[發(fā)明專利]一種在低滲透裂縫型油藏使用的對于區(qū)塊調(diào)剖選井方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310551942.4 | 申請日： | 2013-11-08 |
| 公開（公告）號： | CN104632122A | 公開（公告）日： | 2015-05-20 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 張榮;李憲文;王興宏;徐春梅;陳榮環(huán);劉保徹;吳天江 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國石油天然氣股份有限公司 |
| 主分類號： | E21B33/13 | 分類號： | E21B33/13 |
| 代理公司： | 北京市中實(shí)友知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11013 | 代理人： | 張少宏 |
| 地址： | 100007 北京市*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 滲透 裂縫 油藏 使用 對于 區(qū)塊 調(diào)剖選井 方法 | ||
1.一種在低滲透裂縫型油藏使用的對于區(qū)塊調(diào)剖選井方法，其特征在于含有以下步驟；
引入原始厚度、原始滲透率提出IPI選井方法，依據(jù)IPI計算結(jié)果進(jìn)行選井，依據(jù)然后采用調(diào)剖工藝進(jìn)行調(diào)剖；
區(qū)塊調(diào)剖的選井方法是選取滿足以下條件的水井：
(1)對調(diào)剖區(qū)塊內(nèi)各水井的井口壓力降落曲線進(jìn)行測試；測試時間段內(nèi)鄰近各井的工作制度不發(fā)生變化，每個區(qū)塊第1口井測試時間24小時，找出壓力降落趨于平緩的階段，確定區(qū)塊的測試時間；
(2)依次對區(qū)塊內(nèi)其它注水井進(jìn)行測試；
(3)在測試完成后，繪制注水井井口的壓降曲線；
(4)計算各水井的PI值，然后計算各水井的無因次IPI值；
(5)選擇低于區(qū)塊平均IPI值的水井為調(diào)剖井，在區(qū)塊平均無因次IPI值附近以及高于區(qū)塊平均IPI值的水井不予處理。
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