[發明專利]一種光譜響應度校準方法及其裝置

有效

• 申請號: 201310549393.7
• 申請日: 2013-11-07
• 公開（公告）號: CN103542934A
• 公開（公告）日: 2014-01-29
• 發明（設計）人: 陳聰;潘建根;楊靜
• 申請（專利權）人: 杭州遠方光電信息股份有限公司
• 主分類號: G01J3/02
• 分類號: G01J3/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種光譜響應度校準方法，其特征在于，利用波長連續可調的單波長輻射源(1)、混光器(2)、可在待校波段內輸出一個以上離散波長激光的激光裝置(3)以及標準探測裝置(4)，實現待校探測裝置(5)光譜響應度校準：

在待校波段內，單波長輻射源(1)發出的單色光或激光裝置(3)發出的離散波長激光經混光器(2)混光后，分別入射到待校探測裝置(5)和已知光譜響應度的標準探測裝置(4)中；

依次比較在單波長輻射源(1)發出的同一單色光入射時的待校探測裝置(5)與標準探測裝置(4)的響應值，結合標準探測裝置(4)的絕對光譜響應度，即可計算出待校探測裝置(5)的光譜響應度曲線；

依次比較在激光裝置(3)發出的同一離散波長激光入射時的待校探測裝置(5)與標準探測裝置(4)的響應值，結合標準探測裝置(4)的絕對光譜響應度，即可計算出待校探測裝置(5)的離散光譜響應度；

利用待校探測裝置(5)的離散光譜響應度校正光譜響應度曲線。

2.如權利要求1所述的一種光譜響應度校準方法，其特征在于，所述的待校探測裝置(5)和標準探測裝置(4)的位置可調節至輻照度測量距離和輻亮度測量距離上；所述的輻照度測量距離是混光器(2)出光口尺寸的5倍以上，所述的輻亮度測量距離為探測器視場小于混光器(2)出光口面的距離。

3.如權利要求1所述的一種光譜響應度校準方法，其特征在于，包括監測探測裝置(6)，在利用待校探測裝置(5)或標準探測裝置(4)測量單波長輻射源(1)?/激光裝置(3)的輻射功率的同時，監測探測裝置(6)直接接收來自單波長輻射源(1)/激光裝置(3)的光或者接收來自混光器(2)出射的光，結合標準探測裝置(4)的絕對光譜響應度，校正待較探測器(5)的絕對光譜響應度。

4.一種光譜響應度校準裝置，其特征在于，包括連續可調的單波長輻射源(1)、混光器(2)以及激光裝置(3)，單波長輻射源(1)發出的單色光或者激光裝置(3)發出的一個以上離散波長激光，被分別導入到混光器(2)中混光，標準探測裝置(4)和待校探測裝置(5)分別接收從混光器(2)出射的光。

5.如權利要求4所述的一種光譜響應度校準裝置，其特征在于，所述的激光裝置(3)為包括一個以上固定波長激光器的組合裝置，或者為可輸出多個離散波長激光的單個激光器。

6.如權利要求4所述的一種光譜響應度校準裝置，其特征在于，所述的混光器(2)至少包括第一入光口(2-1)和第二入光口(2-2)，所述的單波長輻射源(1)發出的單色光通過第一入光口(2-1)導入到混光器(2)中，所述的激光裝置(3)發出的離散波長激光通過第二入光口(2-2)導入到混光器(2)中。

7.如權利要求4所述的一種光譜響應度校準裝置，其特征在于，包括監測探測裝置(6)，所述的混光器(2)至少包括第一出光口(2-3)和第二出光口(2-4)，從第一出光口(2-3)出射的光線被待校探測裝置(5)或者標準探測裝置(4)接收，從第二出光口(2-4)出射的光線被監測探測裝置(6)接收。

8.如權利要求7所述的一種光譜響應度校準裝置，其特征在于，包括分叉光纖(8)和切換裝置(9)，所述的一個以上固定波長激光器的組合裝置通過分叉光纖(8)與混光器(2)耦合，所述的切換裝置(9)將不同固定波長激光器發出的光線導入到分叉光纖(8)中，分叉光纖(8)將其接收的光線輸入到混光器(2)中。

9.如權利要求4所述的一種光譜響應度校準裝置，其特征在于，包括調節裝置(7)，所述的調節裝置(7)包括光學導軌(7-1)和支撐平臺(7-2)；所述的待校探測裝置(5)和標準探測裝置(4)通過支撐平臺(7-2)設置在光學導軌(7-1)上，所述的支撐平臺(7-2)主動或者被動地將待校探測裝置(5)或者標準探測裝置(4)切入到測量光路中。

10.如權利要求4所述的一種光譜響應度校準裝置，其特征在于，所述的連續可調的單波長輻射源(1)由單色儀(1-1)和一個以上輻射源(1-2)組成，所述的輻射源(1-2)輻射輸出波段至少覆蓋待校波段。

11.如權利要求4所述的一種光譜響應度校準裝置，其特征在于，所述的標準探測裝置(4)是陷阱探測器或低溫輻射探測器。