[發明專利]以短孔為基準的幾何要素測量方法

無效

• 申請號: 201310545249.6
• 申請日: 2013-11-05
• 公開（公告）號: CN103604395A
• 公開（公告）日: 2014-02-26
• 發明（設計）人: 趙興龍;馮育敏;朱巖;郝建勇;范宏建;徐敏
• 申請（專利權）人: 西安航空動力控制科技有限公司
• 主分類號: G01B21/00
• 分類號: G01B21/00
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 姚敏杰

1.一種以短孔為基準的幾何要素測量方法，其特征在于：所述以短孔為基準的幾何要素測量方法包括以下步驟：

1）建立測量模型，所述測量模型至少包括第一端面以及第一孔；所述第一孔的出口所在平面與第一端面相重合；

2）利用三坐標測量機在測量模型的第一端面建立第一端面平面粗基準；

3）在步驟2）所建立的第一端面平面粗基準下對第一孔內表面建圓得到圓心，根據圓心建立粗坐標系；

4）在第一端面中以步驟3）所建立的粗坐標系為基準建立第一端面平面精基準，并設定Z方向；

5）在第一端面平面精基準下將第一孔沿Z方向分為N層；在第一孔內沿第一孔的圓周方向對每層進行測試點采集；所述每層中采集得到的測試點是M個；建立第一孔基準軸線的同時得到Z向坐標系；所述N不小于3；所述M不小于4；

6）采用步驟5）中所得到的第一孔基準軸線評價步驟4）中所建立的第一端面平面精基準，得到第一孔對第一端面的跳動。

2.根據權利要求1所述的以短孔為基準的幾何要素測量方法，其特征在于：所述步驟1）中所建立的測量模型還包括與第一端面相對的第二端面；所述第一孔貫穿第一端面以及第二端面。

3.根據權利要求2所述的以短孔為基準的幾何要素測量方法，其特征在于：所述步驟1）中所建立的測量模型還包括第二端面時，所述以短孔為基準的幾何要素測量方法還包括：

7）測量第一孔對第二端面的跳動。

4.根據權利要求3所述的以短孔為基準的幾何要素測量方法，其特征在于：所述步驟7）的具體實現方式是：

7.1）利用三坐標測量機在測量模型的第二端面建立第二端面平面粗基準；

7.2）在步驟7.1）所建立的第二端面平面粗基準下對第一孔內表面建圓得到圓心，根據圓心建立粗坐標系；

7.3）在第二端面中以步驟7.2）所建立的粗坐標系為基準建立第二端面平面精基準，并設定Z方向；

7.4）在第二端面平面精基準下將第一孔沿Z方向分為N層；在第一孔內沿第一孔的圓周方向對每層進行測試點采集；所述每層中采集得到的測試點是M個；建立第一孔基準軸線的同時得到Z向坐標系；所述N不小于3；所述M不小于4；

7.5）采用步驟7.4）中所得到的第一孔基準軸線評價步驟7.3）中所建立的第二端面平面精基準，得到第一孔對第二端面的跳動。

5.根據權利要求4所述的以短孔為基準的幾何要素測量方法，其特征在于：所述步驟1）中所建立的測量模型還包括第二孔；所述第一孔與第二孔相貫通。

6.根據權利要求1或2或3或4或5所述的以短孔為基準的幾何要素測量方法，其特征在于：所述步驟1）中所建立的測量模型還包括第二孔時，所述以短孔為基準的幾何要素測量方法還包括：

8）測量第二孔與第一孔的同軸度。

7.根據權利要求6所述的以短孔為基準的幾何要素測量方法，其特征在于：所述步驟8）的具體實現方式是：

8.1）利用三坐標測量機在測量模型的第一端面建立第一端面平面粗基準；

8.2）在步驟8.1）所建立的第一端面平面粗基準下對第一孔內表面建圓得到圓心，根據圓心建立粗坐標系；

8.3）在第一端面中以步驟8.2）所建立的粗坐標系為基準建立第一端面平面精基準，并設定Z方向；

8.4）在第一端面平面精基準下將第二孔沿Z方向分為N+1層；在第二孔內沿第二孔的圓周方向對每層進行測試點采集；所述每層中采集得到的測試點是M個；建立第二孔基準軸線；所述N不小于3；所述M不小于4；

8.5）采用步驟8.4）中所建立的第二孔基準軸線評價步驟5）中所得到的第一孔基準軸線的跳動，得到第二孔基準軸線對第一孔基準軸線的同軸度。

8.根據權利要求7所述的以短孔為基準的幾何要素測量方法，其特征在于：所述步驟4）的具體實現方式是：

在第一端面中以步驟3）所建立的粗坐標系為基準建立等半徑20個點，根據等半徑20個點所在位置建立平面精基準并設定Z方向。

9.根據權利要求8所述的以短孔為基準的幾何要素測量方法，其特征在于：所述M的值是20。