[發(fā)明專利]一種半導(dǎo)體組件的非導(dǎo)電層結(jié)構(gòu)及其制作方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310545537.1 | 申請(qǐng)日: | 2013-11-06 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104637921B | 公開(公告)日: | 2019-03-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 許宗能;李健;杜鵬;鮑東興 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 無錫華潤上華科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L23/532 | 分類號(hào): | H01L23/532;H01L23/528;H01L21/768 |
| 代理公司: | 無錫互維知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32236 | 代理人: | 龐聰雅 |
| 地址: | 214028 江蘇省無*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體 組件 導(dǎo)電 結(jié)構(gòu) 及其 制作方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體組件非導(dǎo)電層結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于:
⑴先在阻擋金屬層上淀積第一非導(dǎo)電性材料層,在第一非導(dǎo)電性材料層上淀積第二非導(dǎo)電性材料層,在該第二非導(dǎo)電性材料層上淀積氮氧化硅層,在該氮氧化硅層上淀積第三非導(dǎo)電性材料層;
⑵在第三非導(dǎo)電性材料層上形成通孔的光刻膠圖形;
⑶以通孔的光刻膠圖形為掩膜,進(jìn)行第一次蝕刻工藝,在第三非導(dǎo)電性材料層、氮氧化硅層中形成通孔;
⑷繼續(xù)以通孔的光刻膠圖形為掩膜,進(jìn)行第二次蝕刻工藝,在所述第二非導(dǎo)電性材料層、第一非導(dǎo)電性材料層中形成通孔;
⑸在通孔中填充導(dǎo)電材料,在第三非導(dǎo)電性材料層上淀積金屬形成介層窗。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體組件非導(dǎo)電層結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于:所述第一非導(dǎo)電性材料層為摻硼的SiO2層,所述第二非導(dǎo)電性材料層為二氧化硅層,所述第三非導(dǎo)電性材料層為二氧化硅層。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體組件非導(dǎo)電層結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于:所述介層窗由金屬鋁或銅或鋁銅合金中的一種構(gòu)成。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體組件非導(dǎo)電層結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于:相鄰所述通孔之間的距離大于相鄰所述介層窗之間的距離。
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