[發明專利]電流模式DC/DC轉換器用低功耗電流檢測電路有效
| 申請號: | 201310557321.7 | 申請日: | 2013-11-11 |
| 公開(公告)號: | CN103604974A | 公開(公告)日: | 2014-02-26 |
| 發明(設計)人: | 施朝霞;李如春 | 申請(專利權)人: | 浙江工業大學 |
| 主分類號: | G01R19/00 | 分類號: | G01R19/00;G01R31/02 |
| 代理公司: | 杭州天正專利事務所有限公司 33201 | 代理人: | 王兵;黃美娟 |
| 地址: | 310014 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電流 模式 dc 轉換 器用 功耗 檢測 電路 | ||
1.電流模式DC/DC轉換器用低功耗電流檢測電路,其特征在于:包括由電感L、PMOS晶體管P1、電阻R、電容C組成的電源支路和由電流源Ib、PNP晶體管B1、PNP晶體管B2、PNP晶體管B5、PNP晶體管B6、NMOS管N1、NMOS管N2、NMOS管N5、電阻Rsense組成的電流檢測支路,
所述的電容C和電阻R并聯,并聯后的一端接地,另一端與所述的PMOS管P1的源端相連,所述的PMOS管P1的漏端與所述的電感L的一端相連,所述的電感L的另一端與輸入Vin相連,所述PMOS管P1的漏端的輸出電流為IL;
所述的電流源Ib的一端接地,另一端與所述的PNP晶體管B1的集電極相連,所述的PNP晶體管B1的基極與所述的PNP晶體管B2的基極相連,所述的PNP晶體管B1、B2的發射極并聯,且并聯后與所述的輸入Vin相連,所述的PNP晶體管B2的集電極與所述NMOS管N1的漏端相連,所述的NMOS管N1的源端與所述的NMOS管N2的漏端相連,所述的NMOS管N2的源端接地,所述的NMOS管N1、N2和N5的柵極相連,并與控制電壓VQ相連,所述的NMOS管N5的源端接地,所述的NMOS管N5的漏端與所述的PNP晶體管B5的集電極相連,所述的PNP晶體管B5和B6的基極相連,所述的PNP晶體管B5和B6的發射極并聯,且并聯后與所述的輸入Vin相連,所述的PNP晶體管B6的集電極與所述的電阻Rsense的一端相連,所述的電阻Rsense的另一端接地,所述的電阻Rsense流過電流為Isense,所述的電阻Rsense未接地的一端的輸出電壓為Vsense。
2.如權利要求1所述的電流模式DC/DC轉換器用低功耗電流檢測電路,其特征在于:所述的電流檢測電路還包括電壓跟隨電路,所述的電壓跟隨電路包括PNP晶體管B3、PNP晶體管B4、NPN晶體管B7、NPN晶體管B8和NMOS管N3、NMOS管N4,所述的PNP晶體管B2、B3、B4的基極相連,所述的PNP晶體管B3、B4的發射極并聯,且并聯后與所述的輸入Vin相連;所述的NPN晶體管B7的基極與集電極相連,所述的NPN晶體管B7的集電極與所述的PNP晶體管B3的集電極相連,所述的NPN晶體管B7的發射極與所述的NMOS管N3的漏端相連;所述的NMOS管N3的漏端與所述的NMOS管N1的漏端相連,且端點電壓為VA;所述的NMOS管N3的柵極與所述的NMOS管N4的柵極相連,并與控制電壓相連;所述的NMOS管N3、N4的源端并聯,且接地;所述的NMOS管N4的漏端與所述的NPN晶體管B8的發射極相連,所述的NPN晶體管B8的發射極與所述的NMOS管N5的漏端相連,且端點電壓為VB;所述的NPN晶體管B8的基極與所述的NPN晶體管B7的基極相連,所述的NPN晶體管B8集電極分別與所述的PNP晶體管B5的基極、所述的PNP晶體管B4的集電極相連。
3.如權利要求1或2所述的電流模式DC/DC轉換器用低功耗電流檢測電路,其特征在于:所述的NMOS管N2是功率MOS管,所述的NMOS管N5是傳感MOS管,所述的NMOS管N2的寬長比是所述的NMOS管N5的500~2000倍。
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