[發明專利]WAT測試曲線數據的保存方法和裝置在審

申請號：	201310554560.7	申請日：	2013-11-08
公開（公告）號：	CN103645858A	公開（公告）日：	2014-03-19
發明（設計）人：	周波;莫保章;席與凌	申請（專利權）人：	上海華力微電子有限公司
主分類號：	G06F3/06	分類號：	G06F3/06
代理公司：	上海申新律師事務所 31272	代理人：	竺路玲
地址：	201203 上海市浦***	國省代碼：	上海;31
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摘要：
搜索關鍵詞：	wat 測試曲線數據保存方法裝置
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【說明書】：

技術領域

本發明涉及微電子技術領域，尤其涉及一種WAT測試（Wafer?Acceptance?Test，晶圓允收測試）曲線數據的保存方法和裝置。

背景技術

在WAT測試中經常需要收集很多器件的電性曲線，目前通用的做法是將曲線數據保存在服務器上的一個公用目錄，所有WAT測試機臺都可以訪問，但這樣會有數據難以區分的問題。

如果有多個lot（貨品）按時間排序來測試同一個測試程序，則測試數據會按順序寫入數據文件中，如果要想把各個lot的測試數據分開，只能計算每個lot測試曲線的條數再手動把數據區分開。如果有多個lot在不同的機臺上測試同一個測試程序時，則多個機臺就會同時向這個相同路徑下的數據文件中寫入數據，這樣會導致數據文件中的數據無法區分開。

中國專利（公開號：CN101169628A）公開了一種數據保存方法，包括：接收數據后，根據當前文件中該數據對應位號下的記錄的情況分配數據塊和索引塊；將所述數據寫入所述數據塊，并將對應該數據的索引信息寫入所述索引塊。該發明還公開了一種數據保存裝置。該發明通過采用混合型記錄或數據型記錄和索引型記錄的雙重結構模式，當某些位號的數據較少時，則通過一個混合型記錄保存所有數據和該數據的索引，當某些位號的數據較多時，則通過數據型記錄和索引型記錄分別保存數據和索引，對保存結構進行優化，因此無論對于混合型記錄還是索引型記錄，索引信息均能夠高度集中，使得在處理數據量懸殊的位號數據時具有較強的靈活性，且極大提高了數據的檢索效率。

中國專利（公開號：CN101909075A）公開了一種系統關鍵數保存方法及裝置。該系統關鍵數據保存方法包括以下步驟:a.設置日志處理類型參數;b.獲取數據來源;c.判斷設置的日志處理類型參數,并根據設置的日志處理類型參數對獲取的數據進行保存。采用本發明的技術方案以后,可以根據不同的需求調節關鍵數據的處理方式,在服務器性能和穩定之間達到平衡,另外,在服務器資源允許的情況下可以將日志處理線程調配到其他的物理服務器,以免對現有服務器的其他應用產生影響。

上述兩個專利并未解決現有技術中不同WAT測試機臺同時測試同一個測試程序時向服務器中同一個數據文件寫入數據，并且需要手動地區分WAT測試曲線數據的問題。

發明內容

針對上述存在的問題，本發明公開一種WAT測試曲線數據的保存方法和裝置，以克服現有技術中不同WAT測試機臺同時測試同一個測試程序時向服務器中同一個數據文件寫入數據，并且需要手動地區分WAT測試曲線數據的問題。

為了實現上述目的，本發明采用如下技術方案：

一種WAT測試曲線數據的保存方法，應用于WAT測試機臺中，其中，包括如下步驟：

S1，在WAT測試過程中，將得到的測試數據臨時保存至所述WAT測試機臺本地；

S2，在WAT測試完成后，判斷臨時保存的測試數據中是否存在曲線數據；

S3，在判定臨時保存的測試數據中存在曲線數據時，獲取當前時間，并根據所述當前時間在所述WAT測試機臺本地創建時間標記數據塊，將臨時保存的測試數據中的曲線數據復制到所述時間標記數據塊中。

上述的WAT測試曲線數據的保存方法，其中，還包括：

S3’，在判定臨時保存的測試數據中不存在曲線數據時，清空臨時保存的測試數據。

上述的WAT測試曲線數據的保存方法，其中，還包括：

S4，清空臨時保存的測試數據。