[發(fā)明專利]一種太陽磁場偏振測量儀器

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310551792.7
• 申請日: 2013-11-11
• 公開（公告）號: CN103728574A
• 公開（公告）日: 2014-04-16
• 發(fā)明（設計）人: 程向明;鄧林華;敦廣濤
• 申請（專利權）人: 中國科學院云南天文臺
• 主分類號: G01R33/032
• 分類號: G01R33/032;G01J4/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種太陽磁場偏振測量儀器，包括望遠鏡接口、監(jiān)視CCD、準直鏡、濾光片、FLC1、FLC2、消色差波片、薩伐板1、薩伐板2、成像鏡、平面反射鏡和光譜儀，在望遠鏡焦面處大部分太陽像的光線反射到側面的監(jiān)視CCD，目標區(qū)域像的光線通過第一焦點反射光闌的小孔后依次經準直鏡、濾光片、FLC1、FLC2，然后經消色差波片進行處理后，依次進入薩伐板1、薩伐板2，隨后目標區(qū)域像的光線經成像鏡后由平面反射鏡反射為兩束，該兩束光線分別由光纖導入光譜儀進行分析，其特征在于：在望遠鏡焦面處采用45°放置的銅制鍍鉻并拋光的第一焦點反射光闌。

2.根據權利要求1所述的太陽磁場偏振測量儀器，其特征在于，在望遠鏡焦面處，垂直于主光路的兩側設置兩個散熱風扇。

3.根據權利要求1或2所述的太陽磁場偏振測量儀器，其特征在于，在目標區(qū)域像的光線分為兩束的位置采用六自由度共空間調節(jié)機構，對光線進行六自由度的調節(jié)，實現(xiàn)兩束光分別在光纖陣列上的圖像的匹配。

4.根據權利要求1或2所述的太陽磁場偏振測量儀器，其特征在于，在監(jiān)視光路里加入了一個45°放置的反射型中性監(jiān)視光路減光片，減弱光能量以保護監(jiān)視CCD。

5.根據權利要求3所述的太陽磁場偏振測量儀器，其特征在于，在監(jiān)視光路里加入了一個45°放置的反射型中性監(jiān)視光路減光片，減弱光能量以保護監(jiān)視CCD。

6.根據權利要求1所述的太陽磁場偏振測量儀器，其特征在于，儀器整體結構件采用硬鋁材料制成。

7.根據權利要求1所述的太陽磁場偏振測量儀器，其特征在于：FLC1、FLC2均為帶有電線的光學器件，可通過加電控制FLC1、FLC2的通光特性；FLC鏡室上設計了內部過線槽以及出線口，F(xiàn)LC1、FLC2的引線均經過線槽和出線口再通過偏振分析器鏡體內部的環(huán)形槽以及出線孔通向鏡體外部，而且可以通過偏振分析器鏡體上的調整孔撥動FLC1、FLC2鏡體上的小孔來調節(jié)其旋轉，以達到調整儀器性能的目的。