[發明專利]一種芯片測試模式和調試模式的保護方法

有效

• 申請號: 201310556954.6
• 申請日: 2013-11-11
• 公開（公告）號: CN103593626B
• 公開（公告）日: 2017-02-01
• 發明（設計）人: 李兆亮;錢志恒;徐功益
• 申請（專利權）人: 杭州晟元數據安全技術股份有限公司
• 主分類號: G06F21/70
• 分類號: G06F21/70;G06F21/78
• 代理公司: 杭州千克知識產權代理有限公司33246
• 代理人: 趙芳

1.一種芯片測試模式和調試模式的保護方法，其特征在于：該方法包括如下步驟：

（1）、芯片上電復位后進行第一級復位，上電控制邏輯（8）會從非易失存儲體（7）的兩個固定的地址讀取兩個32位數據a和b，然后分別將數據a交給測試模式控制單元（1），數據b交給調試模式控制單元（2）；測試模式控制單元（1）在收到數據a后與內部一個固定的32位數據比較，如果不相同，再檢測芯片外部管腳（4）的測試使能管腳如果是高電平，那么對一個寄存器test_en_reg置高電平；數據a如果和內部固定的32位數據相同，不管芯片外部管腳（4）的測試使能管腳是否高電平，都無法進入測試模式；在芯片生產測試完成后，對非易失存儲體（7）相應的地址寫入特定值，就能夠永久關閉芯片測試模式；

（2）、調試模式控制單元（2）在收到數據b后與內部一個固定的32位數據比較，如果相同，那么對一個寄存器jtag_lock_reg置高電平，則芯片就無法進入調試模式；用戶利用調試口開發完應用軟件后，在非易失存儲體（7）相應的地址寫入特定值，就能夠永久關閉調試模式；

（3）、芯片二級復位釋放后，芯片正常功能單元（6）首先檢測在測試模式控制單元（1）的判斷結果寄存器test_en_reg，如果為1，就直接進入測試模式，如果是0，進入正常工作，同時檢測在調試模式控制單元（2）的判斷結果寄存器jtag_lock_reg，如果是1，就關閉調試模式；

（4）、芯片通過存儲體保護單元（9）對非易失存儲體（7）寫相應的值進行測試模式或則調試模式保護。

2.根據權利要求1所述的芯片測試模式和調試模式的保護方法，其特征在于：芯片外部管腳（4）能夠與芯片其他功能管腳復用，這個測試使能管腳只需在第一級復位和第二級復位之間拉高即可，在調試模式控制單元（2）判斷完成就可以釋放。

3.根據權利要求1所述的芯片測試模式和調試模式的保護方法，其特征在于：芯片內嵌的非易失存儲體（7）是flash存儲體，該存儲體保存數據a和數據b的這兩個地址空間采取的數據保護機制是一次性寫入保護功能，一次性寫入保護功能由存儲體保護單元（9）來實現；生產完初始值為全1，芯片上電后存儲體保護單元（9）檢測到這兩個地址的數據如果不是全1，說明已經被寫過了，就關閉對這兩個地址的寫權限。