[發明專利]一種冷原子數檢測裝置

有效

• 申請號: 201310544445.1
• 申請日: 2013-11-05
• 公開（公告）號: CN103558197A
• 公開（公告）日: 2014-02-05
• 發明（設計）人: 徐小斌;路想想;劉紀勛;董全林;潘雄;金靖;宋凝芳
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 北京永創新實專利事務所 11121
• 代理人: 趙文穎

1.一種冷原子數檢測裝置，包括第一法蘭、第一精密螺桿、第二精密螺桿、第一探測器安裝板、第一探測器、第一調節筒、第一鏡筒連接筒、第二透鏡支座、第二平凸透鏡、第二透鏡壓緊片、第一透鏡壓緊片、第一平凸透鏡、第一透鏡支座、第一連接板、第一石英玻璃窗、第四連接板、第四石英玻璃窗、第二連接板、第二石英玻璃窗、第三連接板、第三石英玻璃窗、第三透鏡支座、第三平凸透鏡、第三透鏡壓緊片、第四透鏡壓緊片、第四平凸透鏡、第四透鏡支座、第二調節筒、第二鏡筒連接筒、第二探測器、第二探測器安裝板、第三精密螺桿、第四精密螺桿、第二法蘭、連接支架、反射鏡、反射鏡鏡架、第五精密螺桿、轉接光筒、光學狹縫、第六精密螺桿、擴束光筒、擴束透鏡、1/4波片、第一偏振分束鏡、1/2波片、第二偏振分束鏡、第三法蘭、探測腔；

第一連接板、第二連接板、第三連接板、第四連接板均為中間設有通孔結構；

探測腔上、下、左、右表面分別設有第一石英玻璃窗、第二石英玻璃窗、第三石英玻璃窗、第四石英玻璃窗；

擴束光筒一端連接光學狹縫，另一端設有1/4波片，擴束透鏡位于擴束光筒內，擴束透鏡位于1/4波片的左側，第一偏振分束鏡固定在1/4波片的右側，1/2波片位于第一偏振分束鏡下側，第二偏振分束鏡固定在1/2波片下側；

光學狹縫的中心設有寬度可調的狹縫，光學狹縫另一側固定連接轉接光筒一端；轉接光筒的另一端與第四連接板相連，第四連接板固定在探測腔的右表面；

反射鏡安裝在反射鏡鏡架上，反射鏡能夠調節反射角度，反射鏡通過連接支架連接第三連接板，第三連接板與探測腔連接，反射鏡位于第四石英玻璃窗的左側，表面鍍有增反膜；

在探測腔的上表面和下表面方向分別安裝有熒光收集透鏡組，上下為對稱結構；

在上表面的熒光收集透鏡組合中，第一鏡筒連接筒一端通過第一連接板和探測腔上端相連接，另外一端設有螺紋，與第一調節筒相互耦合；

第一鏡筒連接筒內部設有第一透鏡支座和第二透鏡支座，第一透鏡支座位于靠近探測腔一端，第一平凸透鏡固定在第一透鏡支座上，第二平凸透鏡固定在第二透鏡支座上，第一平凸透鏡的平面向下，凸面向上，第二平凸透鏡的凸面向下，平面向下；

第一探測器安裝在第一探測器安裝板上，第一探測器安裝板位于第一調節筒的頂端；

在下表面的熒光收集透鏡組合中，第二鏡筒連接筒一端通過第二連接板和探測腔下端相連接，另外一端設有螺紋，與第二調節筒相互耦合；

第二鏡筒連接筒內部設有第三透鏡支座和第四透鏡支座，第三透鏡支座位于靠近探測腔一端，第三平凸透鏡固定在第三透鏡支座上，第四平凸透鏡固定在第四透鏡支座上，第三平凸透鏡的平面向上，凸面向下，第四平凸透鏡的凸面向上，平面向下；

第二探測器安裝在第二探測器安裝板上，第二探測器安裝板位于第二調節筒的底端。

2.根據權利要求1所述的一種冷原子數檢測裝置，所述的反射鏡表面的增反膜波長為852nm。

3.根據權利要求1所述的一種冷原子數檢測裝置，所述的第一平凸透鏡通過第一透鏡壓緊片緊固在第一透鏡支座上，第二平凸透鏡通過第二透鏡壓緊片緊固在第二透鏡支座上，第三平凸透鏡通過第三透鏡壓緊片緊固在第三透鏡支座上，第四平凸透鏡通過第四透鏡壓緊片緊固在第四透鏡支座上。

4.根據權利要求1所述的一種冷原子數檢測裝置，所述的第一探測器安裝板通過第一精密螺桿、第二精密螺桿將第一探測器安裝板周向緊固在第一調節筒的頂端，通過第一法蘭將第一探測器安裝板與第一調節筒上端緊固。

5.根據權利要求1所述的一種冷原子數檢測裝置，所述的第二探測器安裝板通過第三精密螺桿、第四精密螺桿將第二探測器安裝板周向緊固在第二調節筒的底端，通過第二法蘭將第二探測器安裝板與第二調節筒底端緊固。

6.根據權利要求1所述的一種冷原子數檢測裝置，所述的第一探測器、第二探測器采用光電二極管，光電二極管的光敏直徑為10mm；第一探測器距離第二平凸透鏡出射平面40～55mm，第二探測器距離第四平凸透鏡出射平面40～55mm。

7.根據權利要求1所述的一種冷原子數檢測裝置，所述的第一平凸透鏡、第二平凸透鏡、第三平凸透鏡、第四平凸透鏡的凸面曲率半徑為55mm，直徑為85mm，焦距為70mm。