[發明專利]一種顆粒壓扁厚度在線測量裝置

有效

• 申請號: 201310548782.8
• 申請日: 2013-10-31
• 公開（公告）號: CN104596429B
• 公開（公告）日: 2018-09-18
• 發明（設計）人: 李強;江虹;黃玉清;吳亞婷;張曉琴;陳春梅
• 申請（專利權）人: 西南科技大學
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種顆粒壓扁厚度在線測量裝置，其特征在于，裝置由光源控制、顆粒測量區域控制、圖像標定裝置、工業攝像機和PC機圖像測量平臺五部分構成。光源控制用于提供測量裝置所需且可調節的LED紅色光源，顆粒測量區域控制用于實現將進料顆粒落點控制在攝像機測量范圍內，圖像標定裝置為顆粒厚度測量尺寸提供參考標準，工業攝像機用于采集高分辨率的顆粒厚度圖像，PC機圖像測量平臺實現顆粒厚度圖像的優化測量與系統控制；結合重心原理和遺傳算法實現顆粒輪廓外接矩形的優化計算，提高在線厚度測量精度；利用重心原理確定顆粒的垂直坐標與水平坐標的初始位置和旋轉中心，根據垂直坐標與水平坐標確定顆粒的初始外接矩形；其次，在由垂直坐標與水平坐標構成的銳角范圍內，利用遺傳算法找到面積最小的外接矩形并作為最終目標；首先，利用重心原理，確定初始外接矩形的旋轉區間，并由初始外接矩形的旋轉區間確定遺傳運算中的編碼和種群規模；其次，利用適應度函數計算個體的適應度；將終止函數與遺傳代數作為判定條件，在不滿足該條件的基礎上，通過執行選擇運算，產生新的旋轉角度群ηi，再通過交叉運算，在旋轉角度群ηi中任意兩個個體交叉產生新的旋轉角度群ηk，再通過變異運算，在旋轉角度群ηk中將每個個體進行變異產生新的旋轉角度群ηr；將遺傳代數從0開始每次運算結束后加1；依次不斷進行上述操作，直到滿足上述條件為止；最終，將求出顆粒目標的最優最小外接矩形；通過顆粒的最優最小外接矩形的寬，將得到顆粒目標的像素厚度。

2.根據權利要求1所述的一種顆粒壓扁厚度在線測量裝置，其特征在于，設計了一種針對微小扁平顆粒的測量區域控制模塊，該模塊能夠有效地將顆粒自動放置在攝像機測量區域。