[發明專利]一種在立方晶體背射勞埃照片上標定（111）晶面的方法

有效

• 申請號: 201310541278.5
• 申請日: 2013-11-05
• 公開（公告）號: CN103529066A
• 公開（公告）日: 2014-01-22
• 發明（設計）人: 馬雁;許雁澤;張書玉;陳義學
• 申請（專利權）人: 華北電力大學
• 主分類號: G01N23/20
• 分類號: G01N23/20
• 代理公司: 北京麟保德和知識產權代理事務所(普通合伙) 11428
• 代理人: 周愷豐

技術領域

本發明屬于單晶材料定向標定技術領域，尤其涉及一種在立方晶體背射勞埃照片上標定（111）晶面的方法。

背景技術

勞埃法是進行X射線單晶定向的主要方法之一。勞埃法的一個重要的環節就是對勞埃照片進行有效準確的分析。在文獻1（“單晶體取向測定”，《物理測試》，傅良霹，1986）和文獻2（“應用勞埃法測定晶體的取向和對稱性”，《物理測試》，陳曰中，1986）中，對使用勞埃法進行單晶定向的原理和實施方法進行了詳細的描述。針對立方晶體，在有些情況下，勞埃照片中僅需要測得（111）晶面的位置，如僅要求對（111）晶面的定向切割。文獻3（“鉬單晶的判定及其偏離角的測試”，《理化檢驗-物理分冊》，雷新穎）中提到測量鉬單晶（111）晶面取向偏離角的測試，即只需要考慮到（111）晶面所在位置的情況。

在（111）晶面取向偏離角不大的勞埃照片上標定（111）晶面時，如果按照傳統方法，須使用格氏網和吳氏網對勞埃照片上的衍射斑點進行測量，并通過旋轉操作使得低指數晶帶落到基圓上，再與標準極圖進行對比，標定衍射斑點。再通過反向操作，測出（111）晶面在原來勞埃照片上的位置。這種方法可以標定大多數晶面，但是由于格氏網和吳氏網的最小分度為1或2度，這種測量方法的精度受到很大制約。同時大量的衍射斑點讀數費時費力。

有一款勞埃斑點分析軟件ORIENTEXPRESS也可對勞埃照片進行分析，標定（111）晶面，其優點是：標定時簡便快捷、測量方便且不需要大量的讀數和旋轉操作；其局限是：必須對勞埃照片進行掃描并導入電腦，測量前需獲得的參數較多，如晶體的晶格常數、照片尺寸和像素，并且當采用勞埃法照相時，晶體與底片間的距離測量不準時，該軟件會出現測量不出結果的情況。

發明內容

本發明的目的在于，提供一種在立方晶體背射勞埃照片上標定（111）晶面的方法，用于解決使用傳統標定方法或標定軟件在勞埃照片上標定（111）晶面時存在的不足。

為了實現上述目的，本發明提出的技術方案是，一種在立方晶體背射勞埃照片上標定（111）晶面的方法，其特征是所述方法包括：

步驟1：獲取勞埃照片，測量勞埃照片與晶體間距離h；

步驟2：在勞埃照片的三條低指數晶帶上分別找出一個屬于同一晶面族的衍射斑點；

步驟3：在勞埃照片底部襯上一張坐標紙；

步驟4：調整勞埃照片，使得三個所述衍射斑點中的任意兩個衍射斑點分別位于坐標紙原點和x軸正方向上；

將位于坐標紙原點的衍射斑點記為A點，位于坐標紙x軸正方向上的衍射斑點記為B點，剩下一個衍射斑點記為C點；

步驟5：分別讀取B點、C點和勞埃照片中心點在坐標紙上的坐標；

步驟6：根據如下方程組求解（111）晶面的衍射斑點在坐標紙上的坐標x和y，以及輔助驗算項z；