[發(fā)明專利]硅片雙面拋光工藝在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310539683.3 | 申請日: | 2013-11-04 |
| 公開(公告)號: | CN103567857A | 公開(公告)日: | 2014-02-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 余圖斌;賀賢漢;余卓朋;李星 | 申請(專利權(quán))人: | 上海申和熱磁電子有限公司 |
| 主分類號: | B24B37/10 | 分類號: | B24B37/10;H01L21/304 |
| 代理公司: | 上海順華專利代理有限責(zé)任公司 31203 | 代理人: | 沈履君 |
| 地址: | 200444 上海市寶*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 硅片 雙面 拋光 工藝 | ||
1.硅片雙面拋光工藝,其特征在于,包括如下步驟:
第一步,硅片正面處理,具體為在硅片背面涂覆粘結(jié)劑,首先將硅片粘接在陶瓷板上,去除硅片正面的腐蝕層,然后使用鏟刀使硅片脫離陶瓷板,并清洗去除硅片背面的粘結(jié)劑,最后使用厚度測定裝置對硅片厚度測定;
第二步,硅片背面處理,具體為在硅片正面涂覆粘結(jié)劑,首先將硅片粘接在陶瓷板上,去除硅片背面的腐蝕層,然后使用鏟刀使硅片脫離陶瓷板,并清洗去除硅片正面的粘結(jié)劑,對硅片表面平坦度進行測定,最后使用厚度測定裝置對硅片厚度測定;
第三步,硅片正面最終修整,具體為在硅片背面涂覆粘結(jié)劑,首先將硅片粘接在陶瓷板上,去除硅片正面的腐蝕層,然后使用鏟刀使硅片脫離陶瓷板,并清洗去除硅片背面的粘結(jié)劑和顆粒。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅片雙面拋光工藝,其特征在于,所述粘結(jié)劑為蠟。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅片雙面拋光工藝,其特征在于,所述鏟刀的材質(zhì)為特氟龍。
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