心當前的三維坐標作為待補點的坐標。

一種探針補點系統，應用于三維掃描裝置中，所述三維掃描裝置包括CCD鏡頭，所述探針補點系統利用接觸式探針對待測產品進行補點測量，所述接觸式探針上預設有多個標志點，該系統包括：探針測量模塊，用于根據所述標志點建立該接觸式探針的三維坐標系統，并在指定測量裝置對所述接觸式探針進行測量后，從所述指定測量裝置獲取所述標志點及所述接觸式探針的球心的原始三維坐標；計算模塊，用于計算所述標志點及所述接觸式探針的球心在該接觸式探針的三維坐標系統中的初始三維坐標；影像獲取模塊，用于在利用所述接觸式探針接觸待測產品時，利用所述CCD鏡頭拍攝所述接觸式探針的影像；所述計算模塊，還用于計算所述影像中的接觸式探針的多個標志點的二維坐標，利用所述三維掃描裝置中預存的轉換矩陣將所述標志點的二維坐標轉換為三維坐標，根據對所述標志點轉換后的三維坐標及所述標志點在所述接觸式探針的三維坐標系統中的初始三維坐標的比較，確定所述標志點的變化參數，及根據所述球心在所述接觸式探針的三維坐標系統中的初始三維坐標及所述標志點的變化參數，確定所述球心當前的三維坐標；及輸出模塊，用于輸出所述球心當前的三維坐標作為待補點的坐標。

相較于現有技術，所述的探針補點系統及方法，可利用接觸式探針對產品不容易被掃描的部位進行補點，從而確保該產品的點云數據的準確性，以提高測量準確度。

附圖說明

圖1是本發明探針補點系統的較佳實施方式的硬件架構圖。

圖2是本發明探針補點系統的較佳實施方式的接觸式探針的結構示意圖。

圖3是本發明探針補點系統的較佳實施方式的功能模塊圖。

圖4是本發明探針補點系統的較佳實施方式的基于所述接觸式探針創建的三維坐標系。

圖5是本發明探針補點方法的較佳實施方式的流程圖。

主要元件符號說明