[發(fā)明專利]電子裝置測(cè)試系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310548620.4
• 申請(qǐng)日: 2013-11-06
• 公開（公告）號(hào): CN104636227A
• 公開（公告）日: 2015-05-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 不公告發(fā)明人
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 西安群豐電子信息科技有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/26
• 分類號(hào): G06F11/26
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1.一種電子裝置測(cè)試系統(tǒng)，用于測(cè)試一電子裝置，所述電子裝置包括一嵌入式控制器，其特征在于：所述系統(tǒng)包括一數(shù)據(jù)模塊及一應(yīng)用模塊，所述數(shù)據(jù)模塊接收一與所述嵌入式控制器相對(duì)應(yīng)的型號(hào)信息，并將所述型號(hào)信息傳送到所述應(yīng)用模塊，所述應(yīng)用模塊包括一解析子模塊解析所述型號(hào)信息并獲得與所述型號(hào)信息對(duì)應(yīng)的查詢命令信息，所述應(yīng)用模塊將所述查詢命令信息發(fā)送給所述嵌入式控制器并讀寫所述嵌入式控制器中的信息，所述嵌入式控制器向所述應(yīng)用模塊返回一測(cè)試結(jié)果，所述應(yīng)用模塊將所述測(cè)試結(jié)果與一標(biāo)準(zhǔn)結(jié)果進(jìn)行比對(duì)生成一測(cè)試報(bào)告，用以完成對(duì)所述電子裝置的測(cè)試。

2.如權(quán)利要求1所述的電子裝置測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：所述電子裝置測(cè)試系統(tǒng)還包括一驅(qū)動(dòng)模塊，所述應(yīng)用模塊向所述驅(qū)動(dòng)模塊發(fā)送所述查詢命令信息，所述驅(qū)動(dòng)模塊將所述查詢命令信息轉(zhuǎn)化成所述嵌入式控制器能夠識(shí)別的查詢命令并發(fā)送給所述嵌入式控制器。