[發明專利]一種鏡片表面點狀與線狀雜質的檢測裝置

有效

• 申請號: 201310543198.3
• 申請日: 2013-11-06
• 公開（公告）號: CN103630553A
• 公開（公告）日: 2014-03-12
• 發明（設計）人: 姚紅兵;曾祥波;李俊敏;馬桂殿;鄭學良;顧寄南
• 申請（專利權）人: 江蘇大學
• 主分類號: G01N21/958
• 分類號: G01N21/958;G01N21/94
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種鏡片表面點狀與線狀雜質的檢測裝置，包括支持連接各部件的底座和支架、固定待檢鏡片的夾持裝置、圖像采集裝置、環形光源、氣壓噴頭和控制與處理系統，其特征在于：所述圖像采集裝置垂直設置于待檢鏡片上方；所述圖像采集裝置視場大于鏡片直徑且像素滿足最小雜質分別率要求；所述氣壓噴頭有兩個及以上，分別置于待檢鏡片的上下側；所述氣壓噴頭與氣缸相連；所述控制與處理系統與氣缸開關和圖像采集裝置相連；所述環形光源環繞在鏡片側面四周。

2.根據權利要求1所述的一種鏡片表面點狀與線狀雜質的檢測裝置，其特征在于，所述環形光源由一個環形基座及其內部的環形均勻散射板和多個設于環形基座與環形散射板之間的發光二極管組成，且所述環形光源的寬度W與待檢測鏡片厚度H滿足：1.1H≤W≤2H。

3.根據權利要求1所述的一種鏡片表面點狀與線狀雜質的檢測裝置，其特征在于，所述加持裝置包括帶凹槽的基座和夾緊裝置，所述夾緊裝置由三片及三片以上彈片組成，且彈片間等距分布，所述凹槽的深度h和待檢鏡片的厚度H的關系滿足：0.2H≤h≤0.5H。

4.根據權利要求1所述的一種鏡片表面點狀與線狀雜質的檢測裝置，其特征在于，所述氣壓噴頭置于所述圖像采集裝置的視場和環形光源外，所述氣壓噴頭與待檢鏡片間的夾角a滿足：0度≤a≤20度。

5.根據權利要求1所述的一種鏡片表面點狀與線狀雜質的檢測裝置，其特征在于，所述控制與處理系統用于控制所述圖像采集裝置采集圖像和氣缸噴射氣體，所述控制與處理系統采集氣壓噴頭噴射前的第一圖像和氣壓噴頭噴射后的第二圖像并進行對比判斷是否存在雜質，其處理過程為：

（501）圖像預處理：通過中值濾波對第一圖像和第二圖像進行去噪處理；

（502）圖像分割：通過閾值法或者邊緣檢測圖像分割算法將第一圖像和第二圖像的鏡片從背景中分割出來；

（503）特征提?。禾崛〈貌』螂s質的特征；

（504）疵病和雜質識別：比對第一圖像和第二圖像中疵病或雜質的像點的位置，并對相同位置的像點進行形態匹配，以確定為疵病或雜質；

（505）結果輸出：根據步驟（504）的識別結果。

6.根據權利要求1所述的一種鏡片表面點狀與線狀雜質的檢測裝置，其特征在于，所述氣缸提供潔凈干燥的壓縮空氣以形成高速氣流，且壓縮空氣內含有帶電的氣體離子。