[發(fā)明專利]磁盤驅(qū)動器通過相對溫度評估電流預測主軸電機故障

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• 申請?zhí)枺?/td>: 201310545679.8
• 申請日: 2013-11-06
• 公開（公告）號: CN103811034A
• 公開（公告）日: 2014-05-21
• 發(fā)明（設計）人: Y·黃;C·紀;D·T·潘;C·L·張
• 申請（專利權）人: 西部數(shù)據(jù)技術公司
• 主分類號: G11B19/04
• 分類號: G11B19/04
• 代理公司: 北京紀凱知識產(chǎn)權代理有限公司 11245
• 代理人: 趙蓉民

1.一種磁盤驅(qū)動器，其包括：

磁盤；

在所述磁盤上方被致動的磁頭；

可操作用于旋轉所述磁盤的主軸電機；以及

控制電路，其可操作用于：

生成所述主軸電機的基線電流在溫度范圍內(nèi)的第一基線關系；

測量所述主軸電機的工作電流和相應的工作溫度；以及

基于所述工作電流、所述工作溫度和所述第一基線關系預測所述主軸電機的故障。

2.根據(jù)權利要求1所述的磁盤驅(qū)動器，其中所述控制電路進一步可操作用于：

生成相對所述第一基線關系中對應于所述工作溫度的基線電流的閾值；以及

當所述工作電流超過所述閾值時預測所述主軸電機的故障。

3.根據(jù)權利要求2所述的磁盤驅(qū)動器，其中所述控制電路進一步可操作用于通過向與所述第一基線關系中的工作溫度對應的基線電流添加偏移生成所述閾值。

4.根據(jù)權利要求1所述的磁盤驅(qū)動器，其中所述控制電路進一步可操作用于通過以下方式生成所述第一基線關系：

在第一溫度下測量第一基線電流；

在第二溫度下測量第二基線電流；以及

將所述第一和第二基線電流擬合成曲線。

5.根據(jù)權利要求4所述的磁盤驅(qū)動器，其中所述控制電路可操作用于：

在制造過程期間測量所述第一和第二基線電流；以及

測量實際部署磁盤驅(qū)動器時的工作電流。

6.根據(jù)權利要求1所述的磁盤驅(qū)動器，其中所述控制電路可操作用于在磁盤驅(qū)動器壽命期間，定期測量所述主軸電機的所述工作電流和對應的工作溫度，并預測所述主軸電機的故障。

7.根據(jù)權利要求1所述的磁盤驅(qū)動器，其中所述控制電路可操作用于：

生成所述主軸電機的所述基線電流在第二工作條件范圍內(nèi)的第二基線關系；以及

基于所述工作電流、工作溫度、所述第一基線關系和所述第二基線關系來預測所述主軸電機的故障。

8.根據(jù)權利要求7所述的磁盤驅(qū)動器，其中所述工作條件包括濕度、高度、壓力、主軸電機速度、磁盤驅(qū)動器的取向、磁頭在磁盤上的徑向位置以及磁頭的卸載/裝載條件中的至少一個。

9.一種操作磁盤驅(qū)動器的方法，所述磁盤驅(qū)動器包括在磁盤上方致動的磁頭以及可操作用于旋轉所述磁盤的主軸電機，該方法包括：

生成所述主軸電機的基線電流在溫度范圍內(nèi)的第一基線關系；

測量主軸電機的工作電流和對應的工作溫度；以及

基于所述工作電流、工作溫度和所述第一基線關系預測所述主軸電機的故障。

10.根據(jù)權利要求9所述的方法，其進一步包括：

生成相對所述第一基線關系中對應于所述工作溫度的所述基線電流的閾值；以及

當所述工作電流超過所述閾值時預測所述主軸電機的故障。

11.根據(jù)權利要求10所述的方法，其進一步包括通過向所述第一基線關系中對應于所述工作溫度的所述基線電流添加偏移生成所述閾值。

12.根據(jù)權利要求9所述的方法，其進一步包括通過以下方式生成所述第一基線關系：

在第一溫度下測量第一基線電流；

在第二溫度下測量第二基線電流；以及

將所述第一和第二基線電流擬合成曲線。

13.根據(jù)權利要求12所述的方法，其進一步包括：

在制造過程期間測量所述第一和第二基線電流；以及

測量實際部署磁盤驅(qū)動器時的工作電流。

14.根據(jù)權利要求9所述的方法，其進一步包括在所述磁盤驅(qū)動器的壽命內(nèi)定期測量所述主軸電機的工作電流和對應的工作溫度，以及預測所述主軸電機的故障。

15.根據(jù)權利要求9所述的方法，其進一步包括：

生成所述主軸電機的基線電流在第二工作條件范圍內(nèi)的第二基線關系；以及

基于所述工作電流、所述工作溫度、所述第一基線關系和第二基線關系預測所述主軸電機的故障。

16.根據(jù)權利要求15所述的方法，其中所述工作條件包括濕度、高度、壓力、主軸電機速度、磁盤驅(qū)動器的取向、磁頭在磁盤上方的徑向位置以及磁頭的卸載/裝載條件中的至少一個。