[發明專利]失效安全代碼功能

有效

• 申請號: 201310547075.7
• 申請日: 2013-11-07
• 公開（公告）號: CN103810433B
• 公開（公告）日: 2017-05-17
• 發明（設計）人: T.朗格;T.萊門澤;D.I.佩納魯
• 申請（專利權）人: 英飛凌科技股份有限公司
• 主分類號: G06F21/60
• 分類號: G06F21/60
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司72001
• 代理人: 王岳,胡莉莉

技術領域

本發明涉及失效安全代碼功能。

背景技術

在關于非易失性存儲器（NVM）的現有技術中，數據位惡化是普遍的。將錯誤校正代碼（ECC）機構并入以便檢測和校正經由NVM訪問的應用代碼內的數據位錯誤。ECC機構可以檢測和校正全部單個位錯誤并且檢測某些多個位錯誤。在已經由ECC機構檢測到存儲在NVM內的應用代碼內的不可校正的位錯誤的情形下，不能夠安全地執行應用代碼。

發明內容

根據本發明的一個方面，提供了一種用于系統中的失效安全保護的方法，包括：當從第一存儲裝置檢索應用代碼時，利用第一破壞檢測和校正機構來針對包括惡化數據位的破壞校驗存儲在所述第一存儲裝置內的應用代碼；定位對所述應用代碼的不可校正的破壞，從而提示位于所述第一存儲裝置內的失效安全代碼執行，其中所述失效安全代碼配置為通過失效安全協議來引導系統；利用位于第二存儲裝置內的第二破壞檢測和校正機構來針對破壞校驗所述失效安全代碼；以及執行所述失效安全代碼。

根據本發明的另一個方面，提供了一種配置為提供失效安全保護的系統，包括：第一存儲裝置，所述第一存儲裝置包括非易失性存儲器并且配置為存儲多個數據位，所述數據位包括應用代碼或失效安全代碼；錯誤校正代碼（ECC）硬件，所述錯誤校正代碼（ECC）硬件耦合到所述第一存儲裝置的輸出并且配置為根據從所述第一存儲裝置的檢索來檢測和校正所述應用代碼或所述失效安全代碼內的數據位惡化；第二存儲裝置，所述第二存儲裝置包括只讀存儲器并且配置為存儲所述第一存儲裝置的存儲器完整性校驗，其中所述存儲器完整性校驗配置為驗證存儲在所述第一存儲裝置內的所述多個數據位的正確性；以及控制器，所述控制器配置為訪問所述應用代碼、失效安全代碼或存儲器完整性校驗，并且配置為萬一所述ECC硬件檢測到所述應用代碼或失效安全代碼的惡化則執行所述第一存儲裝置的所述存儲器完整性校驗。

根據本發明的還有另一個方面，提供了一種配置為提供失效安全保護的系統，包括：第一存儲裝置，所述第一存儲裝置包括非易失性存儲器并且配置為存儲多個數據位，所述數據位包括：應用代碼；應用數據，所述應用數據在系統運行期間從所述應用代碼導出；校準代碼，所述校準代碼配置為在系統開啟期間初始化所述應用代碼；以及失效安全代碼，所述失效安全代碼配置為通過失效安全協議引導所述系統；錯誤校正代碼（ECC）硬件，所述錯誤校正代碼（ECC）硬件耦合到所述第一存儲裝置的輸出并且配置為檢測且校正所述應用代碼、所述應用數據、所述校準代碼或所述失效安全代碼內的數據位惡化；以及第二存儲裝置，所述第二存儲裝置包括只讀存儲器并且配置為存儲多個數據位，所述數據位包括：存儲在所述第一存儲裝置內的數據的校驗和；以及失效安全校驗，所述失效安全校驗配置為萬一所述ECC硬件檢測到包括所述應用代碼、所述應用數據或所述校準代碼的所述一個或多個數據位的惡化則訪問和引導所述失效安全代碼。

附圖說明

圖1圖示了包括具有錯誤校正代碼硬件和失效安全代碼的集成電路的系統。

圖2圖示了配置為提供失效安全保護的系統的一些實施例的框圖。

圖3圖示了配置為提供失效安全保護的系統的一些實施例。

圖4A圖示了配置為提供包括冗余校驗和值的失效安全保護的系統的一些實施例。

圖4B圖示了配置為提供包括失效安全代碼的冗余副本與校驗和值的冗余副本的失效安全保護的系統的一些實施例。

圖4C圖示了配置為提供包括失效安全代碼的多個冗余副本的失效安全保護的系統的一些實施例。

圖5圖示了配置為提供包括多個校驗和值的失效安全保護的系統的一些實施例。

圖6圖示了系統中的失效安全保護方法的一些實施例的框圖。

具體實施方式

參照附圖進行本文的說明，其中同樣的附圖標記一般自始至終被利用來指的是同樣的元件，并且其中各種結構不必需按比例繪制。在以下的說明中，出于解釋的目的，陳述了大量特定細節以便促進理解。然而對本領域的普通技術人員顯而易見地是，可以以較小程度的這些特定細節來實施本文描述的一個或多個方面。在其它實例中，以框圖形式示出了已知的結構和裝置以促進理解。