[發(fā)明專利]場截止絕緣柵雙極晶體管的制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310534273.X | 申請日: | 2013-10-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104599965A | 公開(公告)日: | 2015-05-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鐘圣榮;鄧小社;王根毅;周東飛 | 申請(專利權(quán))人: | 無錫華潤上華半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/331 | 分類號(hào): | H01L21/331 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 鄧云鵬 |
| 地址: | 214028 江蘇省無*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 截止 絕緣 雙極晶體管 制備 方法 | ||
1.一種場截止絕緣柵雙極晶體管的制備方法,包括:
提供N型襯底作為場截止層;
將所述襯底的一面作為正面,外延制備出N型的漂移區(qū);
在所述漂移區(qū)內(nèi)和所述漂移區(qū)上制備出場截止絕緣柵雙極晶體管的正面結(jié)構(gòu);
將所述襯底的背面減薄;
在所述襯底的背面注入P型雜質(zhì),并進(jìn)行退火處理;
進(jìn)行背面金屬化處理形成背面金屬集電極。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的場截止絕緣柵雙極晶體管的制備方法,其特征在于,所述襯底為N型FZ襯底。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的場截止絕緣柵雙極晶體管的制備方法,其特征在于,所述將所述襯底的一面作為正面,外延制備出N型的漂移區(qū)的步驟之前,還包括:
去除所述襯底表面的氧化層。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的場截止絕緣柵雙極晶體管的制備方法,其特征在于,所述在所述襯底的背面注入P型雜質(zhì),并進(jìn)行退火處理的步驟中,退火溫度小于或等于450攝氏度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的場截止絕緣柵雙極晶體管的制備方法,其特征在于,所述在所述漂移區(qū)內(nèi)和所述漂移區(qū)上制備出場截止絕緣柵雙極晶體管的正面結(jié)構(gòu)的步驟中,所述正面結(jié)構(gòu)中的柵極結(jié)構(gòu)為平面柵結(jié)構(gòu),所述場截止絕緣柵雙極晶體管是平面柵極場截止絕緣柵雙極晶體管。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的場截止絕緣柵雙極晶體管的制備方法,其特征在于,所述在所述漂移區(qū)內(nèi)和所述漂移區(qū)上制備出場截止絕緣柵雙極晶體管的正面結(jié)構(gòu)的步驟中,所述正面結(jié)構(gòu)中的柵極結(jié)構(gòu)為溝槽柵結(jié)構(gòu),所述場截止絕緣柵雙極晶體管是溝槽柵極場截止絕緣柵雙極晶體管。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的場截止絕緣柵雙極晶體管的制備方法,其特征在于,所述襯底的材質(zhì)為硅、碳化硅、砷化鎵或氮化鎵中的一種。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





