[發明專利]一種細胞DNA檢測設備的非線性校正方法在審
| 申請號: | 201310550044.7 | 申請日: | 2013-11-08 |
| 公開(公告)號: | CN104634735A | 公開(公告)日: | 2015-05-20 |
| 發明(設計)人: | 賈守禮;余嵐嵐;朱晨雁;陳進 | 申請(專利權)人: | 麥克奧迪(廈門)醫療診斷系統有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/00 | 分類號: | G01N21/00 |
| 代理公司: | 福建煉海律師事務所 35215 | 代理人: | 許育輝;張輝 |
| 地址: | 361000 福建省廈門市湖里區火*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 細胞 dna 檢測 設備 非線性 校正 方法 | ||
技術領域
????本發明涉及醫學檢驗設備領域,尤其是指一種細胞DNA檢測設備的校正方法。
背景技術
細胞核中的DNA含量的變化常常是腫瘤發病的早期特異性指征,通過對細胞核中DNA含量的定量檢測,可及時發現早期病變。基于福爾根染色的細胞DNA圖像自動定量分析系統即通過定量檢測細胞核中DNA含量的變化,實現癌癥及癌癥病變前的早期診斷。
目前的各種細胞DNA自動掃描分析的檢測設備,還沒有一個簡單有效的方法對各種改進改變后的硬件部件進行校正,比如檢測設備中會影響細胞DNA計算的部件有細胞切片的染色劑、染色流程、光源、聚光鏡、濾波片、物鏡、光學接頭、成像設備的紅外濾色片、彩色成像芯片的Bayer模式及插值解析等光學部件和光學處理部件。其主要原因是系統光學通路中的各光學部件的特性復雜,對光的改變呈現非線性變化,使常規的光學密度計算中的線性背景補償出偏差,從而造成在一種系統硬件配置的情況下研制出的細胞DNA定量分析檢測設備的方法和流程在新的硬件環境中可能失效,需重新研制,費時費力。
發明內容
本發明解決了上述技術問題,提供一種適用各種細胞DNA自動掃描分析系統對在硬件部件或設備環境以及制片流程等改變情況下的系統校正的細胞DNA檢測設備的非線性校正方法。
為了解決上述技術問題,本發明的技術方案為:一種細胞DNA檢測設備的非線性校正方法,包括以下步驟:
步驟1:設置指數模型變換調節參數、Bayer模式解析調節參數和圖像分割閾值補償參數;
步驟2:調節細胞DNA檢測設備中顯微鏡,放置按標準制的豬肝校正切片,設置掃描區域后開始掃描;
步驟3:掃描完成后獲得掃描圖像,根據掃描圖像通過系統計算后獲取質控參數,再和系統中的標準質控參數對比,根據偏差的情況調節指數模型變換調節參數和Bayer模式解析調節參數;
步驟4:重復步驟1至步驟3,直到計算出的質控參數與系統中的標準質控參數的差值在允許的誤差范圍內,校正完成。
進一步的,所述的一種細胞DNA檢測設備的非線性校正方法只調節細胞DNA掃描檢測設備的硬件部件,所述的硬件部件包括光源、聚光鏡、濾波片、物鏡、光學接頭、成像設備和光學圖像處理部件。
進一步的,所述的質控參數包括積分光密度(IOD)、二倍體標準方差(CV)、四倍體與二倍體的線性關系(LR)。
進一步的,所述的指數模型變換調節參數的調節模型公式為:輸出圖像灰度值=(原始圖像灰度值/255)N*255,其中N為指數模型變換調節參數。
進一步的,所述的Bayer模式解析調節參數的調節模型公式為:輸出圖像灰度值=Bayer模式解析調節參數1*原始圖像灰度值+Bayer模式解析調節參數2*(左鄰像素灰度值+上鄰像素灰度值+右鄰像素灰度值+下鄰像素灰度值)。
進一步的,所述的圖像分割閾值補償參數的模型公式為:圖像分割閾值補償參數=圖像分割閾值+圖像分割補償參數。
本發明的校正方法將細胞DNA檢測設備作為一個設備整體,統一用一個非線性校正模型來擬合各硬件部件變化所帶來的光學特性改變,通過調整這個非線性模型的若干參數,采用有限次的迭代方法,使該檢測設備的各項質量檢測指標達到質控系統的相同指標,完成該檢測設備的校正和調校,快捷地投入正常運行。
附圖說明
下面結合附圖對本發明的具體實施方式作進一步詳細的說明。
圖1是本發明方法的步驟流程圖;
圖2是發明指數模型變換調節參數的調節模型示意圖;
圖3是本發明Bayer模式解析調節參數的調節流程圖;
圖4是實施例中標準質控參數數據表;
圖5是實施例中被本發明校正方法校正后的質控參數數據表;
圖6是采用本發明的校正方法的臨床檢測中活檢數據表;
圖7是采用本發明的校正方法的臨床檢測中有可見陽性細胞3-10個的實施例的結果對比表;
圖8是采用本發明的校正方法的臨床檢測中有可見陽性細胞1-2個的實施例的結果對比表;
圖9是采用本發明的校正方法的臨床檢測中未見陽性細胞的實施例的結果對比表。
具體實施方式
下面結合附圖和具體實施方式,對本發明做進一步說明。
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